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本申请适用于内存测试技术领域，提供了一种内存测试方法及装置，包括：获取待测内存的地址段；根据所述待测内存的地址段，配置第一待测内存地址段；对第一待测内存地址段进行锁定；对第一待测内存地址段执行内存测试；在第一待测内存地址段完成内存测试之后，...
该专利属于中国长城科技集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国长城科技集团股份有限公司授权不得商用。

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