一种内存测试方法及装置制造方法及图纸

本申请适用于内存测试技术领域，提供了一种内存测试方法及装置，包括：获取待测内存的地址段；根据所述待测内存的地址段，配置第一待测内存地址段；对第一待测内存地址段进行锁定；对第一待测内存地址段执行内存测试；在第一待测内存地址段完成内存测试之后，释放第一待测内存地址段；根据待测内存的地址段，配置第二待测内存地址段，第二待测内存地址段与第一待测内存地址段不同；对第二待测内存地址段进行锁定；对第二待测内存地址段执行内存测试。本申请通过上述方式避免了存在测试系统本身占用待测内存空间的情况，提高了内存测试的覆盖率，降低了不良内存流出致使质量事故的风险，从而达到确保了内存的出货质量的效果。从而达到确保了内存的出货质量的效果。从而达到确保了内存的出货质量的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种内存测试方法及装置


[0001]本申请属于内存测试
，尤其涉及一种内存测试方法及装置。

技术介绍

[0002]作为计算机与中央处理器(Central Processing Unit，CPU)沟通的桥梁，计算机中的所有程序都是在内存中运行，同时作为一个大容量的数据交换池，内存能够吞吐的数据量越大，CPU运算和处理数据的效率也会越高。为了迭代更新以匹配CPU的运行速率，内存条自身不断提高吞吐数据的速度和扩大自身存储容量。然而，复杂的生产制造工艺并未能进一步提高内存条的质量。因此，必须对内存条进行故障监测，以防不良内存流出，进而导致质量事故。
[0003]目前现有技术存在测试覆盖范围不足的问题。比如，如图1所示，服务器内插入了标称容量为128G的内存条，使用查看命令返回的可用内存容量为105G，使用现有的测试方法，可以测试到的内存空间覆盖率为82％(由可用内存容量/标称容量获得)。在这种情况下，剩余的18％的内存空间就会存在漏测的风险，可能导致不良内存流出，进而导致质量事故。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种内存测试方法，其特征在于，包括：获取待测内存的地址段；根据所述待测内存的地址段，配置第一待测内存地址段；对所述第一待测内存地址段进行锁定；对所述第一待测内存地址段执行内存测试；在所述第一待测内存地址段完成内存测试之后，释放所述第一待测内存地址段；根据所述待测内存的地址段，配置第二待测内存地址段，所述第二待测内存地址段与所述第一待测内存地址段不同；对所述第二待测内存地址段进行锁定；对所述第二待测内存地址段执行内存测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一待测内存地址段是所述待测内存的地址段的前半部分地址段，所述第二待测内存地址段是所述待测内存的地址段的后半部分地址段。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测内存的地址段，配置第一待测内存地址段，包括：修改启动文件的地址段为所述第一待测内存地址段。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测内存的地址段，配置第二待测内存地址段，包括：将所述启动文件的地址段从所述第一待测内存地址段修改为所述第二待测内存地址段。5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：安装地址段锁定工具；其中，所述对所述第一待测内存地址段进行锁定，包括：在系统重启后调用所述地址段锁定工具；通过所述地址段锁定工具，执行对所述第一待测内存地址段的锁定操作。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在对所述第一待测内存地址段进行锁定之后，所述方法还包括：运行第一查看命令，所述第一查看...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴兆炎，黎建根，张育江，邓念勤，
申请(专利权)人：中国长城科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：