导通测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种导通测试系统，包括传输模块及沿一传输方向依次设置在传输模块上的整形平台、搬运机构和电测平台。其中，整形平台用于将待测产品的待测部与产品主体相互固定，并用于对待测部进行整形，使得待测部的形状能够被整形到理论范围内；电测平台具有在一压靠方向上尺寸可变的电测型腔，搬运机构用于将待测产品从整形平台转移至电测平台，并在转移过程中维持待测部与产品主体的相对位置，使得待测部的形状，及待测部与产品主体的相对位置始终能够保持不变，从而使待测部能够精确地被按压入电测平台的电测型腔内，保证了待测部的压接导通，有效地提高了测试精度。且全套工艺流程均能自动完成，因而减少了人力成本，使得测试效率大幅提高。效率大幅提高。效率大幅提高。

【技术实现步骤摘要】
导通测试系统


[0001]本专利技术涉及电子产品测试
，特别是涉及一种导通测试系统。

技术介绍

[0002]随着科技的发展，电子产品不断地迭代更新，其制造工艺越发复杂、结构设计趋于精密，并且功能也更加全面。鉴于此，保障电子产品的性能及其质量是电子产品生产工艺中至关重要的环节。通常电子产品在出厂前需要对其各个性能参数进行测试，一般是将待测产品的接插件精确地按压入检测专用的电测型腔内，使接插件与测试设备导通，通过测试设备输出待测信号进行导通测试，从而能够接收待测产品反馈的信息，以确认待测产品是否存在不良之处。
[0003]然而，通常接插件比较柔软，因此接插件在传输过程中容易被多次折弯，使得接插件的来料形状极其不规则，甚至在被测试之前接插件也可能具有较大的变形，并且待测产品在转移过程中，如不对接插件进行整形，且如果不能有效固定产品主体与接插件的相对位置，接插件与产品主体之间就会存在相对的位移变化，以上因素都导致接插件不能被精确地按压入电测型腔内，从而影响了压接导通以及测试效率。同时由于上下料作业、整形作业以及导通测试作业均需在不同的平台上完成，如不能进行良好地衔接，也会导致导通测试的效率较低。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对现有的导通测试系统测试精度不高及自动化程度不高导致测试效率较低的问题，提供一种自动化程度高，且具有较高测试精度的导通测试系统。
[0005]根据本申请的一个方面，提供一种导通测试系统，包括：传输模块及沿一传输方向依次设置在所述传输模块上的整形平台、搬运机构和电测平台；
[0006]其中，所述整形平台用于将一待测产品的待测部与所述待测产品的产品主体相互固定，并用于对所述待测部进行整形；
[0007]所述电测平台具有在一压靠方向上尺寸可变的电测型腔，所述电测平台用于对将所述待测部固定在所述电测型腔内，以能够对所述待测部进行导通测试；
[0008]所述搬运机构用于将所述待测产品从所述整形平台转移至所述电测平台，并在转移过程中维持所述待测部与所述产品主体的相对位置，以使所述待测部能够被按压入所述电测型腔。
[0009]在其中一个实施例中，所述导通测试系统具有沿所述传输方向依次间隔设置的整形工位、拍照工位和电测工位，所述拍照工位设有拍照相机，所述拍照相机用于拍照定位所述待测产品相对所述电测平台的位置，以使所述搬运机构能够将所述待测部准确按压入所述电测型腔中。
[0010]在其中一个实施例中，所述传输模块包括沿所述传输方向依次间隔设置的第一直线模组、第二直线模组及第三直线模组，所述整形平台可活动地安装在所述第一直线模组
上，以能够往返于所述整形工位和所述拍照工位，所述搬运机构可活动地配接在所述第二直线模组上，以能够往返于所述拍照工位和所述电测工位，所述电测平台可活动地安装在所述第三直线模组上，以能够在所述搬运机构将所述待测产品转移至所述电测工位时调整所述电测平台与所述待测产品的相对位置。
[0011]在其中一个实施例中，所述传输模块还包括升降直线模组，所述升降直线模组可活动地安装在所述第二直线模组上，并可沿所述传输方向相对所述第二直线模组运动，所述搬运机构可活动地安装在所述升降直线模组上，以通过所述升降直线模组配接于所述第二直线模组，所述搬运机构能够可受控地相对所述升降直线模组上下移动。
[0012]在其中一个实施例中，所述整形平台包括第一支撑板和整形机构，所述整形机构设在所述第一支撑板上，所述第一支撑板用于承载所述产品主体，所述整形机构具有压头组件和至少两个推头组件，每个所述推头组件具有第一滑移面，所述压头组件具有至少两个与对应的一个所述第一滑移面平行且在一水平方向上相对设置的第二滑移面，在自上而下的方向上，两个所述第二滑移面之间的距离逐渐增大；
[0013]所述至少两个推头组件能够可受控地沿所述水平方向相互靠近或远离，使所述第一滑移面贴合于所述第二滑移面且相对所述第二滑移面移动，以夹紧或释放所述待测产品的待测部，并带动所述压头组件上下移动，以对所述待测产品的待测部进行整形。
[0014]在其中一个实施例中，每个所述推头组件包括相互连接的推头和第一楔形块，所述压头组件包括相互连接的压块和第二楔形块，所述第一楔形块通过所述第二楔形块配接于所述压块，所述第一滑移面设置于所述第一楔形块上，所述第二滑移面设置于所述第二楔形块上；
[0015]所述整形机构还包括支撑座，所述支撑座开设有一安装位，所述推头和所述压块部分设置于所述安装位内，所述推头具有一用于夹持所述待测部的夹持部，所述夹持部外露于所述安装位，所述支撑座的侧壁还开设有一连通于所述安装位的通孔，所述压块部分外露于所述通孔，相对设置的两个所述推头的所述夹持部在所述水平方向上位于所述压头的相对两侧，所述夹持部、所述压块、所述第一支撑板及所述支撑座共同在所述支撑座外形成一用于容纳所述待测部的整形间隙。
[0016]在其中一个实施例中，所述搬运机构包括:
[0017]支架，可活动地连接于所述传输模块；
[0018]夹爪组件，配接于所述支架，所述夹爪组件具有至少两个相对设置的夹爪，两个相对设置的所述夹爪能够可受控地相互靠近，以夹紧所述待测部；
[0019]吸附组件，可活动地安装在所述支架上，所述吸附组件能够可受控地相对所述夹爪组件上下移动，以能在所述夹爪组件夹紧所述待测部之前吸附所述产品主体。
[0020]在其中一个实施例中，所述搬运机构还包括旋转组件，所述夹爪组件通过所述旋转组件配接于所述支架，所述旋转组件能够驱动所述夹爪组件绕一垂直于所述传输方向的轴线转动。
[0021]在其中一个实施例中，所述电测平台包括：
[0022]底座，可活动地安装在所述传输模块上；
[0023]第二支撑板，可活动地安装在所述底座上，并能可受控地相对所述底座上下移动，所述第二支撑板用于承载所述产品主体；
[0024]电测机构，包括固定块、预压块和终压块，所述固定块固定设置在所述底座上，所述预压块可活动地配接于所述固定块，并可相对所述固定块沿所述压靠方向往复移动，所述预压块的一侧表面与所述固定块的一侧表面相对设置并共同形成所述电测型腔，所述终压块可活动地设置在所述第二支撑板上，并可相对所述第二支撑板沿所述压靠方向往复移动。
[0025]在其中一个实施例中，所述电测机构还包括轨迹引导块，所述轨迹引导块可活动地配接于所述预压块，并且所述轨迹引导块具有一引导面，所述预压块还能够可受控地相对所述固定块和所述轨迹引导块上下移动，以使所述引导面能够引导所述预压块在上下移动的同时沿所述压靠方向往复移动。
[0026]在其中一个实施例中，所述预压块上设有一滑动体，所述滑动体可活动地连接于所述引导面，所述引导面包括依次相连的第一引导面、第二引导面和第三引导面，在所述压靠方向上，所述第三引导面与所述预压块靠近所述固定块一侧表面的延长面之间的距离大于所述第一引导面与所述预压块靠近所述固定块一侧表面的延长面之间的距离；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种导通测试系统，其特征在于，包括：传输模块及沿一传输方向依次设置在所述传输模块上的整形平台、搬运机构和电测平台；其中，所述整形平台用于将一待测产品的待测部与所述待测产品的产品主体相互固定，并用于对所述待测部进行整形；所述电测平台具有在一压靠方向上尺寸可变的电测型腔，所述电测平台用于将所述待测部固定在所述电测型腔内，以能够对所述待测部进行导通测试；所述搬运机构用于将所述待测产品从所述整形平台转移至所述电测平台，并在转移过程中维持所述待测部与所述产品主体的相对位置，以使所述待测部能够被按压入所述电测型腔。2.根据权利要求1所述的导通测试系统，其特征在于，所述导通测试系统具有沿所述传输方向依次间隔设置的整形工位、拍照工位和电测工位，所述拍照工位设有拍照相机，所述拍照相机用于拍照定位所述待测产品相对所述电测平台的位置，以使所述搬运机构能够将所述待测部准确按压入所述电测型腔中。3.根据权利要求2所述的导通测试系统，其特征在于，所述传输模块包括沿所述传输方向依次间隔设置的第一直线模组、第二直线模组及第三直线模组，所述整形平台可活动地安装在所述第一直线模组上，以能够往返于所述整形工位和所述拍照工位，所述搬运机构可活动地配接在所述第二直线模组上，以能够往返于所述拍照工位和所述电测工位，所述电测平台可活动地安装在所述第三直线模组上，以能够在所述搬运机构将所述待测产品转移至所述电测工位时调整所述电测平台与所述待测产品的相对位置。4.根据权利要求3所述的导通测试系统，其特征在于，所述传输模块还包括升降直线模组，所述升降直线模组可活动地安装在所述第二直线模组上，并可沿所述传输方向相对所述第二直线模组运动，所述搬运机构可活动地安装在所述升降直线模组上，以通过所述升降直线模组配接于所述第二直线模组，所述搬运机构能够可受控地相对所述升降直线模组上下移动。5.根据权利要求1所述的导通测试系统，其特征在于，所述整形平台包括第一支撑板和整形机构，所述整形机构设在所述第一支撑板上，所述第一支撑板用于承载所述产品主体，所述整形机构具有压头组件和至少两个推头组件，每个所述推头组件具有第一滑移面，所述压头组件具有至少两个与对应的一个所述第一滑移面平行且在一水平方向上相对设置的第二滑移面，在自上而下的方向上，两个所述第二滑移面之间的距离逐渐增大；所述至少两个推头组件能够可受控地沿所述水平方向相互靠近或远离，使所述第一滑移面贴合于所述第二滑移面且相对所述第二滑移面移动，以夹紧或释放所述待测产品的待测部，并带动所述压头组件上下移动，以对所述待测产品的待测部进行整形。6.根据权利要求5所述的导通测试系统，其特征在于，每个所述推头组件包括相互连接的推头和第一楔形块，所述压头组件包括相互连接的压块和第二楔形块，所述第一楔形块通过所述第二楔形块配接于所述压块，所述第一滑移面设置于所述第一楔形块上，所述第二滑移面设置于所述第二楔形块上；所述整形机构还包括支撑座，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：倪佳斌，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：