一种可调标距式变形测量装置制造方法及图纸

技术编号:37044260 阅读:11 留言:0更新日期:2023-03-29 19:23
本发明专利技术公开了一种可调标距式变形测量装置,包括两根参比排、一个固定支撑、一个滑动支撑、并一起组成一个长方形框架;所述参比排轴向长边的中心线位置为试样夹持中心线位置;固定支撑可以在参比排上横向调整位置,达到符合试样要求的标距,位置调整好后,用螺钉锁紧固定;滑动支撑夹紧在滑动套上,滑动套和参比排同轴、可沿参比排作轴向相对滑动,上下两个位移传感器分别安装在滑动支撑两侧、随滑动支撑沿参比排轴向滑动;该发明专利技术机械结构稳定性好;可根据试样要求,标距可调;在标距位置上直接固定在试样上,仅仅直接面向试样的变形量,不涉及其它环节的误差影响,测量变形量准确;采用高精度的位移传感器,测量精度高、准确可靠。准确可靠。准确可靠。

【技术实现步骤摘要】
一种可调标距式变形测量装置


[0001]本专利技术涉及属于测量设备
,具体的说,尤其涉及一种可调标距式变形测量装置。

技术介绍

[0002]架空线蠕变在架空输电导线运行过程中的弧垂变化上起主导作用,因此,通过试验,预测架空线的蠕变速率,对于保证输电线路的安全运行至关重要。其中,在架空线蠕变试验中,精确测量变形量参数,是试验、检测的必要要求。
[0003]本专利技术,采用引伸计的设计原理,可以实时地直接测量标距内的变形量,测量数据准确、可靠。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种可调标距式变形测量装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种可调标距式变形测量装置,包括两根参比排、一个固定支撑、一个滑动支撑、并一起组成一个长方形框架;所述参比排轴向长边的中心线位置为试样夹持中心线位置;固定支撑可以在参比排上横向调整位置,达到符合试样要求的标距,位置调整好后,用螺钉锁紧固定;滑动支撑夹紧在滑动套上,滑动套和参比排同轴、可沿参比排作轴向相对滑动,上下两个位移传感器分别安装在滑动支撑两侧、随滑动支撑沿参比排轴向滑动;在参比排的滑动支撑端,分别固定一个圆盘,圆盘初始和位移传感器的芯杆紧靠,圆盘随参比排和位移传感器作相对运动,其相对运动量即为试样变形量。
[0006]优选的,所述测量装置为长方川型结构。
[0007]优选的,调节所述固定支撑和滑动支撑之间的距离,夹持、固定在试样上,固定支撑和滑动支撑之间的距离构成试样的变形测量的标距。
[0008]优选的,所述滑动支撑为位移传感器的支座、并带动位移传感器沿着参比排作轴向滑动。
[0009]优选的,采用支撑圆盘推压位移传感器芯杆,反映位移传感器与参比排之间的相对运动,从而测量出试样的变形量。
[0010]有益效果:本专利技术的有益效果是:本专利技术的一种可调标距式变形测量装置具有:
[0011]1、本专利技术结构合理,精度高,测量准确;
[0012]2、本专利技术机械结构稳定性好;
[0013]3、本专利技术根据试样要求,标距可调;
[0014]4、本专利技术在标距位置上直接固定在试样上,仅仅直接面向试样的变形量,不涉及其它环节的误差影响,测量变形量准确;
[0015]5、本专利技术采用高精度的位移传感器,测量精度高、准确可靠。
附图说明
[0016]图1为本专利技术的一种可调标距式变形测量装置的结构示意图;
[0017]图2为本专利技术的一种可调标距式变形测量装置的左视图;
[0018]图3为本专利技术的一种可调标距式变形测量装置的右视图;
[0019]图4为本专利技术的一种可调标距式变形测量装置的立体图。
[0020]附图中:1、参比排;2、固定支撑;3、滑动支撑;4、试样;5、位移传感器;6、滑动套;7、支撑圆盘。
具体实施方式
[0021]下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。
[0022]一种可调标距式变形测量装置,包括两根参比排1、一个固定支撑2、一个滑动支撑3、并一起组成一个长方形框架;所述参比排1轴向长边的中心线位置为试样4夹持中心线位置;固定支撑2可以在参比排1上横向调整位置,达到符合试样要求的标距,位置调整好后,用螺钉锁紧固定;滑动支撑3夹紧在滑动套6上,滑动套6和参比排1同轴、与参比排1作轴向相对滑动,上下两个位移传感器5分别安装在滑动支撑3两侧、随滑动支撑3沿参比排1轴向滑动;在参比排1的滑动支撑3端,分别固定一个圆盘7,圆盘7初始和位移传感器5的芯杆紧靠,圆盘7随参比排1和位移传感器5作相对运动,其相对运动量即为试样变形量。
[0023]本专利技术中,所述测量装置为长方川型结构。
[0024]本专利技术中,调节所述固定支撑2和滑动支撑3之间的距离,夹持、固定在试样上,固定支撑2和滑动支撑3之间的距离构成试样的变形测量的标距。
[0025]本专利技术中,所述滑动支撑3为位移传感器5的支座、并带动位移传感器5沿着参比排1作轴向滑动。
[0026]本专利技术中,采用支撑圆盘7推压位移传感器5芯杆,反映位移传感器5与参比排1之间的相对运动,从而测量出试样的变形量。
[0027]本专利技术的一种可调标距式变形测量装置具有以下优点:
[0028]1、本专利技术结构合理,精度高,测量准确;
[0029]2、本专利技术机械结构稳定性好;
[0030]3、本专利技术根据试样要求,标距可调;
[0031]4、本专利技术在标距位置上直接固定在试样上,仅仅直接面向试样的变形量,不涉及其它环节的误差影响,测量变形量准确;
[0032]5、本专利技术采用高精度的位移传感器,测量精度高、准确可靠。
[0033]以上的具体实施例,对本专利技术的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上仅为本专利技术的具体实施例而已,并不用于限制本专利技术,凡在本专利技术的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本专利技术的保护范围之内。
[0034]在本专利技术的描述中,需要理解的是,指示方位或位置关系的术语为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0035]在本专利技术中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等
术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0036]在本专利技术的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0037]此外,术语“水平”、“竖直”、“悬垂”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂,而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平,并不是表示该结构一定要完全水平,而是可以稍微倾斜。
[0038]在本专利技术中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之上或之下可以包括第一和第二特征直接接触,也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征之上、上方和上面包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可调标距式变形测量装置,其特征在于:包括两根参比排、一个固定支撑、一个滑动支撑、并一起组成一个长方形框架;所述参比排轴向长边的中心线位置为试样夹持中心线位置;固定支撑可以在参比排上横向调整位置,达到符合试样要求的标距,位置调整好后,用螺钉锁紧固定;滑动支撑夹紧在滑动套上,滑动套和参比排同轴、可沿参比排作轴向相对滑动,上下两个位移传感器分别安装在滑动支撑两侧、随滑动支撑沿参比排轴向滑动;在参比排的滑动支撑端,分别固定一个圆盘,圆盘初始和位移传感器的芯杆紧靠,圆盘随参比排和位移传感器作相对运动,其相对运动量即为试样变形量。2.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员:王文丽陈伟英张霆锋
申请(专利权)人:济南一格仪器设备有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1