易变形薄壁圆环内圆测量棒制造技术

本实用新型专利技术公开一种易变形薄壁圆环内圆测量棒，包括一本体，所述本体为由下而上成锥形的棒体；所述棒体的前端设有导向部，所述棒体上设有测量区间，所述测量区间的尺寸包括了待测圆环内圆直径的上下公差尺寸；所述本体的末端设有防滑部。本申请的操作简单，避免了在测量过程中对零件造成永久变形而导致报废，在生产线上使用便捷效率高并且不受场地限制，适用大批量易变形圆环类零件的检测。用大批量易变形圆环类零件的检测。用大批量易变形圆环类零件的检测。

【技术实现步骤摘要】
易变形薄壁圆环内圆测量棒


[0001]本技术涉及精密零部件测量领域，更具体地说，是易变形薄壁圆环内圆测量棒。

技术介绍

[0002]传统的量产零件中的内孔测量，普遍是采用通止规来完成检测。检测效率和准确率都能够得到保证。但是当面对易变形薄壁零件的内圆测量时，再采用通规和止规形式的话就容易造成零件在测量过程中的变形，从而导致零件报废。传统的塞规在检测过程中通端由于没有有效的导向会造成圆环零件未垂直于通规测量的情况从而导致测量误判，而当易变形薄壁件在用塞规的止端检测时由于力的大小把握不当极会造成产品变形导致报废。
[0003]高精度的影像仪测试这类零件是完全能够满足的，但是它只能在检验室里作首件和末件检测用，这是由于产线上的环境和设备本身的外形制约以及测量效率等因素使得它很难有机的串联到生产线上。一旦遇到薄壁圆环类零件需要表面处理时，现场更需要有一款便于使用的检测工具来应对。

技术实现思路

[0004]本申请提出一种易变形薄壁圆环内圆测量棒，其目的在于克服传统通止规检测导致零件易变形的问题，提供一种能够用于生产线上且不会导致易变形薄壁圆环变形的检测工具。
[0005]为达到上述技术目的，本申请采用下述技术方案：
[0006]易变形薄壁圆环内圆测量棒，包括一本体，所述本体为由下而上成锥形的棒体；所述棒体的前端设有导向部，所述棒体上设有测量区间，所述测量区间的尺寸包括了待测圆环内圆直径的上下公差尺寸；所述本体的末端设有防滑部。
[0007]较佳的是，所述本体的锥度为0.1
°
。
[0008]较佳的是，所述测量区间上设置有刻度线。
[0009]较佳的是，所述本体的材质为SKD11。
[0010]由于采用上述技术方案，本申请的操作简单，避免了在测量过程中对零件造成永久变形而导致报废，在生产线上使用便捷效率高并且不受场地限制，适用大批量易变形圆环类零件的检测。
附图说明
[0011]图1为本申请的结构示意图。
具体实施方式
[0012]下面通过实施例，并结合附图，对本技术的技术方案作进一步具体的说明。
[0013]参见图1所示，为本申请的一实施例结构示意图。该实施例中的易变形薄壁圆环内
圆测量棒包括了一本体1，所述本体为一带0.1
°
锥度的棒体，本体1的前端即为椎体顶端。为了能够便捷的插入待测圆环内圆中，在本体1的前端设置了向内倒角为30
°
的导向部11。
[0014]在本体1上设置了测量区间12。测量区间12的尺寸包括了待测圆环内圆直径的上下公差尺寸，如图所示，测量区间12的两端分别设置了一上一下两个刻度线121和122。下方刻度线121为待测圆环内圆直径减去公差尺寸的数值，上方刻度线122为待测圆环内圆直径加上公差尺寸的数值。当待测圆环停留在两个刻度之间时，判定该待测圆环的内圆是符合要求的，反之判定为不合格。
[0015]本体设置为0.1
°
锥度,可以达成比较合理的上限和下限的目测带。更重要的是，当锥度为0.1时我们在测量的过程中施加在零件上的轴向推力会很小，这样就能有效的防止薄壁零件的变形。
[0016]本体1的末端设置有网纹滚花的防滑部13，以便于操作时稳定的被操作者握住。
[0017]该测量棒材料为SKD11，经车加工
→
热处理(HRC60～62)
→
外圆磨锥度
→
精研
→
标准环定刻度等工序制作而成。测量精准而结构和操作都很简单。
[0018]本申请通过导向部并结合锥度本体直插式的测量方式可以避免在测量过程中对零件造成永久变形而导致报废。在生产线上使用便捷效率高并且不受场地限制，适用大批量易变形圆环类零件的检测
[0019]以上所述的实施方式仅用于说明本技术而不用于限制本技术的范围。本领域技术人员对本技术所做的均等变化与修饰，皆应属于本技术所附的权利要求书的涵盖范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.易变形薄壁圆环内圆测量棒，其特征在于，包括一本体，所述本体为由下而上成锥形的棒体；所述棒体的前端设有导向部，所述棒体上设有测量区间，所述测量区间的尺寸包括了待测圆环内圆直径的上下公差尺寸；所述本体的末端设有防滑部。2.根据权利要求1所述的易变形薄壁圆环内圆测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦力，
申请(专利权)人：三佳机械上海有限公司，
类型：新型
国别省市：