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一种大规模制作量子自旋霍尔边界态的方法技术

技术编号:37065136 阅读:40 留言:0更新日期:2023-03-29 19:43
本发明专利技术提供了一种大规模制作量子自旋霍尔(QSH)边界态的方法:通过构建出拓扑材料的各向异性的表面形貌,对表面能带的狄拉克锥进行调制使其形成准一维带即Q1D带,从而产生高密度的QSH边界态。本发明专利技术利用拓扑材料ZrTe5进行结构模拟,其侧表面具有大量一维的凹槽型结构,其边界态在布里渊区中心表现为Q1D带,从而实现了高密度的QSH边界态。该发明专利技术给如何实现高密度的QSH边界态提供了一个新思路,推动了基于拓扑绝缘材料的电子自旋器件的开发和应用领域的发展。用领域的发展。用领域的发展。

【技术实现步骤摘要】
一种大规模制作量子自旋霍尔边界态的方法


[0001]本专利技术属于电子自旋学和电子自旋器件领域,具体涉及在3D拓扑材料中实现高密度QSH边界态的方法。

技术介绍

[0002]量子自旋霍尔(QSH)态是量子自旋霍尔绝缘体或二维(2D)拓扑绝缘体(TI)中的无耗散边界态。QSH态中的载流子导电性不受边界的几何结构影响,且具有时间反演不变性。这些特点使QSH绝缘体在自旋量子计算的应用开发中有巨大的潜能。目前唯一可能的散射是反向散射。QSH态中导电电子的自旋会受磁缺陷而发生翻转。目前理论和实验都证明在HgTe/CdT量子阱中可以观察到QSH态,这也是近几年的研究热点。由于每个边界只存在因自旋不同形成的两个传播方向的QSH态,无耗散的导电通道是很有限的。
[0003]为了提高导电功率,必须要提高的QSH态密度。一个可行的办法就是增加更多的边界,可以采用通过增加QSH绝缘体的层数来增加导电通道,同时也要求层间的相互作用较弱。3D弱拓扑绝缘体(WTI)可由2D TI堆叠形成,由于层间的耦合使侧表面形成各向异性。不过,只要层间相互作用足够弱,也就是说可本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有高密度QSH边界态的模型,其特征在于:所述模型的构建材料为拓扑材料ZrTe5,通过从侧面切割ZrTe5晶体材料,以Z字形Te原子链堆积方向、即a

b面作为剥离面,Zr

Te键处断裂,形成具有多个1D凹槽的各向异性表面,构成所述具有高密度QSH边界态的模型。2.根据权利要求1所述一种具有高密度QSH边界态的模型,其特征在于,所述模型为:沿ZrTe5晶体材料的c轴为7个单胞c轴长度,共有14个Zr原子层,邻近两个vdW层交错形成两个对称的上下表面,交错长度为3个单胞c轴,真空层大于15
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;所述模型的结构晶格常数为a=7.426
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, b=13.572
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。3.一种大规模制作量子自旋霍尔边界态的方法,其特征在于:利用拓扑材料构建出各向异性的表面形貌,对表面能带的狄拉克锥进行调制使其形成准一维带即Q1D带,实现高密度 QSH边界态。4.根据权利要求3所述一种大规模制作量子自旋霍尔边界态的方法,其特征在于,所述拓扑材料为ZrTe5晶体材料,为范德瓦尔斯层状材料,具有三维量子霍尔效应特征,随着晶格矢长度变化,会发生3D强TI和弱TI的转变。5.根据权利要求4所述一种大规模制作量子自旋霍尔边界态的方法,其特征在于:所述ZrTe5晶体材料的自然解离面为(010)面,对于单层的ZrTe5来说,ZrTe5沿着c轴Z字形Te原子链堆积,且 a

b平面能作为剥离面。6.根据权利要求3

5任一项所述一种大规模制作量子自旋霍尔边界态的方法,其特征在于,所述利用拓扑材料构建出各向异性的表面形貌,形成准一维带,包括如下步骤:获取ZrTe5的晶格常数并...

【专利技术属性】
技术研发人员:陆赟豪管丹丹钱冬朱锋锋华陈强陶圣旦
申请(专利权)人:浙江大学
类型:发明
国别省市:

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