一种多通道光模块波长调试方法和光模块技术

本发明专利技术提供了一种多通道光模块波长调试方法，包括如下步骤：确定TEC初始温度，并绘制各通道的温度

【技术实现步骤摘要】
一种多通道光模块波长调试方法和光模块


[0001]本专利技术属于光通信
，具体涉及一种多通道光模块波长调试方法和光模块。

技术介绍

[0002]在长距光模块中，通常使用TEC对激光器进行控温，使激光器始终维持在一个固定的温度下工作。在调试时，也是通过调整TEC的温度来调整激光器的波长，使激光器工作时的波长满足协议要求。如图1所示的典型100G LR4（10km）光模块的光发射次模块（TOSA）结构，包括激光器，TEC，热敏电阻，将激光器发出的光准直的透镜，包含有4个通过特定波长的带通滤波片的光复用组件，位移棱镜，会聚透镜和光纤适配器等。通常情况下调试光发射次模块的波长的步骤如下：(1)设置TEC的初始温度(初始温度取50℃)；(2)测试4个通道波长；(3)判定4个通道波长是否满足协议：(4)将4个通道的波长实测数据和协议波长进行比较，得出波长的偏离值，再根据波长的温漂系数，计算得出TEC的温度设置目标值，然后将TEC温度设置为目标值，使4个通道的波长满足协议要求。
[0003]然而，按照上述方法设定的TEC温度，可以保证波长在协议范围内，但由于光复用组件的制作公差，带通滤波片能通过的波长的范围会有偏差，同时光复用组件的贴装也会存在角度公差，这些都会改变光复用组件能通过的波长的范围，从而无法保证满足协议要求的所有波长的光都能在损耗比较小的情况下通过。有时候即使能通过，但波长不在带通滤波片实际能低损耗通过的波长范围内，例如：如图2所示，其协议波长的边界（左边界）位于光功率快速跌落的区域；或者波长处于带通滤波片实际能通过的波长范围的边界情况，例如：如图3所示，其协议波长的边界（左边界）位于光功率快速跌落的边缘；上述两种情况下，在使用过程中，光功率对波长的变化非常敏感，只要波长发生微小的变化，就会导致光功率大幅度跌落，从而导致光模块失效。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种多通道光模块波长调试方法，至少可以解决现有技术中存在的部分缺陷。
[0005]为实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：一种多通道光模块波长调试方法，包括如下步骤：1)确定TEC的初始温度，并以ΔT为步进，记录不同温度下光模块各个通道的输出光功率和波长，绘制出光模块各个通道的温度
‑
光功率曲线；2)获取光模块各个通道的目标波长上、下限值所对应的温度T
上
和T
下
，以及各个通道的温度
‑
光功率曲线中光功率平坦区域的左安全边界温度T
左
'和右安全边界温度T
右
'；3)比较每一个通道的T
上
、T
下
、T
左
'、T
右
'，若任一个通道的T
下
＞T
右
'，或者T
上
＜T
左
'，则光模块产品判定为不良品，进行返修；否则进入步骤4)；4)比较每一个通道的T
上
、T
下
、T
左
'、T
右
'，去掉最大值和最小值，剩下两个值按从小到
大顺序分别记录为T1和T2；5)比较各个通道的T1与T2的大小，若各个通道的T1中一个或者多个比各个通道的T2中一个或者多个大，则光模块产品判定为不良品，进行返修；否则进入步骤6)；6)取各个通道的T1中最大值并记为T
下
'，取各个通道的T2中最小值并记为T
上
'，则计算出TEC的最终设置温度T'=(T
下
'+T
上
')/2，各个通道在此温度T'下对应的波长即为各个通道调试后的波长。
[0006]进一步的，所述步骤1)中TEC的初始温度的选取条件为使获得的各个通道的温度
‑
光功率曲线有完整的平坦区域，同时读取对应通道的波长覆盖协议波长的范围。
[0007]进一步的，所述步骤1)中ΔT设置为1℃。
[0008]另外，本专利技术还提供了一种光模块，所述光模块运用上述的多通道光模块波长调试方法。
[0009]与现有技术相比，本专利技术的有益效果：本专利技术提供的这种多通道光模块波长调试方法可以快速确定TEC的最佳温度设置和光模块中激光器的最佳工作波长，并且该TEC最佳温度的确定综合考虑了其对波长和光功率的影响，不仅能保证波长在协议波长范围内，而且能使波长处于带通滤波片实际能低损耗通过的波长范围内，减小光功率对波长变化的敏感度，从而提高产品稳定性及可靠性。
[0010]以下将结合附图对本专利技术做进一步详细说明。
附图说明
[0011]图1是现有典型100G LR4光模块的光发射次模块结构示意图；图2是现有应用中协议波长的边界位于光功率快速跌落区域的示意图；图3是现有应用中协议波长的边界位于光功率快速跌落的边缘示意图；图4是本专利技术中温度
‑
光功率曲线图；图5是本专利技术实施例中四个通道的温度
‑
光功率曲线图。
具体实施方式
[0012]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0013]本实施例提供了一种多通道光模块波长调试方法，具体包括如下步骤：(1)确定TEC的初始温度，并以ΔT为步进，记录不同温度下光模块各个通道的输出光功率和波长，绘制出光模块各个通道的温度
‑
光功率曲线。其中，TEC的初始温度的选取条件为使获得的各个通道的温度
‑
光功率曲线有完整的平坦区域，同时读取对应通道的波长覆盖协议波长的范围；ΔT通常设置为1℃。
[0014]需要说明的是，本专利技术中光功率平坦区域、光功率平坦区域的左安全边界、右安全边界、目标波长的定义如下：如图4所示，以光功率较光功率最大的点跌落达到ΔP时左右两个点a、b为边界，a、b点之间的区域定义为光功率的平坦区域，a点定义为光功率平坦区域的左边界，b点定义为
光功率平坦区域的右边界，a、b点的中点c定义为光功率平坦区域的中点。左边界a点对应的横坐标增加Δt后对应的光功率d点定义为光功率平坦区域的左安全边界， 右边界b点对应的横坐标减去Δt后对应的光功率e点定义为光功率平坦区域的右安全边界。一般ΔP取值为1～2dBm，Δt取值为1～3℃。
[0015]目标波长为协议波长范围内缩Δλ后的波长范围，比如协议波长的范围为1294.53～1296.59nm，那么当Δλ=0.2nm时，目标波长的范围为1294.73～1296.39nm。
[0016](2)获取光模块各个通道的目标波长上、下限值所对应的温度T
上
和T
下
，以及在各个通道的温度
‑
光功率曲线中找出光功率平坦区本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多通道光模块波长调试方法，其特征在于，包括如下步骤：1)确定TEC的初始温度，并以ΔT为步进，记录不同温度下光模块各个通道的输出光功率和波长，绘制出光模块各个通道的温度
‑
光功率曲线；2)获取光模块各个通道的目标波长上、下限值所对应的温度T
上
和T
下
，以及各个通道的温度
‑
光功率曲线中光功率平坦区域的左安全边界温度T
左
'和右安全边界温度T
右
'；3)比较每一个通道的T
上
、T
下
、T
左
'、T
右
'，若任一个通道的T
下
＞T
右
'，或者T
上
＜T
左
'，则光模块产品判定为不良品，进行返修；否则进入步骤4)；4)比较每一个通道的T
上
、T
下
、T
左
'、...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢顶波，唐永正，朱德锋，李波，
申请(专利权)人：武汉英飞光创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：