偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法及系统技术方案

本发明专利技术公开偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法及系统。所述联动方法包括：基于前制程坐标系的偏光膜RTP前制程步骤S1、基于制程坐标系的偏光膜RTP制程步骤S2。所述联动系统包括：基于前制程坐标系的偏光膜RTP前制程子系统、基于制程坐标系的偏光膜RTP制程子系统。所述偏光膜RTP前制程子系统具有原卷检测装置、隐形二维码标记喷印装置、原卷裁切装置。所述偏光膜RTP制程子系统具有裁切卷检测装置、显影扫描装置、裁切卷裁切装置；本发明专利技术的有益效果在于：基于关联后的原卷缺陷表及裁切卷缺陷表对偏光膜裁切卷进行裁切，裁切策略更为合理。理。理。

【技术实现步骤摘要】
偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法及系统


[0001]本专利技术涉及偏光膜RTP（Roll To Panel的缩写，卷到面板），特别地是，偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法及系统。

技术介绍

[0002]偏光膜RTP前制程包括：提供一偏光膜原卷；对所述偏光膜原卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜原卷的原卷缺陷表（Defectmap1）；对所述偏光膜原卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切卷。
[0003]偏光膜RTP制程包括：选取一偏光膜裁切卷；对所述偏光膜裁切卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜裁切卷的裁切卷缺陷表（Defectmap2）；提供目标面板并且将所述目标面板与所述偏光膜裁切片相贴合；对所述目标面板进行缺陷视觉检测，得到关于所述目标面板的面板缺陷表（Defectmap3）；根据所述面板缺陷表（Defectmap3），对所述目标面板进行分拣。
[0004]所述偏光膜RTP制程的缺点在于：所述偏光膜裁切卷的裁切策略仅参考到所述裁切卷缺陷表（Defectmap2），而未参考到所述原卷缺陷表（Defectmap1），影响裁切判断效果，造成面板成品不良率略高的问题。
[0005]出现上述缺点的原因在于：所述偏光膜裁切卷从所述偏光膜RTP前制程到所述偏光膜RTP制程，需要经过下料、运输、上料等环节，期间所述偏光膜裁切卷的卷头、卷尾存在不确定长度的物料损失，造成所述原卷缺陷表（Defectmap1）、所述裁切卷缺陷表（Defectmap2）两者的坐标系无法统一。

技术实现思路
r/>[0006]本专利技术的目的在于要解决现有技术中偏光膜RTP制程面板成品不良率略高的问题，提供一种新型的偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法及系统。
[0007]为了实现上述目的，本专利技术的技术方案如下：偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法，包括：基于前制程坐标系的偏光膜RTP前制程步骤S1、基于制程坐标系的偏光膜RTP制程步骤S2。
[0008]所述偏光膜RTP前制程步骤S1包括：步骤S11，提供一偏光膜原卷；步骤S12，对所述偏光膜原卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜原卷的原卷缺陷表；步骤S13，对所述偏光膜原卷进行隐形二维码标记喷印；步骤S14，对所述偏光膜原卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切卷；其中，所述隐形二维码标记作为定位标记及信息标记分别关联于所述前制程坐标系、所述偏光膜裁切卷的身份信息及所述原卷缺陷表。
[0009]所述偏光膜RTP制程S2包括：
步骤S21，选取一偏光膜裁切卷；步骤S22，对所述偏光膜裁切卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜裁切卷的裁切卷缺陷表；步骤S23，对所述偏光膜裁切卷进行显影扫描，得到关于所述偏光膜裁切卷的所述原卷缺陷表，基于所述隐形二维码标记，所述原卷缺陷表与所述制程坐标系建立关联；步骤S24，根据关联后的所述原卷缺陷表及所述裁切卷缺陷表，对所述偏光膜裁切卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切片。
[0010]作为偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法的优选方案，所述偏光膜RTP制程S2进一步包括：步骤S25，提供目标面板并且将所述目标面板与所述偏光膜裁切片相贴合；步骤S26，对所述目标面板进行缺陷视觉检测，得到关于所述目标面板的面板缺陷表；步骤S27，根据所述面板缺陷表，对所述目标面板进行分拣。
[0011]作为偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法的优选方案，所述偏光膜RTP制程S2再进一步包括：步骤S28，比较关联所述制程坐标系的所述原卷缺陷表、所述裁切卷缺陷表、所述面板缺陷表，确定所述偏光膜RTP前制程、所述偏光膜RTP制程中存在的工艺隐藏问题，进而优化偏光膜RTP前制、偏光膜RTP制程的工艺流程。
[0012]作为偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法的优选方案，所述工艺隐藏问题包括：所述步骤S12是否存在过度检测情形、追溯所述面板缺陷表中缺陷的引起来源中的至少一者。
[0013]作为偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法的优选方案，所述原卷缺陷表包括：原卷编号、缺陷编号、缺陷位置、缺陷类型、缺陷大小中的至少一者。
[0014]作为偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法的优选方案，所述裁切卷缺陷表包括：裁切卷编号、缺陷编号、缺陷位置、缺陷类型、缺陷大小中的至少一者。
[0015]作为偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法的优选方案，所述面板缺陷表包括：面板编号、缺陷编号、缺陷位置、缺陷类型、缺陷大小中的至少一者。
[0016]作为偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法的优选方案，所述隐形二维码标记所使用的是隐形墨水，不会影响膜材外观及质量。
[0017]本专利技术还提供偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动系统，用于实现所述的联动方法包括：基于前制程坐标系的偏光膜RTP前制程子系统、基于制程坐标系的偏光膜RTP制程子系统；所述偏光膜RTP前制程子系统具有原卷检测装置、隐形二维码标记喷印装置、原卷裁切装置；所述原卷检测装置被配置成：对所述偏光膜原卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜原卷的原卷缺陷表；所述隐形二维码标记喷印装置被配置成：对所述偏光膜原卷进行隐形二维码标记喷印；所述原卷裁切装置被配置成：对所述偏光膜原卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切卷；所述偏光膜RTP制程子系统具有裁切卷检测装置、显影扫描装置、裁切卷裁切装置；所述裁切卷检测装置被配置成：对所述偏光膜裁切卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜裁切卷的裁切卷缺陷表；所述显影扫描装置被配置成：对所述偏光膜裁切卷进行显影扫描，得到关于所述偏光膜裁切卷的所述原卷缺陷表，基于所述隐形二维码标记，
所述原卷缺陷表与所述制程坐标系建立关联；所述裁切卷裁切装置被配置成：根据关联后的所述原卷缺陷表及所述裁切卷缺陷表，对所述偏光膜裁切卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切片。
[0018]作为偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动系统的优选方案，所述偏光膜RTP制程子系统还具有面板偏贴装置、面板检测装置、面板分拣装置；所述面板偏贴装置被配置成：提供目标面板并且将所述目标面板与所述偏光膜裁切片相贴合；所述面板检测装置被配置成：对所述目标面板进行缺陷视觉检测，得到关于所述目标面板的面板缺陷表；所述面板分拣装置被配置成：根据所述面板缺陷表，对所述目标面板进行分拣。
[0019]与现有技术相比，本专利技术的有益效果至少在于：基于关联后的所述原卷缺陷表（Defectmap1）及所述裁切卷缺陷表（Defectmap2）对所述偏光膜裁切卷进行裁切，裁切策略更为合理；且所述偏光膜RTP前制程与所述偏光膜RTP制程两者形成一良性的闭环控制系统，优化每个工艺段参数之后，可以更好地提升产品良率、降低产品损耗率，最终闭环提升企业效益。
[0020]除了上面所描述的本专利技术解决的技术问题、构成技术方案的技术特征以及由这些技术方案的技术特征所带来的有益效果之外，本专利技术所能解决的其他技术问题、技术方案中包含的其他技术特征以及这些技术特征带来的有益效果，将连接本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法，其特征在于，包括：基于前制程坐标系的偏光膜RTP前制程步骤S1、基于制程坐标系的偏光膜RTP制程步骤S2；所述偏光膜RTP前制程步骤S1包括：步骤S11，提供一偏光膜原卷；步骤S12，对所述偏光膜原卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜原卷的原卷缺陷表；步骤S13，对所述偏光膜原卷进行隐形二维码标记喷印；步骤S14，对所述偏光膜原卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切卷；其中，所述隐形二维码标记作为定位标记及信息标记分别关联于所述前制程坐标系、所述偏光膜裁切卷的身份信息及所述原卷缺陷表；所述偏光膜RTP制程S2包括：步骤S21，选取一偏光膜裁切卷；步骤S22，对所述偏光膜裁切卷进行缺陷视觉检测，得到关于所述偏光膜裁切卷的裁切卷缺陷表；步骤S23，对所述偏光膜裁切卷进行显影扫描，得到关于所述偏光膜裁切卷的所述原卷缺陷表，基于所述隐形二维码标记，所述原卷缺陷表与所述制程坐标系建立关联；步骤S24，根据关联后的所述原卷缺陷表及所述裁切卷缺陷表，对所述偏光膜裁切卷进行裁切，得到若干偏光膜裁切片。2.根据权利要求1所述的偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法，其特征在于，所述偏光膜RTP制程S2进一步包括：步骤S25，提供目标面板并且将所述目标面板与所述偏光膜裁切片相贴合；步骤S26，对所述目标面板进行缺陷视觉检测，得到关于所述目标面板的面板缺陷表；步骤S27，根据所述面板缺陷表，对所述目标面板进行分拣。3.根据权利要求2所述的偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法，其特征在于，所述偏光膜RTP制程S2再进一步包括：步骤S28，比较关联所述制程坐标系的所述原卷缺陷表、所述裁切卷缺陷表、所述面板缺陷表，确定所述偏光膜RTP前制程、所述偏光膜RTP制程中存在的工艺隐藏问题，进而优化偏光膜RTP前制、偏光膜RTP制程的工艺流程。4.根据权利要求3所述的偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法，其特征在于，所述工艺隐藏问题包括：所述步骤S12是否存在过度检测情形、追溯所述面板缺陷表中缺陷的引起来源中的至少一者。5.根据权利要求1至4中任意一项所述的偏光膜RTP前制程与RTP制程的联动方法，其特征在于，所述原卷缺陷表包括：原卷编号、缺陷编号、缺陷位置、缺陷类型、缺陷大小中的至少...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈礼诚，朱兆杰，伊汀，赵日华，任涛涛，王石磊，张鑫，石倩，
申请(专利权)人：杭州利珀科技有限公司，
类型：发明
国别省市：