【技术实现步骤摘要】
高亮度Micro
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LED阵列芯片、制备方法及显示装置
[0001]本专利技术涉及芯片制备领域,提供了一种高亮度Micro
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LED阵列芯片、制备方法及显示装置。
技术介绍
[0002]目前的Micro
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LED阵列芯片或AR显示芯片普遍采用激光剥离蓝宝石的技术实现模组化的GaN材料,再通过半导体图形化刻蚀工艺手段来实现像素大小的隔离与分割,以实现微显示产品的像素微缩化。
[0003]然而由于Micro
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LED阵列芯片的尺寸较小,目前主流技术路线并未对像素点部分进行提升亮度的结构优化。
技术实现思路
[0004]本专利技术提供了一种高亮度Micro
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LED阵列芯片、制备方法及显示装置,用以解决了在
技术介绍
中所提到的“目前主流技术路线并未对像素点部分进行提生亮度”的问题。
[0005]根据本专利技术的第一方面,提供了一种高亮度Micro
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LED阵列芯片,包括:
[0006]转 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高亮度Micro
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LED阵列芯片,其特征在于,包括:转移基板,以及在所述转移基板上由下往上依次堆叠的透镜层、第一导电层、第二导电层、第一绝缘层、第三导电层以及外延层;以及COMS基板;其中,所述第一导电层、第二导电层、第一绝缘层与第三导电层上具有第一通孔,且所述第一通孔贯穿所述第三导电层、第一绝缘层、第二导电层与第一导电层,且所述第一通孔内填充第一导电层材料;所述外延层包括:若干LED像素单元、第一N电极以及第一P电极;其中,每个LED像素单元均包括自所述转移基板由下往上依次堆叠的P型外延层、发光层和N型外延层;其中,相邻两个LED像素单元之间具有第二通孔,所述第二通孔贯穿所述P型外延层、发光层和N型外延层,且所述第二通孔内填充绝缘反射材料;所述第一N电极位于所述P型外延层一侧的LED像素单元上;所述第一P电极位于所述外延层边缘;所述CMOS基板上包括:第二N电极以及第二P电极;所述第二N电极与所述第一N电极对应相连,所述第二P电极与所述第一P电极对应相连。2.根据权利要求1所述的高亮度Micro
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LED阵列芯片,其特征在于,所述第一导电层和所述第三导电层为透明导电层,且所述第三导电层为透明导电薄膜;所述第二导电层为金属导电层。3.根据权利要求2所述的高亮度Micro
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LED阵列芯片,其特征在于,所述第一导电层和所述第三导电层的厚度的范围为:100纳米
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500纳米。4.根据权利要求3所述的高亮度Micro
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LED阵列芯片,其特征在于,所述透明导电层的材料为:金属膜系材料或氧化物膜系材料或高分子膜系材料。5.根据权利要求3所述的高亮度Micro
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LED阵列芯片,其特征在于,所述金属导电层的材料为:金属元素材料或合金材料或复合金属材料。6.根据权利要求1所述的高亮度Micro
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LED阵列芯片,其特征在于,所述透镜层包括:若干透镜结构。7.根据权利要求6所述的高亮度Micro
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LED阵列芯片,其特征在于,所述透镜结构为凸透镜。8.根据权利要求1所述的高亮度Micro
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LED阵列芯片,其特征在于,所述第一通孔的形状为圆柱形。9.根据权利要求1所述的高亮度Micro
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LED阵列芯片,其特征在于,所述LED像素单元的形状包括:第一形状与第二形状;所述第一形状为圆台状,并且靠近所述第三导电层的一面为上底面,远离所述第三导电层的一面为下底面,所述上底面的面积大于所述下底面的面积;所述圆台的母线与所述第三导电层形成的夹角大于45度并且小于85度;所述第二形状为半球状,且所述半球的平面与所述上地面相连;其中,所述发光层与所...
【专利技术属性】
技术研发人员:郝茂盛,陈朋,袁根如,张楠,魏帅帅,马后永,马艳红,徐志伟,
申请(专利权)人:上海芯元基半导体科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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