一种芯片分类机及其测试方法技术

本发明专利技术公开了一种芯片分类机及其测试方法，芯片分类机包括机台，设于机台上的芯片输送装置、芯片检测装置，芯片分类机还包括设于机台上的用于放置芯片的中转盘，中转盘上设有若干个用于放置芯片的定位槽，芯片检测装置用于对芯片进行测试以及复测以对芯片进行分类。本发明专利技术解决了系统等级测试过程中，无法实现自动复测的问题。提升了测试的效率和良率，同时降低了人力成本，让设备的测试产出始终稳定在可接受的水准。经反复验证及小批量生产数据收集，新型测试方案运行稳定、有效。有效。有效。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片分类机及其测试方法


[0001]本专利技术涉及一种芯片分类机及其测试方法。

技术介绍

[0002]目前，传统的芯片系统等级测试方法存在生产时间损失，影响生产效率和良率的问题。传统的测试方式即为将一批芯片投放到芯片分类机中，测试失败的芯片需手动取出，再次投放到待测部上进行测试分类。这种方式需要人为手动作业，机器不能智能选择表现最好的工位进行复测。这种方式的直接弊端就是机器产出的损失，进而影响公司的效益。对于传统测试时发生的效率及良率管控，依赖操作人员及时操作机器，凭经验判断选用表现较好的工位安排复测，没有措施或方案智能精准选择表现好的工位自动复测，其主要难点有：没有治具安装在芯片分类机上，用来摆放测试失败的芯片，供芯片分类机中转并分配芯片复测；芯片分类机的操作软件没有设计自动复测摆放芯片的动作逻辑；现有的测试程序，没有加入智能运算集，指定测试失败的芯片切换到测试表现更好的工位。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是提供一种芯片分类机，自动复测专用的治具，用来实现分配测试失败芯片自动复测，提高了测试效率。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片分类机，其包括机台，设于所述机台上的芯片输送装置、芯片检测装置，其特征在于：所述芯片分类机还包括设于所述机台上的用于放置芯片的中转盘，所述中转盘上设有若干个用于放置芯片的定位槽，所述芯片检测装置用于对芯片进行测试以及复测以对芯片进行分类。2.根据权利要求1所述的芯片分类机，其特征在于：沿所述机台的上端面的长度方向为横向、沿所述机台的上端面的宽度方向为纵向、垂直于所述机台的上端面的方向为垂向，所述芯片输送装置包括用于取放芯片的机械手、用于带动所述机械手沿横向移动的横向驱动部、带动所述横向驱动部沿纵向移动进而使机械手沿纵向移动的纵向驱动部。3.根据权利要求2所述的芯片分类机，其特征在于：所述机械手包括第一安装架、安装于所述第一安装架上的第一伸缩件、滑动连接于所述第一伸缩件上的第一滑块、固定于所述第一滑块上且与所述第一伸缩件的伸缩杆相连接的第一安装座、设于所述第一安装座上的吸盘，所述第一伸缩件的壳体上形成有沿垂向设置的第一导向条，所述第一滑块上形成有与所述第一导向条相匹配的第一导向槽，所述第一导向槽与所示第一导向条相配合用于引导所述第一滑块沿垂向移动，所述第一伸缩件的伸缩杆带动所述第一安装座沿垂向移动。4.根据权利要求3所述的芯片分类机，其特征在于：所述横向驱动部包括横向壳体、横向驱动电机、横向丝杆、横向驱动螺母、横向滑块，所述横向壳体内部形成沿横向延伸的空腔，其顶面上形成有垂向贯通的横向让位槽，所述横向驱动电机固定安装于所述横向壳体内，所述横向丝杆与所述横向驱动电机相传动连接，所述横向驱动螺母螺纹连接于所述横向丝杆上，所述横向滑块与所述横向驱动螺母固定连接，且其从所述横向让位槽中伸出并与所述第一安装架相固定连接。5.根据权利要求4所述的芯片分类机，其特征在于：所述横向驱动部包括横向走线槽，所述横向走线槽有两个分别位于所述横向滑块的两侧且沿横向设置，所述吸盘及第一伸缩件的管线设于所述横向走线槽内，且两个所述横向走线槽之间形成所述横向滑块的横向滑槽。6.根据权利要求3所述的芯片分类机，其特征在于：所述纵向驱动部分别位于横向驱动部的两端部，每个所述纵向驱动部包括纵向导轨、纵...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨洋，林建，莫右，朱军，
申请(专利权)人：苏州通富超威半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：