一种注塑用治具制造技术

本实用新型专利技术涉及测量治具技术领域，具体为一种注塑用治具。本实用新型专利技术，包括底板，所述底板的一侧固定连接有水平仪，所述底板的上表面固定连接有主限位块，所述底板的上表面靠近主限位块的一侧固定连接有副限位块，所述底板的上表面设有测量结构，所述测量结构包括测量块，所述测量块的下表面与底板固定连接，所述测量块靠近主限位块的一侧开设有滑槽，所述滑槽的内壁滑动连接有量尺，所述量尺的一侧固定连接有指针，所述测量块的表面设有刻度线，所述刻度线均匀分布在测量块的表面，所述刻度线与指针位置相对应，所述主限位块和副限位块的截面呈上窄下宽的梯形状。解决了键帽注塑件生产后需要人工进行测量，易存在误差的问题。易存在误差的问题。易存在误差的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种注塑用治具


[0001]本技术涉及测量治具
，尤其涉及一种注塑用治具。

技术介绍

[0002]测量治具由底板、水平仪、主限位块、副限位块以及相应的测量组件构成，在键帽注塑件被生产出来后，需要对键帽进行高度测量，以检验是否达到合格高度，从而避免因键帽高度存在误差而使键帽在安装到键盘上时高度不一致，影响使用，在注塑的成品检测领域很实用。
[0003]现有技术诸如CN212871017U的技术，该专利公开了一种注塑件测量治具，涉及测量治具领域，为解决注塑件生产出后需要人工测量，注塑件难以摆正，易导致出现误差的缺陷，该专利，括底座，所述底座的侧壁上开设有多个放置孔，所述底座的两相对侧壁上穿设有多个用于固定放置孔内注塑件的固定机构，所述固定机构包括调节杆与卡环，所述调节杆穿设在底座的侧壁上，所述卡环固定设置在调节杆靠近放置孔的一端，所述底座的一侧壁上设置有标准块。
[0004]本申请提供了另一种解决该问题的技术方案。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是为了解决现有技术中存在键帽注塑件生产后需要人工进行测量，易存在误差的缺点，而提出的一种注塑用治具。
[0006]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种注塑用治具，包括底板，所述底板的一侧固定连接有水平仪，所述底板的上表面固定连接有主限位块，所述底板的上表面靠近主限位块的一侧固定连接有副限位块，所述底板的上表面设有测量结构，所述测量结构包括测量块，所述测量块的下表面与底板固定连接，所述测量块靠近主限位块的一侧开设有滑槽，所述滑槽的内壁滑动连接有量尺，所述量尺的一侧固定连接有指针，所述测量块的表面设有刻度线。
[0007]上述部件所达到的效果为：通过在主限位块上卡入注塑后的键帽成品，并将量尺置于键帽上与键帽抵接，即可根据指针所指位置测量键帽高度，简单且便捷，且键帽限位，不易晃动，进而影响测量数据。
[0008]优选的，所述刻度线均匀分布在测量块的表面，所述刻度线与指针位置相对应。
[0009]上述部件所达到的效果为：通过指针所指位置，即可得出键帽当前高度，随后即可与标准高度进行比对差值。
[0010]优选的，所述主限位块和副限位块的截面呈上窄下宽的梯形状，所述主限位块和副限位块的尺寸与键帽尺寸相适配。
[0011]上述部件所达到的效果为：通过梯形的形状，更好的适配键帽的形状，从而更好地进行限位。
[0012]优选的，所述量尺的上表面固定连接有金属块，所述滑槽的内部顶端固定连接有
磁铁。
[0013]上述部件所达到的效果为：将量尺滑动至金属块与磁铁相吸附，从而使量尺固定于最高点，进而更好地进行键帽的卡入。
[0014]优选的，所述底板的上表面设有固定结构，所述固定结构包括固定块，所述固定块的下表面与底板固定连接，所述固定块为两个一组，共两组，分设于主限位块和副限位块的两侧，所述固定块的内部滑动连接有活动轴，所述活动轴的一端固定连接有支撑块，所述活动轴的圆弧面套有弹簧，所述弹簧的两端分别与支撑块和固定块固定连接，所述活动轴的另一端固定连接有挡板。
[0015]上述部件所达到的效果为：通过弹簧的弹力带动，使支撑块对主限位块上的键帽进行抵接固定，进一步加固键帽，从而使键帽的固定效果更佳。
[0016]优选的，所述支撑块的表面做斜面处理，所述支撑块截面为上宽下窄梯形状。
[0017]上述部件所达到的效果为：支撑块的斜面表面，以更好的适配键帽的形状，使固定更稳固。
[0018]优选的，所述挡板的一侧固定连接有固定轴，所述固定轴的一端固定连接有手柄。
[0019]上述部件所达到的效果为：通过手柄拉动使活动轴更易拉开，避免因弹簧弹力带动挡板抵接至固定块一侧难以拉开的问题。
[0020]优选的，所述支撑块地表面固定连接有软垫，所述软垫为橡胶垫。
[0021]上述部件所达到的效果为：通过软垫可进行缓冲，同时增大摩擦力，使固定更稳定。
[0022]综上所述，本技术的有益效果为：
[0023]本技术中，在需要对注塑成品键帽进行测量时，首先将量尺向上滑动，量尺在滑槽内滑动，将量尺滑动至滑槽顶部时，量尺上表面固定的金属块与滑槽顶部固定的磁铁相吸附，从而将量尺固定至最高位置，此时将注塑后的键帽通过主限位块卡入，主限位块的截面呈上小下大的梯形状，而键帽同样为梯形状，以适配键帽的形状，从而更好地对键帽进行限位，将键帽卡入主限位块后，即可拉动量尺向下，滑动至抵接在键帽的上表面，此时即可根据刻度线读数得出键帽的高度，并与标准数据对比，得出高度差，高度差在误差范围内即为合格，否则为不合格品，同时主限位块与副限位块相隔一定距离，用于卡入较长块的键帽，如空格键键帽，将长块键帽卡入主限位块与副限位块上，即可对长块键帽进行限位，并测量。通过设置测量结构，方便且直观的就能得出注塑后的成品键帽的高度，并判断是否为不合格品，且键帽被有效限位，避免在测量时发生晃动，使数据不准确，进而出现误差。
附图说明
[0024]图1为本技术的立体结构示意图；
[0025]图2为本技术的测量结构的立体结构示意图；
[0026]图3为本技术的图2中的A处放大图；
[0027]图4为本技术的固定结构的立体结构示意图。
[0028]图例说明：1、底板；2、水平仪；3、主限位块；4、副限位块；5、测量结构；51、测量块；52、滑槽；53、量尺；54、指针；55、刻度线；56、金属块；57、磁铁；6、固定结构；61、固定块；62、活动轴；63、支撑块；64、弹簧；65、挡板；66、固定轴；67、手柄；68、软垫。
具体实施方式
[0029]参照图1所示，本技术提供一种技术方案：一种注塑用治具，包括底板1，底板1的一侧固定连接有水平仪2，水平仪2用于显示桌面是否水平，以增强测量准确度，底板1的上表面固定连接有主限位块3，底板1的上表面靠近主限位块3的一侧固定连接有副限位块4，需要测量长形键帽时，即可借助主限位块3与副限位块4同时卡住键帽，底板1的上表面设有测量结构5，底板1的上表面主限位块3以及副限位块4的两侧设有固定结构6。
[0030]下面具体说一下其测量结构5和固定结构6的具体设置和作用。
[0031]参照图2和图3所示，本实施方案中：测量结构5包括测量块51，测量块51的下表面与底板1固定连接，测量块51靠近主限位块3的一侧开设有滑槽52，滑槽52的内壁滑动连接有量尺53，量尺53的一侧固定连接有指针54，测量块51的表面设有刻度线55。通过在主限位块3上卡入注塑后的键帽成品，并将量尺53置于键帽上与键帽抵接，即可根据指针54所指位置测量键帽高度，简单且便捷，且键帽限位，不易晃动，进而影响测量数据。
[0032]其中，刻度线55均匀分布在测量块51的表面，刻度线55与指针54位置相对应。通过指针54所指位置，即可得出键帽当前高度，随后即可与标准高度本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种注塑用治具，包括底板（1），其特征在于：所述底板（1）的一侧固定连接有水平仪（2），所述底板（1）的上表面固定连接有主限位块（3），所述底板（1）的上表面靠近主限位块（3）的一侧固定连接有副限位块（4），所述底板（1）的上表面设有测量结构（5），所述测量结构（5）包括测量块（51），所述测量块（51）的下表面与底板（1）固定连接，所述测量块（51）靠近主限位块（3）的一侧开设有滑槽（52），所述滑槽（52）的内壁滑动连接有量尺（53），所述量尺（53）的一侧固定连接有指针（54），所述测量块（51）的表面设有刻度线（55）。2.根据权利要求1所述的一种注塑用治具，其特征在于：所述刻度线（55）均匀分布在测量块（51）的表面，所述刻度线（55）与指针（54）位置相对应。3.根据权利要求1所述的一种注塑用治具，其特征在于：所述主限位块（3）和副限位块（4）的截面呈上窄下宽的梯形状，所述主限位块（3）和副限位块（4）的尺寸与键帽尺寸相适配。4.根据权利要求1所述的一种注塑用治具，其特征在于：所述量尺（53）的上表面固定连接有金属块（56），所述滑槽（52）...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓跃进，
申请(专利权)人：欣达瑞精密塑胶苏州股份有限公司，
类型：新型
国别省市：