本实用新型专利技术涉及BIM的构件技术领域，且公开了一种基于BIM的构件尺寸检测装置，包括刻度尺、第一卡柱、延伸卡板、连接轴体、红外距离测量器，所述刻度尺的外表面设置有刻齿纹，所述刻度尺的顶部开设有卡件滑槽，在卡件滑槽的左侧固定安装有第一卡柱，在第一卡柱的内部活动安装有延伸卡板，在延伸卡板的右侧开设有槽口，所述刻度尺的侧部固定安装有红外反馈挡板，所述刻度尺的右侧固定安装有连接轴体，通过安装刻度尺、卡件滑槽、第一卡柱、延伸卡板、连接轴体、延伸尺、第二卡柱、红外距离测量器等装置，达到了具备可调节卡件高度，方便对异形构件进行测量的能力、具备折叠，方便收纳的目的。的。的。
【技术实现步骤摘要】
一种基于BIM的构件尺寸检测装置
[0001]本技术涉及BIM的构件
，具体为一种基于BIM的构件尺寸检测装置。
技术介绍
[0002]建筑信息模型，又称建筑信息模拟，简称BIM，是由充足信息构成以支持新产品开发管理，并可由计算机应用程序直接解释的建筑或建筑工程信息模型，即数字技术支撑的对建筑环境的生命周期管理；其中BIM构件生产时需根据标准尺寸进行生产，因此需逐个进行检测，现有的常规刻度尺在使用时会因构件结构形状问题，造成测量不够准确的问题，构件结构形状比较复杂，常规刻度尺在使用时易出现无法卡住构件的情况，因此极易造成测量的不准确，且刻度尺在使用后由于自身长度关系不方便进行收纳，为此特意提出一种基于BIM的构件尺寸检测装置。
技术实现思路
[0003](一)解决的技术问题
[0004]针对现有技术的不足，本技术提供了一种基于BIM的构件尺寸检测装置，具备可调节卡件高度，方便对异形构件进行测量的能力、具备折叠，方便收纳的优点，解决了现有的刻度尺在测量异形构件时不便于对构件进行卡接，易出现测量不准确的问题，不方便进行收纳的问题。
[0005](二)技术方案
[0006]为实现上述一种基于BIM的构件尺寸检测装置目的，本技术提供如下技术方案：一种基于BIM的构件尺寸检测装置，包括刻度尺、第一卡柱、延伸卡板、连接轴体、红外距离测量器，所述刻度尺的外表面设置有刻齿纹，所述刻度尺的顶部开设有卡件滑槽，在卡件滑槽的左侧固定安装有第一卡柱，在第一卡柱的内部活动安装有延伸卡板，在延伸卡板的右侧开设有槽口，所述刻度尺的侧部固定安装有红外反馈挡板，所述刻度尺的右侧固定安装有连接轴体，在连接轴体的右侧固定安装有延伸尺，在延伸尺的顶部活动安装有第二卡柱，在第二卡柱的底部固定安装有活动套圈，在活动套圈的侧部固定安装有红外距离测量器，在红外距离测量器的外表面镶嵌安装有数值显示屏。
[0007]优选的，所述刻度尺和延伸尺通过连接轴体连接，刻度尺和延伸尺的顶部均开设有卡件滑槽，侧部均设置有刻齿纹。
[0008]优选的，所述刻度尺顶部的左侧安装有第一卡柱，第一卡柱的右侧为平面且安装有延伸卡板，通过槽口可将延伸卡板从第一卡柱内抠出。
[0009]优选的，所述活动套圈套接在延伸尺上，活动套圈顶部与第二卡柱连接，第二卡柱底部设置有与卡件滑槽吻合的滑块。
[0010]优选的，所述活动套圈的宽度等于刻度尺加连接轴体半径的宽度，第二卡柱左侧为平面且设置有与延伸卡板结构一致的延伸板。
[0011]优选的，所述活动套圈的侧面安装有红外距离测量器，与红外反馈挡板处于同一
面。
[0012](三)有益效果
[0013]与现有技术相比，本技术提供了一种基于BIM的构件尺寸检测装置，具备以下有益效果：
[0014]1、该一种基于BIM的构件尺寸检测装置，通过安装刻度尺、卡件滑槽、第一卡柱、延伸卡板、连接轴体、延伸尺、第二卡柱、红外距离测量器等装置，达到了具备可调节卡件高度，方便对异形构件进行测量的能力、具备折叠，方便收纳的目的，本装置由刻度尺以及延伸尺组合而成，刻度尺与延伸尺之间设置有连接轴体，在使用时将延伸尺展开，与刻度尺并齐，第二卡柱可在刻度尺和延伸尺上进行活动，不使用时可将延伸尺通过连接轴体使其折叠，减小装置在收纳时占用的空间，同时本装置在第一卡柱、第二卡柱上均设置有延伸卡板，刻度尺在使用时通常需将测量的物体卡接在刻度尺上从而得到物体的长度，当面对异形结构时则不方便进行卡接，无法得到精确的测量数据，延伸卡板的设置，可延迟卡柱的长度，从而便于卡住异形构件的两端，从而通过红外距离测量器得到测量的数值，延伸卡板在不使用时可收纳至卡柱的内部，使用时将其抽出即可，使用方便，并使本装置达到方便对异形结构的构件进行测量的目的。
附图说明
[0015]图1为本技术尺寸检测装置整体结构示意图；
[0016]图2为本技术卡板延伸结构示意图；
[0017]图3为本技术第二卡柱整体结构示意图；
[0018]图4为本技术A处细节放大结构示意图；
[0019]图5为本技术折叠后连接轴体处结构示意图。
[0020]其中：1、刻度尺；2、刻齿纹；3、卡件滑槽；4、第一卡柱；5、延伸卡板；6、槽口；7、红外反馈挡板；8、连接轴体；9、延伸尺；10、第二卡柱；11、活动套圈；12、红外距离测量器；13、数值显示屏。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]请参阅图1
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5，一种基于BIM的构件尺寸检测装置，包括刻度尺1、第一卡柱4、延伸卡板5、连接轴体8、红外距离测量器12，所述刻度尺1的外表面设置有刻齿纹2，所述刻度尺1的顶部开设有卡件滑槽3，在卡件滑槽3的左侧固定安装有第一卡柱4，在第一卡柱4的内部活动安装有延伸卡板5，在延伸卡板5的右侧开设有槽口6，所述刻度尺1的侧部固定安装有红外反馈挡板7，所述刻度尺1的右侧固定安装有连接轴体8，在连接轴体8的右侧固定安装有延伸尺9，在延伸尺9的顶部活动安装有第二卡柱10，在第二卡柱10的底部固定安装有活动套圈11，在活动套圈11的侧部固定安装有红外距离测量器12，在红外距离测量器12的外表面镶嵌安装有数值显示屏13。
[0023]在使用时，将第一卡柱4卡在构件的一端，再将第二卡柱10卡在构件的另一端，通过红外距离测量器12以及红外反馈挡板7的配合测量出构架的长度，测量的数值会通过数值显示屏13进行显示，如构件的形状不规则，可将第一卡柱4、第二卡柱10内的延伸卡板5抽出，延长卡柱的长度，使卡柱可卡住构件的两端，从而对异形构件进行测量，装置在使用结束后将延伸卡板5收回第一卡柱4、第二卡柱10内，同时可将延伸尺9通过连接轴体8进行折叠。
[0024]进一步，所述刻度尺1和延伸尺9通过连接轴体8连接，刻度尺1和延伸尺9的顶部均开设有卡件滑槽3，侧部均设置有刻齿纹2；
[0025]刻度尺1和延伸尺9通过连接轴体8可进行折叠，方便装置使用之后进行收纳，见效占用空间。
[0026]进一步，所述刻度尺1顶部的左侧安装有第一卡柱4，第一卡柱4的右侧为平面且安装有延伸卡板5，通过槽口6可将延伸卡板5从第一卡柱4内抠出；
[0027]延伸卡板5的设置可延长第一卡柱4的高度，方便测量异形构件的长、高、宽度。
[0028]进一步，所述活动套圈11套接在延伸尺9上，活动套圈11顶部与第二卡柱10连接，第二卡柱10底部设置有与卡件滑槽3吻合的滑块；
[0029]第二卡柱10通过活动套圈11可在刻度尺1和延伸尺9上进行活动。
[003本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于BIM的构件尺寸检测装置，包括刻度尺(1)、第一卡柱(4)、延伸卡板(5)、连接轴体(8)、红外距离测量器(12)，其特征在于：所述刻度尺(1)的外表面设置有刻齿纹(2)，所述刻度尺(1)的顶部开设有卡件滑槽(3)，在卡件滑槽(3)的左侧固定安装有第一卡柱(4)，在第一卡柱(4)的内部活动安装有延伸卡板(5)，在延伸卡板(5)的右侧开设有槽口(6)，所述刻度尺(1)的侧部固定安装有红外反馈挡板(7)，所述刻度尺(1)的右侧固定安装有连接轴体(8)，在连接轴体(8)的右侧固定安装有延伸尺(9)，在延伸尺(9)的顶部活动安装有第二卡柱(10)，在第二卡柱(10)的底部固定安装有活动套圈(11)，在活动套圈(11)的侧部固定安装有红外距离测量器(12)，在红外距离测量器(12)的外表面镶嵌安装有数值显示屏(13)。2.根据权利要求1所述的一种基于BIM的构件尺寸检测装置，其特征在于：所述刻度尺(1)和延伸尺(9)通过连接轴体(8)连接，刻度尺(1)和延伸尺...
【专利技术属性】
技术研发人员：肖一鸣，
申请(专利权)人：中交一公局集团有限公司，
类型：新型
国别省市：
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