求取用于待借助于磁共振设施记录的测试测量的测试位置制造技术

根据本发明专利技术的用于求取用于待借助于磁共振设施记录的测试测量的至少一个测试位置的方法包括如下步骤：

【技术实现步骤摘要】
Simultaneous Multislice Echo Planar Imaging With Reduced g
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Factor Penalty”，Magnetic Resonance in Medicine 67,2012,第1210
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1224页中所描述，其中在最后提及的标题中提及的g因数(“g
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factor”，“几何因数”的简称)是用于所使用的不同的接收线圈的可分离性的量度。
[0006]作为进一步减小所述g因数的方法，对于CAIPIRINHA方法还已知的是，改变在k空间中的读出轨迹，从而改变采集模式，使得沿着波形或螺旋形伸展的读出轨迹检测测量数据。这例如在US8981776B2中，在Bilgic等人的文章“Wave
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CAIPI for Highly Accelerated 3D Imaging”，Magnetic Resonance in Medicine 73:2152
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2162(2015)中所描述，或对于二维(2D)成像在Chen等人的“Self<br/>‑
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于求取用于待借助于磁共振设施记录的测试测量的至少一个测试位置的方法，所述方法包括如下步骤：
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记录测试图像(B)，
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基于所述测试图像(B)选择至少一个测试位置(P，P1，P1'，P2)。2.根据权利要求1所述的方法，其中将第一测试位置(P1)根据预设的第一测试栅格在所述测试图像(B)中定位。3.根据权利要求2所述的方法，其中预设的所述第一测试栅格均匀地覆盖所述测试图像(B)的目标体积。4.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其中选择所述测试位置(P，P1，P1'，P2)包括根据基于所述测试图像(B)在所述测试位置(P，P1，P1'，P2)处的强度值的关联函数(M)将所述测试位置(P，P1，P1'，P2)与允许的测试位置和禁止的测试位置相关联。5.根据权利要求4所述的方法，其中所述关联函数(M)考虑最小强度值。6.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其中选择测试位置(P，P1，P1'，P2)包括根据与所述测试图像(B)在相应的测试位置处的强度值相关的加权因数对测试位置(P，P1，P1'，P2)进行加权，其中借助加权因数零的加权对应于禁止所述测试位置(P，P1，P1'，P2)。7.根据权利要求4至6中任一项所述的方法，其中禁止的测试位置、尤其禁止的第一测试位置(P1)移动到第二测试位置(P2)上，所述第二测试位置(P2)根据所述关联函数(M)与允许的测试位置或禁止的测试位置相关联。8.根据权利要求7所述的方法，其中对于所述第一测试栅格的行或列逐行地或逐列地移动第一测试位置(P1)。9.根据权利要求7所述的方法，其中各个禁止的第一测试位置(P1)在所述测试图像(B)的至少一个空间方向(x,y)上朝向所述测试图像(B)的图像中心的方向移动到第二测试位置(P2)上，或移动到在所述测试图像(B)中具有期望的...

【专利技术属性】
技术研发人员：马里奥，
申请(专利权)人：西门子医疗有限公司，
类型：发明
国别省市：