一种存储设备的测试方法及装置制造方法及图纸

本申请公开了一种存储设备的测试方法及装置，该方法包括：通过第一链路接收第一主机提供的指示了指定数据的命令，其中，所述指定数据包括NVMe

【技术实现步骤摘要】
一种存储设备的测试方法及装置


[0001]本申请涉及存储设备
，特别是涉及一种存储设备的测试方法及装置。

技术介绍

[0002]带外管理是对企业级存储设备的一种管理、监控、固件升级等管理和维护方式，与主机系统无关，便于服务器和数据中心对存储设备盘进行运维和管理，现各大储存厂商都在积极推进带外管理标准。为了大一统带外管理，协议标准制定者们基于设备管理协议(Multi
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Channel Transmission Platform，MCTP)定义了一套完整的带外管理协议，即NVMe
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MI(Management Interface)协议。NV Me
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MI协议定义了一套类似于NVMe命令集的管理接口命令，功能更全，扩展性强，甚至还可以模拟发送NVMe管理命令和PCIe命令。
[0003]图1展示了本申请实施例提供的现有NVMe
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MI协议分层的结构示意图。
[0004]如图1所示，NVMe
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MI协议包括应用层、协议层、传输层以及物理层，其中，应用层包括管理应用(如远程控制台)以及管理控制器；协议层包括NVMe管理接口；传输层通过管理组件传输MC TP协议传输数据，底层物理层支持PCIe或者系统管理总线SMBu s/I2C。支持NVMe协议的存储设备带外机制利用管理组件传输协议(MCTP)作为传输，并利用现有的MCTP SMBus/I2C和PCIe绑定作为物理层。命令消息被提交给NVMe子系统中管理端点命令槽中。

技术实现思路

[0005]为了确保存储设备的性能，在存储设备设计过程中，需要对存储设备进行各种测试。对于具有带外管理功能的存储设备除了进行常规的测试，还要进行带外管理功能测试。例如，NVMe
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MI协议相关的带外管理测试。NVMe
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MI协议是通过MCTP协议进行传输，同时底层物理层支持PCIe或者SMBus/I2C。这就要求参与测试的设备(例如主机或者服务器)需要支持NVMe
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MI和MCTP功能。但是，不是所有的设备都能支持NVMe
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MI和MCTP功能。对于不支持NVMe
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MI和MCTP功能的设备其无法来测试存储设备的带外管理功能。本申请希望提供一种测试装置使得设备在不支持NVMe
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MI和MCTP功能情况下也能测试存储设备的带外管理功能的测试方案。
[0006]根据本申请的第一方面，提供了根据本申请第一方面的第一存储设备的测试方法，应用于测试装置，该方法包括：通过第一链路接收第一主机提供的指示了指定数据的命令，其中，所述指定数据包括NVMe
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MI协议所定义的NVMe
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MI命令的内容，所述第一链路不同于NVMe
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MI协议所定义的通信链路；对所述指定数据包进行解析生成NVMe
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MI命令，并通过第二链路将NVMe
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MI命令发送给存储设备以及接收存储设备反馈的所述NVMe
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MI命令的响应数据，其中，所述第二链路为存储设备中系统管理总线SMbus与测试装置中I2C总线之间的SMbus/I2C链路；基于所述第一链路将所述响应数据发送给第一主机。
[0007]根据本申请的第一方面的第一存储设备的测试方法，提供了根据本申请第一方面的第二存储设备的测试方法，所述第一链路为所述测试装置上UART接口与所述第一主机上USB接口之间的UART/USB链路。
[0008]根据本申请的第一方面的第二存储设备的测试方法，提供了根据本申请第一方面的第三存储设备的测试方法，对所述指定数据进行解析获取命令的内容，基于所述命令的内容生成符合NVMe
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MI协议的NVMe
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MI读命令或者NVMe
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MI命令。
[0009]根据本申请的第一方面的第三存储设备的测试方法，提供了根据本申请第一方面的第四存储设备的测试方法，响应于所述指定数据包括NVMe
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MI协议所定义的VPD读取命令或者基础管理命令的内容以及第一指定地址，基于所述内容以及所述第一指定地址生成NVMe
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MI读命令；响应于所述指定数据包括MCTP命令的内容以及第二指定地址，基于所述内容以及所述第二指定地址生成NVMe
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MI写命令。
[0010]根据本申请的第一方面的第三或第四存储设备的测试方法，提供了根据本申请第一方面的第五存储设备的测试方法，若所述NVMe
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MI命令为NVMe
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MI读命令，所述处理器设置其为I2C总线的主端以及读模式；通过所述SMbus/I2C链路将所述NVMe
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MI读命令发送给所述存储设备，以及接收所述存储设备基于所述NVMe
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MI读命令所读取的数据。
[0011]根据本申请的第一方面的第三或第四存储设备的测试方法，提供了根据本申请第一方面的第六存储设备的测试方法，若所述NVMe
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MI命令为NVMe
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MI写命令，设置所述测试装置为I2C总线的主端以及写模式；通过所述SMbus/I2C链路将所述NVMe
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MI写命令发送给所述存储设备；设置所述测试装置为I2C总线的从端以及读模式，并接收所述存储设备反馈的对所述NVMe
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MI写命令处理完成的信息。
[0012]根据本申请的第一方面的第六存储设备的测试方法，提供了根据本申请第一方面的第七存储设备的测试方法，还包括：响应于接收到所述存储设备反馈的对所述NVMe
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MI写命令处理完成的信息；设置所述测试装置为I2C总线的主端以及读模式，将所述处理完成的信息通过所述第一链路发送给所述第一主机。
[0013]根据本申请的第一方面的第一至第七任一存储设备的测试方法，提供了根据本申请第一方面的第八存储设备的测试方法，通过第三链路接收第二主机发送NVMe命令，以及通过第四链路将所述NVMe命令转发给所述存储设备以及接收所述第二存储设备基于所述NVMe命令反馈的响应数据；其中，所述第三链路和所述第四链路均是PCIE链路。
[0014]根据本申请的第一方面的第一至第八任一存储设备的测试方法，提供了根据本申请第一方面的第九存储设备的测试方法，通过第一链路接收第一主机提供的指示了指定数据的命令之前，还包括：初始化所述测试装置，并设置所述测试装置的I2C总线接口工作在中断模式下。
[0015]根据本申请的第二方面，提供了根据本申请第二方面的测试装置，该装置包括：PCIE接口以及处理器；所述测试装置通过所述PCIE接口与存储设备连接；所述处理器包括I2C总线接口，通过所述I2C总线接口与所述存储设备中系统管理总线SMbus接口连接，形成SMbus/I2C链路；以及本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储设备的测试方法，应用于测试装置，其特征在于，包括：通过第一链路接收第一主机提供的指示了指定数据的命令，其中，所述指定数据包括NVMe
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MI协议所定义的NVMe
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MI命令的内容，所述第一链路不同于NVMe
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MI协议所定义的通信链路；对所述指定数据包进行解析生成NVMe
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MI命令，并通过第二链路将NVMe
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MI命令发送给存储设备以及接收存储设备反馈的所述NVMe
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MI命令的响应数据，其中，所述第二链路为存储设备中系统管理总线SMbus与测试装置中I2C总线之间的SMbus/I2C链路；基于所述第一链路将所述响应数据发送给第一主机。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中，所述第一链路为所述测试装置上UART接口与所述第一主机上USB接口之间的UART/USB链路。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，其中，对所述指定数据进行解析获取命令的内容，基于所述命令的内容生成符合NVMe
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MI协议的NVMe
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MI读命令或者NVMe
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MI命令。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，其中，响应于所述指定数据包括NVMe
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MI协议所定义的VPD读取命令或者基础管理命令的内容以及第一指定地址，基于所述内容以及所述第一指定地址生成NVMe
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MI读命令；响应于所述指定数据包括MCTP命令的内容以及第二指定地址，基于所述内容以及所述第二指定地址生成NVMe
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MI写命令。5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，其中，若所述NVMe
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MI命令为NVMe
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MI读命令，所述处理器设置其为I2C总线的主端以及读模式；通...

【专利技术属性】
技术研发人员：何路，郭小平，聂英豪，宋易，
申请(专利权)人：湖南胜云光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：