本发明专利技术提供一种保压可调容性负载绝缘检测方法、装置和设备，属于容性负载微短路检测技术领域，若电压上升阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第一预设阈值，则容性负载在电压上升阶段发生微击穿；若保压阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第二预设阈值，则容性负载在保压阶段发生微击穿；若自由跌落阶段的端电压最大跌落值大于第三预设阈值，则容性负载在自由跌落阶段发生微击穿，通过增加自由跌落阶段的容性负载端电压检测可以有效排查容性负载绝缘阻值偏小但是在电压上升阶段和保压阶段并未发生微击穿或微短路的不良品，通过将第三预设阈值大于第一预设阈值和第二预设阈值，提高自由跌落阶段微击穿和绝缘阻值偏小等缺陷的检测精度和检出率。陷的检测精度和检出率。陷的检测精度和检出率。
【技术实现步骤摘要】
一种保压可调容性负载绝缘检测方法、装置和设备
[0001]本专利技术涉及容性负载微短路检测
，尤其涉及一种保压可调容性负载绝缘检测方法、装置和设备。
技术介绍
[0002]电池短路会导致电池放电异常，甚至安全事故。电池生产过程中对注电解液前电池电芯(简称电芯)短路问题的检测识别至关重要，既可在成品电池阶段避免电池短路导致的放电异常及安全事故，也可提前识别出短路电芯，降低短路电芯的生产加工成本。
[0003]实际生产过程中，除料尘穿刺、隔膜击穿、折极耳等导致的严重短路问题外，存在很大比例的微短路电芯，微短路点是因料尘颗粒、隔膜缺陷以及电芯本身结构特点等导致的，在正负极施加高压激励后微短路点会发生瞬间放电，微短路点被高压放电过程熔断后将恢复为类似正常电芯状态，但该类电芯仍存在微短路放电灼烧缺陷或进一步导致短路的风险，是短路电芯中较难识别的一类。
[0004]中国专利CN114035081A公开了一种准确识别注液前电池电芯微短路问题的测试方法，控制恒流输出为电芯充电，至稳定的测试电压，同时，步骤一，充电电压爬升及电压恒定保压阶段，控制电压采样通道对被测电芯两端电压实时采样并绘制充电过程电压动态变化曲线；步骤二，对电压爬升过程中的采样点进行计算，电压爬升过程中出现的最大电压跌落值Vd1；步骤三，对电压保压过程采样点进行计算，电压爬升至设置电压后到测试时间结束出现的最大电压跌落值Vd2；步骤四，通过捕捉到的Vd1和Vd2跟良品电芯测试的Vd1和Vd2阈值进行对比，识别测试中发生的瞬间微短路放电。但是，由于其只检测充电电压爬升及电压恒定保压阶段的电压动态变化曲线，导致其无法准确排查出容性负载的绝缘阻值偏小带来的容性负载产品的使用故障问题。
技术实现思路
[0005]本专利技术提供一种保压可调容性负载绝缘检测方法、装置和设备，准确检测出容性负载发生的短路、微击穿、绝缘阻抗低等缺陷问题，不同的产品缺陷显示不同的故障类型，客户可以根据检测出容性负载缺陷问题类型对应的产品不良率有针对性的改善生产流程。
[0006]本专利技术提供的具体技术方案如下：
[0007]一方面，本专利技术提供的一种保压可调容性负载绝缘检测方法包括：
[0008]分别获取电压上升阶段、保压阶段和自由跌落阶段的容性负载端电压最大跌落值；
[0009]若电压上升阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第一预设阈值，则容性负载在电压上升阶段发生微击穿；
[0010]若保压阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第二预设阈值，则容性负载在保压阶段发生微击穿；
[0011]若自由跌落阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第三预设阈值，则容性负载在
自由跌落阶段发生微击穿；其中，所述第三预设阈值大于所述第一预设阈值和所述第二预设阈值。
[0012]可选的，所述第三预设阈值的大小与所述电压上升阶段的最大电压和所述自由跌落阶段的持续时间长度之间均呈正相关关系。
[0013]可选的，所述第三预设阈值等于所述电压上升阶段的最大电压与容性负载自身等效绝缘阻抗的比值乘以所述自由跌落阶段的持续时间长度和权重系数之后的乘积值。
[0014]可选的，若电压上升阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第一预设阈值，则容性负载在电压上升阶段发生微击穿包括：
[0015]若电压上升阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第一预设阈值，则获取所述电压上升阶段结束时刻的容性负载端电压数值；
[0016]若所述电压上升阶段结束时刻的容性负载端电压数值小于预设电压值，则容性负载在所述电压上升阶段发生短路；
[0017]若所述电压上升阶段结束时刻的容性负载端电压数值等于预设电压值，则容性负载在所述电压上升阶段发生微短路，其中，所述预设电压值与所述保压阶段容性负载的最大端电压数值相同。
[0018]可选的，若自由跌落阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第三预设阈值，则容性负载在自由跌落阶段发生微击穿具体包括：
[0019]若自由跌落阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第三预设阈值，则判断所述自由跌落阶段的容性负载端电压变化曲线是否线性跌落；
[0020]若所述自由跌落阶段的容性负载端电压变化曲线为线性跌落，则容性负载在自由跌落阶段未发生微击穿；
[0021]若所述自由跌落阶段的容性负载端电压变化曲线为非线性跌落，则容性负载在自由跌落阶段发生微击穿。
[0022]可选的，若自由跌落阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第三预设阈值，则容性负载在自由跌落阶段发生微击穿具体包括：
[0023]若自由跌落阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第三预设阈值，则获取所述自由跌落阶段的容性负载端电压变化曲线的最大斜率；
[0024]若最大斜率不大于预设斜率阈值，则容性负载在自由跌落阶段未发生微击穿；
[0025]若最大斜率大于预设斜率阈值，则容性负载在自由跌落阶段发生微击穿。
[0026]可选的，所述电压上升阶段的持续时间长度小于所述保压阶段的持续时间长度且小于所述自由跌落阶段的持续时间长度，所述自由跌落阶段的持续时间长度大于所述保压阶段的持续时间长度。
[0027]可选的，所述电压上升阶段的持续时间长度始终小于100ms，所述第三预设阈值的大小与所述电压上升阶段的最大电压呈正相关关系。
[0028]另一方面，本专利技术还提供一种保压可调容性负载绝缘检测装置包括：
[0029]获取模块，用于分别获取电压上升阶段、保压阶段和自由跌落阶段的容性负载端电压最大跌落值；
[0030]第一判断模块，用于若电压上升阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第一预设阈值，则容性负载在电压上升阶段发生微击穿；
[0031]第二判断模块，用于若保压阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第二预设阈值，则容性负载在保压阶段发生微击穿；
[0032]第三判断模块，用于若自由跌落阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第三预设阈值，则容性负载在自由跌落阶段发生微击穿；其中，所述第三预设阈值大于所述第一预设阈值和所述第二预设阈值。
[0033]另一方面，本申请提供一种保压可调容性负载绝缘检测设备，包括：处理器，以及与所述处理器通信连接的存储器；
[0034]所述存储器存储计算机执行指令；
[0035]所述处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，以实现上述的保压可调容性负载绝缘检测方法。
[0036]另一方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，所述计算机执行指令被处理器执行时用于实现上述的保压可调容性负载绝缘检测方法。
[0037]本专利技术的有益效果如下：
[0038]本申请的一种保压可调容性负载绝缘检测方法分别获取电压上升阶段、保压阶段和自由跌落阶段的容性负载端电压最大跌落值；若电压上升阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第一预设阈值，则容性负载在电压上升阶段发生微击穿；若保压阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种保压可调容性负载绝缘检测方法，其特征在于，所述保压可调容性负载绝缘检测方法包括：分别获取电压上升阶段、保压阶段和自由跌落阶段的容性负载端电压最大跌落值；若电压上升阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第一预设阈值，则容性负载在电压上升阶段发生微击穿；若保压阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第二预设阈值，则容性负载在保压阶段发生微击穿；若自由跌落阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第三预设阈值，则容性负载在自由跌落阶段发生微击穿；其中，所述第三预设阈值大于所述第一预设阈值和所述第二预设阈值。2.根据权利要求1所述的保压可调容性负载绝缘检测方法，其特征在于，所述第三预设阈值的大小与所述电压上升阶段的最大电压和所述自由跌落阶段的持续时间长度之间均呈正相关关系。3.根据权利要求2所述的保压可调容性负载绝缘检测方法，其特征在于，所述第三预设阈值等于所述电压上升阶段的最大电压与容性负载自身等效绝缘阻抗的比值乘以所述自由跌落阶段的持续时间长度和权重系数之后的乘积值。4.根据权利要求1所述的保压可调容性负载绝缘检测方法，其特征在于，若电压上升阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第一预设阈值，则容性负载在电压上升阶段发生微击穿包括：若电压上升阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第一预设阈值，则获取所述电压上升阶段结束时刻的容性负载端电压数值；若所述电压上升阶段结束时刻的容性负载端电压数值小于预设电压值，则容性负载在所述电压上升阶段发生短路；若所述电压上升阶段结束时刻的容性负载端电压数值等于预设电压值，则容性负载在所述电压上升阶段发生微短路，其中，所述预设电压值与所述保压阶段容性负载的最大端电压数值相同。5.根据权利要求2所述的保压可调容性负载绝缘检测方法，其特征在于，若自由跌落阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第三预设阈值，则容性负载在自由跌落阶段发生微击穿具体包括：若自由跌落阶段的容性负载端电压最大跌落值大于第三预设阈值，则判断所述自由跌落阶段的容性负载端电压变化曲线是否线性跌落；若所述自由跌落阶段的容性负载端电压变化曲线为线性跌落，则容性负载在自由跌落阶...
【专利技术属性】
技术研发人员：张帅，李玺，单士忠，
申请(专利权)人：青岛艾测科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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