一种斜边MTF测试优化方法及设备技术

技术编号:37135562 阅读:34 留言:0更新日期:2023-04-06 21:34
本申请的目的是提供一种斜边MTF测试优化方法及设备,本申请通过步骤一、从待分析的目标对象中选取到包含斜边数据的分析块;步骤二、对包含斜边数据的分析块进行两侧分别降噪处理,得到降噪处理后的斜边数据;步骤三、采用OECF曲线对降噪处理后的斜边数据进行线性化处理;步骤四、计算线性化处理后的斜边数据的斜率,并按斜率的方向对所述线性化处理后的数据进行投影处理;步骤五、投影过的数据得到ESF并计算LSF后,依序做汉明窗处理和DFT处理;步骤六、对DFT处理后的数据进行局部优化平滑后输出,针对图像噪声,在斜边块两侧根据斜率分布分区域进行去除噪声处理,减少噪声对分析结果造成的偏差,使得评估MTF曲线更加精确。使得评估MTF曲线更加精确。使得评估MTF曲线更加精确。

【技术实现步骤摘要】
一种斜边MTF测试优化方法及设备


[0001]本申请涉及计算机
,尤其涉及一种斜边MTF测试优化方法及设备。

技术介绍

[0002]现有技术中,光学系统调制传递函数(Modulation Transfer Function,MTF)测试是检测镜头分辨率的科学表示方法,相机模组制造商通过MTF曲线可以来评估镜头的性能。测试MTF的方法有很多种,常用的方法是遵从国际标准ISO12233中的测试方法进行测试。如图1所示,为现有技术中的MTF测试方法,包括:
[0003]步骤A:选取到包含斜边数据的分析块。
[0004]步骤B:利用光电转换函数(Opto

electronic conversion function,OECF)曲线对选取到的斜边数据进行线性化处理。
[0005]步骤C:计算斜边数据的斜率,按斜率方向对数据进行投影处理。
[0006]步骤D:投影过的数据得到边缘扩展函数(Edge Spread Function,ESF),然后计算线扩展函数(Line Spread Function本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种斜边MTF测试优化方法,其中,所述方法包括:步骤一、从待分析的目标对象中选取到包含斜边数据的分析块;步骤二、对包含斜边数据的分析块进行两侧分别降噪处理,得到降噪处理后的斜边数据;步骤三、采用光电转换函数OECF曲线对所述降噪处理后的斜边数据进行线性化处理;步骤四、计算线性化处理后的斜边数据的斜率,并按所述斜率的方向对所述线性化处理后的数据进行投影处理;步骤五、投影过的数据得到边缘扩展函数ESF,并计算线扩展函数LSF后,依序做汉明窗处理和离散傅里叶变换DFT处理;步骤六、对DFT处理后的数据进行局部优化平滑后输出。2.根据权利要求1所述的方法,其中,若所述目标对象为待分析图片,其中,所述步骤二、对包含斜边数据的分析块进行两侧分别降噪处理,得到降噪处理后的斜边数据,包括:对包含斜边数据的分析块进行两侧区分,分别得到第一侧分析区域和第二侧分析区域;分别对第一侧分析区域和第二侧分析区域进行噪声计算,得到第一侧分析区域的第一噪声值Na和第二侧分析区域的第二噪声值Nb;将包含斜边数据的分析块中的第一侧分析区域去除所述第一噪声值Na和第二侧分析区域去除所述第二噪声值Nb,以得到降噪处理后的斜边数据。3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述第一侧分析区域的第一噪声值Na的计算公式为:其中,gi为第一侧分析区域中的单个像素点的灰度值,n为第一侧分析区域中的像素点的总个数;ga_ave为第一侧分析区域中的所有像素点的平均灰度值,ga_ave的计算公式为:其中,所述第二侧分析区域的第二噪声值Nb的计算公式为:其中,gj为第二侧分析区域中的单个像素点的灰度值,m为第二侧分析区域中的像素点的总个数;gb_ave为...

【专利技术属性】
技术研发人员:查军
申请(专利权)人:上海研鼎信息技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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