CAN芯片丢包误码检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种CAN芯片丢包误码检测装置，包括主控设备、MCU、发送CAN芯片、接收CAN芯片、两个电压升降模块、可调电位器和电压显示模块，所述主控设备通过USB与MCU电连接，所述MCU的CAN_TX\CAN_RX引脚与待测试的发送CAN芯片、接收CAN芯片电连接；两个电压升降模块分别与发送CAN芯片和接收CAN芯片电连接；两个可调电位器与两个电压升降模块分别电连接，电压显示模块分别与电压升降模块电连接。电压显示模块分别与电压升降模块电连接。电压显示模块分别与电压升降模块电连接。

【技术实现步骤摘要】
CAN芯片丢包误码检测装置


[0001]本技术属于芯片制造
，具体涉及一种CAN芯片丢包误码检测装置。

技术介绍

[0002]在集成电路制造中，测试丢包、误码，通常需要借助专业的仪器设备来进行。以CAN芯片为例，在CAN芯片制造领域，当芯片流片出片后，需要对芯片在传输信号的性能方面进行测试。这些测试包括信号传输的稳定性、准确性、时效性等等。同时需要验证芯片在不同的技术参数和环境参数下传输信号的能力，丢包、误码测试是CAN芯片适应性测试的一个测试类别。
[0003]通常需要配合相应的MCU、主板或者配合相应的通讯模块。最常见的测试方式是将芯片安装到现实生产环境中所使用的板卡上，通过板卡上的MCU或者相应的外围设备，向专用的仪器或者设备发送信号，由仪器或者设备对芯片发出的信号进行接收，通过对接收信号的分析，即可计算出测试芯片在信号发出状态下的丢包、误码情况。该测试需要在一个固定的时间内，发送或者接收一定数量、具有一定特征的数据包，并将这些被发送或者接收到的数据包进行统计和分析，以确定芯片在传输过程中是否存在丢包或者误码。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种CAN芯片丢包误码检测装置，其特征在于，包括主控设备、MCU、发送CAN芯片、接收CAN芯片、两个电压升降模块、可调电位器和电压显示模块，所述主控设备通过USB与MCU电连接，所述MCU的CAN_TX\CAN_RX引脚与待测试的发送CAN芯片、接收CAN芯片电连接；两个电压升降模块分别与发送CAN芯片和接收CAN芯片电连接；两个可调电位器与两个电压升降模块分别电连接，电压显示模块分别与电压升降模块电连接。2.如权利要求1所述的CAN芯片丢包误码检测装置，其特征在于，所述MCU采用STM32G4系列芯片。3.如权利要求1或2所述的CAN芯片丢包误码检测装置，其特征在于，所述电压显示模块为数码电压显示模块。4.如权利要求1或2所述的CAN芯片丢包误码检测装置，其特征在于，主控装置经USB通讯方式发出信号至MCU，MCU产生规则信号，经过CAN_FD协议进行调制，并将信号经C...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈晓松，王迪，郑飞君，
申请(专利权)人：杭州傲芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：