伺服机构性能测试方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:37043956 阅读:17 留言:0更新日期:2023-03-29 19:23
本发明专利技术提供一种伺服机构性能测试方法、装置、设备及可读存储介质,伺服机构性能测试方法包括:调取伺服机构对应的数据库文件,按预设周期把性能测试界面控件上的输入信号通过数据库文件链接作为输入至伺服机构的控制物理量;基于CAN消息触发事件或状态触发事件采集反馈物理量,所述反馈物理量为伺服机构中的执行机构与所述控制物理量对应的反馈量;基于不同曲线类型的输入信号对所述控制物理量与所述反馈物理量进行对应的数据处理,得到数据处理结果;将性能测试界面窗口环境变量链接于所述数据处理结果,基于所述数据处理结果显示伺服机构性能指标对应物理量。本发明专利技术的伺服机构性能测试方法可根据测试灵活配置,且涉及到的测试设备通用便携。的测试设备通用便携。的测试设备通用便携。

【技术实现步骤摘要】
伺服机构性能测试方法、装置、设备及可读存储介质


[0001]本专利技术涉及伺服机构测试
,尤其涉及一种伺服机构性能测试方法、装置、设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]伺服机构性能测试在整个航天型号产品研制过程中具有非常重要的地位。通过伺服机构性能测试可以验证伺服机构是否满足性能指标要求,是确保航天型号产品飞行试验成功的保证。
[0003]目前航天型号产品的伺服机构性能测试方法一般通过设计专用测试工装,基于测试工装进行上位机和下位机软件开发,配合单机供电电源对伺服机构进行测试。由于各个不同航天型号产品的测试工装并不通用,使得测试设备重复投入,开发周期长,人力成本高。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于提供一种伺服机构性能测试方法、装置、设备及可读存储介质,旨在解决由于不同航天型号的伺服机构对应的测试工装并不通用,现有基于专用测试工装进行伺服机构性能测试的方式会导致测试成本高以及开发周期长的技术问题。
[0005]第一方面,本专利技术提供一种伺服机构性能测试方法,所述伺服机构性能测试方法包括以下步骤:
[0006]调取伺服机构对应的数据库文件,按预设周期把性能测试界面控件上的输入信号通过数据库文件链接作为输入至伺服机构的控制物理量;
[0007]基于CAN消息触发事件或状态触发事件采集反馈物理量,所述反馈物理量为伺服机构中的执行机构与所述控制物理量对应的反馈量;
[0008]基于不同曲线类型的输入信号对所述控制物理量与所述反馈物理量进行对应的数据处理,得到数据处理结果;
[0009]将性能测试界面窗口环境变量链接于所述数据处理结果,基于所述数据处理结果显示伺服机构性能指标对应物理量。
[0010]可选的,在所述调取伺服机构对应的数据库文件,按预设周期把性能测试界面控件上的输入信号通过数据库文件链接作为输入至伺服机构的控制物理量的步骤之前包括:
[0011]建立伺服机构对应的消息协议族;
[0012]基于所述消息协议族配置伺服机构对应的基础数据库;
[0013]对性能测试界面进行控件设置以及性能指标对应物理量的显示设置;
[0014]在对应编译环境下进行CAN消息触发事件与状态触发事件函数的预编译,其中,状态触发事件包括控件触发事件与定时器触发事件。
[0015]可选的,所述输入信号包括电压信号、电流信号以及角度信号;所述对应不同曲线类型的输入信号包括阶跃信号、正余弦信号、方波信号以及直线信号。
[0016]可选的,所述基于不同曲线类型的输入信号对所述控制物理量与所述反馈物理量进行对应的数据处理,得到数据处理结果的步骤包括:
[0017]若所述输入信号为阶跃信号,则基于所述反馈物理量,提取出斜率与半波震荡次数;
[0018]对比所述控制物理量与所述反馈物理量,确定输入信号响应的延迟,其中,数据处理结果包括所述斜率、半波震荡次数与输入信号响应的延迟。
[0019]可选的,所述基于不同曲线类型的输入信号对所述控制物理量与所述反馈物理量进行对应的数据处理,得到数据处理结果的步骤包括:
[0020]若所述输入信号为正余弦信号,则对比伺服机构空载状态与满载状态下多个不同频率下的输入信号对应的所述控制物理量与所述反馈物理量,确定伺服机构空载状态与满载状态下的频率响应能力,其中,数据处理结果包括伺服机构空载状态与满载状态下的频率响应能力。
[0021]第二方面,本专利技术还提供一种伺服机构性能测试装置,所述伺服机构性能测试装置包括:
[0022]输入模块,用于调取伺服机构对应的数据库文件,按预设周期把性能测试界面控件上的输入信号通过数据库文件链接作为输入至伺服机构的控制物理量;
[0023]采集模块,用于基于CAN消息触发事件或状态触发事件采集反馈物理量,所述反馈物理量为伺服机构中的执行机构与所述控制物理量对应的反馈量;
[0024]数据处理模块,用于基于不同曲线类型的输入信号对所述控制物理量与所述反馈物理量进行对应的数据处理,得到数据处理结果;
[0025]显示模块,用于将性能测试界面窗口环境变量链接于所述数据处理结果,基于所述数据处理结果显示伺服机构性能指标对应物理量。
[0026]可选的,所述伺服机构性能测试装置还包括构建模块,用于:
[0027]建立伺服机构对应的消息协议族;
[0028]基于所述消息协议族配置伺服机构对应的基础数据库;
[0029]对性能测试界面进行控件设置以及性能指标对应物理量的显示设置;
[0030]在对应编译环境下进行CAN消息触发事件与状态触发事件函数的预编译,其中,状态触发事件包括控件触发事件与定时器触发事件。
[0031]可选的,所述输入信号包括电压信号、电流信号以及角度信号;所述对应不同曲线类型的输入信号包括阶跃信号、正余弦信号、方波信号以及直线信号。
[0032]可选的,所述数据处理模块,具体用于:
[0033]若所述输入信号为阶跃信号,则基于所述反馈物理量,提取出斜率与半波震荡次数;
[0034]对比所述控制物理量与所述反馈物理量,确定输入信号响应的延迟,其中,数据处理结果包括所述斜率、半波震荡次数与输入信号响应的延迟。
[0035]可选的,所述数据处理模块,还具体用于:
[0036]若所述输入信号为正余弦信号,则对比伺服机构空载状态与满载状态下多个不同频率下的输入信号对应的所述控制物理量与所述反馈物理量,确定伺服机构空载状态与满载状态下的频率响应能力,其中,数据处理结果包括伺服机构空载状态与满载状态下的频
率响应能力。
[0037]第三方面,本专利技术还提供一种伺服机构性能测试设备,所述伺服机构性能测试设备包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的伺服机构性能测试程序,其中所述伺服机构性能测试程序被所述处理器执行时,实现如上述所述的伺服机构性能测试方法的步骤。
[0038]第四方面,本专利技术还提供一种可读存储介质,所述可读存储介质上存储有伺服机构性能测试程序,其中所述伺服机构性能测试程序被处理器执行时,实现如上述所述的伺服机构性能测试方法的步骤。
[0039]本专利技术提供一种伺服机构性能测试方法、装置、设备及可读存储介质,伺服机构性能测试方法包括:调取伺服机构对应的数据库文件,按预设周期把性能测试界面控件上的输入信号通过数据库文件链接作为输入至伺服机构的控制物理量;基于CAN消息触发事件或状态触发事件采集反馈物理量,所述反馈物理量为伺服机构中的执行机构与所述控制物理量对应的反馈量;基于不同曲线类型的输入信号对所述控制物理量与所述反馈物理量进行对应的数据处理,得到数据处理结果;将性能测试界面窗口环境变量链接于所述数据处理结果,基于所述数据处理结果显示伺服机构性能指标对应物理量。本专利技术的伺服机构性能测试方法可根据测试灵活配置,且涉及到的测试设备通用便携。
附图说明
[0040]本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种伺服机构性能测试方法,其特征在于,所述伺服机构性能测试方法包括:调取伺服机构对应的数据库文件,按预设周期把性能测试界面控件上的输入信号通过数据库文件链接作为输入至伺服机构的控制物理量;基于CAN消息触发事件或状态触发事件采集反馈物理量,所述反馈物理量为伺服机构中的执行机构与所述控制物理量对应的反馈量;基于不同曲线类型的输入信号对所述控制物理量与所述反馈物理量进行对应的数据处理,得到数据处理结果;将性能测试界面窗口环境变量链接于所述数据处理结果,基于所述数据处理结果显示伺服机构性能指标对应物理量。2.如权利要求1所述的伺服机构性能测试方法,其特征在于,在所述调取伺服机构对应的数据库文件,按预设周期把性能测试界面控件上的输入信号通过数据库文件链接作为输入至伺服机构的控制物理量的步骤之前包括:建立伺服机构对应的消息协议族;基于所述消息协议族配置伺服机构对应的基础数据库;对性能测试界面进行控件设置以及性能指标对应物理量的显示设置;在对应编译环境下进行CAN消息触发事件与状态触发事件函数的预编译,其中,状态触发事件包括控件触发事件与定时器触发事件。3.如权利要求1所述的伺服机构性能测试方法,其特征在于,所述输入信号包括电压信号、电流信号以及角度信号;所述对应不同曲线类型的输入信号包括阶跃信号、正余弦信号、方波信号以及直线信号。4.如权利要求1所述的伺服机构性能测试方法,其特征在于,所述基于不同曲线类型的输入信号对所述控制物理量与所述反馈物理量进行对应的数据处理,得到数据处理结果的步骤包括:若所述输入信号为阶跃信号,则基于所述反馈物理量,提取出斜率与半波震荡次数;对比所述控制物理量与所述反馈物理量,确定输入信号响应的延迟,其中,数据处理结果包括所述斜率、半波震荡次数与输入信号响应的延迟。5.如权利要求1所述的伺服机构性能测试方法,其特征在于,所述基于不同曲线类型的输入信号对所述控制物理量与所述反馈物理量进行对应的数据处理,得到数据处理结果的步骤包括:若所述输入信号为正余弦信号,则对比伺服机构空载状态与满载状态下多个不同频率...

【专利技术属性】
技术研发人员:王卓刘丹程炼李朝波赵启扬张培喜席茂军杨贤哲宋长哲
申请(专利权)人:湖北航天技术研究院总体设计所
类型:发明
国别省市:

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