断路器测试电流换相装置及断路器测试设备制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于断路器测试技术领域，公开了一种断路器测试电流换相装置及断路器测试设备。该断路器测试电流换相装置包括待测断路器、电源和开关组件，开关组件包括K1、K2、K3、K4、K5、K6、K7、K8、K9和K10，待测断路器包括A极、B极、C极和N极，电源包括电源正极Vcc和电源负极0V。上述断路器测试电流换相装置通过控制K1、K2、K3、K4、K5、K6、K7、K8、K9以及K10的开闭，能够实现A相测试回路、B相测试回路、C相测试回路、N相测试回路、AB相测试回路、AC相测试回路、BC相测试回路、AN相测试回路、BN相测试回路、CN相测试回路、ABC相测试回路和ABCN相测试回路之间的任意切换，进而实现待测断路器任意相的测试，结构简单，工作可靠。工作可靠。工作可靠。

【技术实现步骤摘要】
断路器测试电流换相装置及断路器测试设备


[0001]本技术涉及断路器测试
，尤其涉及一种断路器测试电流换相装置及断路器测试设备。

技术介绍

[0002]塑壳断路器产品出厂前需要进行瞬时、延时校验，即需要测试产品A相、B相、C相、N相、AB相、AC相、BC相、AN相、BN相、CN相、ABC相、ABCN相中任意相。传统的校验方法分为手动测试和半自动测试，其中手动测试通过软连接线直接将恒流源出线端连接断路器对应相触头，并用螺栓、螺母紧固，不需要专用夹具装置，人工手动完成断路器相序切换，但人工操作工作量大，工作效率低，不适用于批量生产。半自动测试方式中，通过多路软连接线+气缸切换相序的方式实现断路器自动换相，但是仅限于有限相序的自动切换，无法完成任意相序切换，如只能完成AB相、AC相、ABC相、ABCN相的自动切换。
[0003]因此，亟需提出一种断路器测试电流换相装置及断路器测试设备，以解决上述问题。

技术实现思路

[0004]根据本技术的一个方面，本技术提供一种断路器测试电流换相装置，能够实现断路器任意相的测试，结构简单，工作可靠。
[0005]为达此目的，本技术采用以下技术方案：
[0006]断路器测试电流换相装置，包括待测断路器、电源和开关组件，所述开关组件包括K1、K2、K3、K4、K5、K6、K7、K8、K9和K10，所述待测断路器包括A极、B极、C极和N极，所述电源包括电源正极Vcc和电源负极0V；
[0007]所述电源正极Vcc、所述K1、所述A极、所述K6、所述K10和所述电源负极0V依次串联形成A相测试回路；
[0008]所述电源正极Vcc、所述K2、所述B极、所述K6、所述K10和所述电源负极0V依次串联形成B相测试回路；
[0009]所述电源正极Vcc、所述K3、所述C极、所述K10和所述电源负极0V依次串联形成C相测试回路；
[0010]所述电源正极Vcc、所述K4、所述N极、所述K10和所述电源负极0V依次串联形成N相测试回路；
[0011]所述K5一端连接于所述K2与所述B极之间，另一端连接于所述K3与所述C极之间，所述K6一端同时连接于所述A极远离所述K1一端与所述B极远离所述K2一端，另一端同时连接于所述C极与所述K10之间以及所述N极与所述K10之间，所述K7一端连接于所述K4与所述N极之间，另一端连接于所述电源负极0V，所述K8一端连接于所述K3与所述C极之间，另一端连接于所述电源负极0V，所述K9一端连接于所述K2和所述B极之间，另一端连接于所述电源负极0V；
[0012]单独闭合所述K1和所述K9，形成所述电源正极Vcc、所述K1、所述A极、所述B极、所述K9和所述电源负极0V依次串联的AB相测试回路；
[0013]单独闭合所述K1、所述K6和所述K8，形成所述电源正极Vcc、所述K1、所述A极、所述K6、所述C极、所述K8和所述电源负极0V依次串联的AC相测试回路；
[0014]单独闭合所述K2、所述K6和所述K8，形成所述电源正极Vcc、所述K2、所述B极、所述K6、所述C极、所述K8和所述电源负极0V依次串联的BC相测试回路；
[0015]单独闭合所述K1、所述K6和所述K7，形成所述电源正极Vcc、所述K1、所述A极、所述K6、所述N极、所述K7和所述电源负极0V依次串联的AN相测试回路；
[0016]单独闭合所述K2、所述K6和所述K7，形成所述电源正极Vcc、所述K2、所述B极、所述K6、所述N极、所述K7和所述电源负极0V依次串联的BN相测试回路；
[0017]单独闭合所述K3和所述K7，形成所述电源正极Vcc、所述K3、所述C极、所述N极、所述K7和所述电源负极0V依次串联的CN相测试回路；
[0018]单独闭合所述K1、所述K5和所述K10，形成所述电源正极Vcc、所述K1、所述A极、所述B极、所述K5、所述C极、所述K10和所述电源负极0V依次串联的ABC相测试回路；
[0019]单独闭合所述K1、所述K5和所述K7，形成所述电源正极Vcc、所述K1、所述A极、所述B极、所述K5、所述C极、所述N极、所述K7和所述电源负极0V依次串联的ABCN相测试回路。
[0020]可选地，所述待测断路器与所述开关组件之间通过连接排硬连接；和/或：
[0021]所述电源与所述开关组件之间通过连接排硬连接。
[0022]可选地，所述连接排为铜排。
[0023]可选地，还包括：
[0024]主支架，包括层叠设置的第一层和第二层，所述K1、所述K2、所述K3和所述K4设置在所述第二层，所述K7、所述K8和所述K9设置在所述第一层；
[0025]第一辅支架和第二辅支架，分别设置在所述主支架的两侧，所述A极包括A1和A2，所述B极包括B1和B2，所述C极包括C1和C2，所述N极包括N1和N2，所述K5设置在所述第一辅支架上，所述A1、所述B1、所述C1和所述N1设置在所述K5的上方，所述K6和所述K10均设置在所述第二辅支架上，所述A2、所述B2、所述C2和所述N2均设置在所述K6和所述K10的上方。
[0026]可选地，所述K1包括：
[0027]绝缘底板；
[0028]静触头，所述静触头设有两个，两个所述静触头间隔设置在所述绝缘底板上；
[0029]安装架，设置在所述绝缘底板上；
[0030]驱动件，固定端设置在所述安装架上；
[0031]动触头组件，包括动触头，所述驱动件的输出端与所述动触头组件驱动连接，所述驱动件能够驱动所述动触头组件沿竖直方向运动，以使所述动触头的两端分别与两个所述静触头接触或分离，当所述动触头的两端分别与两个所述静触头接触时，两个所述静触头之间导通，此时，所述K1闭合，当所述动触头的两端分别与两个所述静触头分离时，两个所述静触头之间断开，此时，所述K1断开。
[0032]可选地，所述动触头组件还包括：
[0033]连接板，与所述驱动件的输出端相连；
[0034]导向柱，沿竖直方向滑动穿设于所述连接板，所述导向柱的一端与所述动触头固
定连接；
[0035]复位弹性件，套设在所述导向柱外，并位于所述动触头与所述连接板之间。
[0036]可选地，所述动触头组件还包括：
[0037]护板，与所述连接板相连，并位于所述动触头的两侧。
[0038]可选地，所述动触头与所述静触头接触的面上设有银点；和/或：
[0039]所述静触头与所述动触头接触的面上设有银点。
[0040]可选地，所述动触头设有多个，多个所述动触头并排设置。
[0041]根据本技术的另一个方面，本技术提供一种断路器测试设备，用于测试断路器的瞬时动作特性或延时动作特性，包括上述任一技术方案所述的断路器测试电流换相装置和控制器，控制器能够控制各测试回路切换导通。
[0042]本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.断路器测试电流换相装置，其特征在于，包括待测断路器、电源和开关组件，所述开关组件包括K1(301)、K2(302)、K3(303)、K4(304)、K5(305)、K6(306)、K7(307)、K8(308)、K9(309)和K10(310)，所述待测断路器包括A极、B极、C极和N极，所述电源包括电源正极Vcc(210)和电源负极0V(220)；所述电源正极Vcc(210)、所述K1(301)、所述A极、所述K6(306)、所述K10(310)和所述电源负极0V(220)依次串联形成A相测试回路；所述电源正极Vcc(210)、所述K2(302)、所述B极、所述K6(306)、所述K10(310)和所述电源负极0V(220)依次串联形成B相测试回路；所述电源正极Vcc(210)、所述K3(303)、所述C极、所述K10(310)和所述电源负极0V(220)依次串联形成C相测试回路；所述电源正极Vcc(210)、所述K4(304)、所述N极、所述K10(310)和所述电源负极0V(220)依次串联形成N相测试回路；所述K5(305)一端连接于所述K2(302)与所述B极之间，另一端连接于所述K3(303)与所述C极之间，所述K6(306)一端同时连接于所述A极远离所述K1(301)一端与所述B极远离所述K2(302)一端，另一端同时连接于所述C极与所述K10(310)之间以及所述N极与所述K10(310)之间，所述K7(307)一端连接于所述K4(304)与所述N极之间，另一端连接于所述电源负极0V(220)，所述K8(308)一端连接于所述K3(303)与所述C极之间，另一端连接于所述电源负极0V(220)，所述K9(309)一端连接于所述K2(302)和所述B极之间，另一端连接于所述电源负极0V(220)；单独闭合所述K1(301)和所述K9(309)，形成所述电源正极Vcc(210)、所述K1(301)、所述A极、所述B极、所述K9(309)和所述电源负极0V(220)依次串联的AB相测试回路；单独闭合所述K1(301)、所述K6(306)和所述K8(308)，形成所述电源正极Vcc(210)、所述K1(301)、所述A极、所述K6(306)、所述C极、所述K8(308)和所述电源负极0V(220)依次串联的AC相测试回路；单独闭合所述K2(302)、所述K6(306)和所述K8(308)，形成所述电源正极Vcc(210)、所述K2(302)、所述B极、所述K6(306)、所述C极、所述K8(308)和所述电源负极0V(220)依次串联的BC相测试回路；单独闭合所述K1(301)、所述K6(306)和所述K7(307)，形成所述电源正极Vcc(210)、所述K1(301)、所述A极、所述K6(306)、所述N极、所述K7(307)和所述电源负极0V(220)依次串联的AN相测试回路；单独闭合所述K2(302)、所述K6(306)和所述K7(307)，形成所述电源正极Vcc(210)、所述K2(302)、所述B极、所述K6(306)、所述N极、所述K7(307)和所述电源负极0V(220)依次串联的BN相测试回路；单独闭合所述K3(303)和所述K7(307)，形成所述电源正极Vcc(210)、所述K3(303)、所述C极、所述N极、所述K7(307)和所述电源负极0V(220)依次串联的CN相测试回路；单独闭合所述K1(301)、所述K5(305)和所述K10(310)，形成所述电源正极Vcc(210)、所述K1(301)、所述A极、所述B极、所述K5(305)、所述C极、所述K10(310)和所述电源负极0V(220)依次串联的ABC相测试回路；单独闭合所述K1(301)、所述K5(305)和所述K7(307)，形成所述电源正极Vcc(210)、所
述K1(301)、所述A极、所述B极、所述K5(305)、所述C极、所述N极、所述K7(307)和所述电源负极0V(...

【专利技术属性】
技术研发人员：王中林，陈锋，聂宗军，
申请(专利权)人：浙江正泰电器股份有限公司，
类型：新型
国别省市：