排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质，属于计算机技术领域。其中，排查硬盘布线设计的方法，包括：获取硬盘布线设计的拓扑图；基于硬盘布线设计的拓扑图，建立线距分析表；基于线距分析表对硬盘布线设计进行布线验证，确定硬盘布线设计符合布线规范。实现了硬盘布线设计的自动检测，提高了检视效率、减少检视人员的检视时间以及减少因人为失误导致的误判。少因人为失误导致的误判。少因人为失误导致的误判。

【技术实现步骤摘要】
排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及计算机
，尤其涉及一种排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在服务器硬件设计中，硬盘布线设计是非常重要的一个环节，如果硬盘布线设计不良，将导致电路阻抗增大，甚至导致服务器损坏。因此，需要对硬盘布线设计进行严格的检测。现有技术是通过在设计阶段进行硬盘布线设计评审，检视每段高速线距的差异。目前检视工作是靠人力完成的，当硬盘中串行总线总数过多时，需要检视人员花费较长的检视时间，且存在因人为失误导致误判的现象。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质，用以解决现有技术中通过人力进行排查硬盘布线设计，花费时间较长且存在误判的缺陷，实现排查硬盘布线设计的自动检测，提高了检视效率、减少检视人员的检视时间、以及减少因人为失误导致的误判。
[0004]第一方面，本专利技术提供一种排查硬盘布线设计的方法，包括：
[0005]获取硬盘布线设计的拓扑图；
[0006]基于所述硬盘布线设计的拓扑图，建立线距分析表；
[0007]基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证，确定所述硬盘布线设计符合布线规范。
[0008]在一些实施例中，所述基于所述硬盘布线设计的拓扑图，建立线距分析表，包括：
[0009]基于所述硬盘布线设计的拓扑图和布线规范，确定所述线距分析表中各待分析线段；
[0010]基于所述硬盘布线设计的拓扑图，获取所述线距分析表中各待分析线段的走线长度，将所述走线长度填入所述线距分析表中。
[0011]在一些实施例中，所述基于所述硬盘布线设计的拓扑图，获取所述线距分析表中各待分析线段的走线长度，包括：
[0012]通过布局程式提取所述硬盘布线设计的拓扑图中各种线段的命名及走线长度；
[0013]通过命名方式，从所述硬盘布线设计的拓扑图中各种线段的命名中找出与所述线距分析表中各待分析线段对应一致的命名，并自动匹配出所述线距分析表中各待分析线段的走线长度。
[0014]在一些实施例中，所述基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证，确定所述硬盘布线设计符合布线规范，包括：
[0015]基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度，对所述硬盘布线设计进行总长验证，得到总长验证结果；
[0016]基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度，对所述硬盘布线设计进行差分对等长验证，得到差分对等长验证结果；
[0017]基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度，对所述硬盘布线设计进行绑定组别等长验证，得到绑定组别等长验证结果；
[0018]基于所述总长验证结果、差分对等长验证结果以及绑定组别等长验证结果，确定所述硬盘布线设计符合布线规范。
[0019]在一些实施例中，所述基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度，对所述硬盘布线设计进行总长验证，得到总长验证结果，包括：
[0020]基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度，计算各待分析线段的走线长度之和，得到第一长度；
[0021]确定所述第一长度是否满足硬盘布线设计的总长限制，得到总长验证结果。
[0022]在一些实施例中，所述基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度，对所述硬盘布线设计进行差分对等长验证，得到差分对等长验证结果，包括：
[0023]基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度，计算各差分对的长度之差的绝对值；
[0024]确定所述各差分对的长度之差的绝对值是否满足硬盘布线设计的差分对对齐要求，得到差分对等长验证结果。
[0025]在一些实施例中，所述基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度，对所述硬盘布线设计进行绑定组别等长验证，得到绑定组别等长验证结果，包括：
[0026]基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度，计算各绑定组别的长度之差的绝对值；
[0027]确定所述各绑定组别的长度之差的绝对值是否满足硬盘布线设计的绑定组别对齐要求，得到绑定组别等长验证结果。
[0028]第二方面，本专利技术提供一种排查硬盘布线设计的装置，包括：
[0029]拓扑获取单元，用于获取硬盘布线设计的拓扑图；
[0030]表格建立单元，用于基于所述硬盘布线设计的拓扑图，建立线距分析表；
[0031]布线验证单元，用于基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证，确定所述硬盘布线设计符合布线规范。
[0032]第三方面，本专利技术提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如第一方面任一项所述的排查硬盘布线设计的方法。
[0033]第四方面，本专利技术提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面任一项所述的排查硬盘布线设计的方法。
[0034]本专利技术提供的一种排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质，通过获取硬盘布线设计的拓扑图；基于所述硬盘布线设计的拓扑图，建立线距分析表；基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证，确定所述硬盘布线设计符合布线规范，实现硬盘布线设计的自动检测，提高了检视效率、减少检视人员的检视时间、以及减少因人为失误导致的误判。
附图说明
[0035]为了更清楚地说明本专利技术或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0036]图1为本专利技术一个实施例提供的排查硬盘布线设计的方法的流程示意图；
[0037]图2为本专利技术一个实施例提供的硬盘布线设计的SATA拓扑图示意图；
[0038]图3为本专利技术一个实施例提供的线距分析表示意图；
[0039]图4为本专利技术一个实施例提供的排查硬盘布线设计装置的结构示意图；
[0040]图5为本专利技术一个实施例提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0041]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术中的附图，对本专利技术中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0042]本专利技术提供的排查硬盘布线设计的方法的执行主体可以是电子设备、电子设备中的功能实体或单元，如集成电路、或芯片等。该电子设备可以是移动电子设备，也可以为非移动电子设备。示例性的，移动电子设备可以为手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、超级移动个人计算机(ultra
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种排查硬盘布线设计的方法，其特征在于，包括：获取硬盘布线设计的拓扑图；基于所述硬盘布线设计的拓扑图，建立线距分析表；基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证，确定所述硬盘布线设计符合布线规范。2.根据权利要求1所述的排查硬盘布线设计的方法，其特征在于，所述基于所述硬盘布线设计的拓扑图，建立线距分析表，包括：基于所述硬盘布线设计的拓扑图和布线规范，确定所述线距分析表中各待分析线段；基于所述硬盘布线设计的拓扑图，获取所述线距分析表中各待分析线段的走线长度，将所述走线长度填入所述线距分析表中。3.根据权利要求2所述的排查硬盘布线设计的方法，其特征在于，所述基于所述硬盘布线设计的拓扑图，获取所述线距分析表中各待分析线段的走线长度，包括：通过布局程式提取所述硬盘布线设计的拓扑图中各种线段的命名及走线长度；通过命名方式，从所述硬盘布线设计的拓扑图中各种线段的命名中找出与所述线距分析表中各待分析线段对应一致的命名，并自动匹配出所述线距分析表中各待分析线段的走线长度。4.根据权利要求2或3所述的排查硬盘布线设计的方法，其特征在于，所述基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证，确定所述硬盘布线设计符合布线规范，包括：基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度，对所述硬盘布线设计进行总长验证，得到总长验证结果；基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度，对所述硬盘布线设计进行差分对等长验证，得到差分对等长验证结果；基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度，对所述硬盘布线设计进行绑定组别等长验证，得到绑定组别等长验证结果；基于所述总长验证结果、差分对等长验证结果以及绑定组别等长验证结果，确定所述硬盘布线设计符合布线规范。5.根据权利要求4所述的排查硬盘布线设计的方法，其特征在于，所述基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭美辰，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：