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本发明公开了一种芯片分类机及其测试方法，芯片分类机包括机台，设于机台上的芯片输送装置、芯片检测装置，芯片分类机还包括设于机台上的用于放置芯片的中转盘，中转盘上设有若干个用于放置芯片的定位槽，芯片检测装置用于对芯片进行测试以及复测以对芯片进行...
该专利属于苏州通富超威半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州通富超威半导体有限公司授权不得商用。

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