芯片测试覆盖率问题的处理方法及装置制造方法及图纸

本申请提供一种芯片测试覆盖率问题的处理方法及装置，其中，电子设备根据芯片的测试覆盖率问题对芯片的测试方案进行调整，能够提高由电子设备对芯片的测试覆盖率问题进行处理时的智能化程度，进而提高对芯片测试覆盖率问题进行处理时的效率。问题进行处理时的效率。问题进行处理时的效率。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试覆盖率问题的处理方法及装置


[0001]本申请涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片测试覆盖率问题的处理方法及装置。

技术介绍

[0002]芯片的供应商设计出芯片后，需通过测试方案对芯片进行测试，并在芯片通过测试之后，再生产芯片从而提供给用户使用。用户在使用芯片的过程中，如果发现芯片出现运行问题，也可以将芯片的运行问题或者运行数据再提供给供应商，由供应商对芯片进行分析，确定出芯片测试方案所存在的测试覆盖率问题。从而根据测试覆盖率问题对测试方案进行调整，进而更加完备地对芯片进行测试，保证芯片能够通过更全面的测试后再提供给用户使用，来减少芯片运行过程中所出现的问题。
[0003]现有技术中，芯片供应商在确定芯片存在的测试覆盖率问题后，由供应商的设计人员根据测试覆盖率问题，对芯片测试方案进行相应调整，例如编写新的测试用例的代码并加入测试方案等。
[0004]但是，现有技术完全依赖于人工的分析与处理才能够对测试方案进行调整，导致了处理芯片测试覆盖率问题时的效率较低。

技术实现思路

[0005]本申请提供一种芯片测试覆盖率问题的处理方法及装置，用于解决处理芯片测试覆盖率问题时的效率较低的技术问题。
[0006]本申请第一方面提供一种芯片测试覆盖率问题的处理方法，包括：获取芯片的测试方案存在的测试率覆盖率问题；根据测试覆盖率问题调整测试方案；调整后的测试方案的测试覆盖率大于调整前的测试方案的测试覆盖率；其中，调整测试方案包括以下至少一项：增加测试方案中的测试用例、修改测试方案中的测试用例和删除测试方案中的测试用例。
[0007]在本申请第一方面一实施例中，根据测试覆盖率问题调整芯片的测试方案，包括：确定测试覆盖率问题对应的测试用例；从存储空间中获取测试用例的代码；存储空间中存储有多个测试覆盖率问题对应的测试用例的代码；将测试用例的代码加入到测试方案的代码中。
[0008]在本申请第一方面一实施例中，从存储空间中获取测试覆盖率问题对应的测试用例的代码之后，还包括：根据芯片的特征信息，对测试用例的代码进行修改。
[0009]在本申请第一方面一实施例中，根据测试覆盖问题调整芯片的测试方案，包括：确定测试覆盖率问题对应的测试用例；生成测试用例的代码；将测试用例的代码加入到测试方案的代码中。
[0010]在本申请第一方面一实施例中，根据测试覆盖问题调整芯片的测试方案，包括：确定测试方案中与测试覆盖率问题对应的测试用例；根据测试覆盖率问题，对测试用例的代
码进行修改。
[0011]在本申请第一方面一实施例中，根据测试覆盖问题调整芯片的测试方案，包括：根据测试覆盖率问题，删除测试方案中的至少一个测试用例。
[0012]在本申请第一方面一实施例中，根据测试覆盖问题调整测试方案，包括：获取测试人员编写的多条代码；将多条代码加入到测试方案的代码中的对应位置。
[0013]本申请第二方面提供一种芯片测试覆盖率问题的处理装置，包括：获取模块，用于获取芯片的测试方案存在的测试率覆盖率问题；调整模块，用于根据测试覆盖问题调整测试方案；调整后的测试方案的测试覆盖率大于调整前的测试方案的测试覆盖率；其中，调整芯片的测试方案包括以下至少一项：增加测试方案中的测试用例、修改测试方案中的测试用例和删除测试方案中的测试用例。
[0014]本申请第三方面提供一种电子设备，包括：处理器以及存储器；其中，存储器中存储有计算机程序，当处理器执行计算机程序时，处理器执行如本申请第一方面任一项的芯片测试覆盖率问题的处理方法。
[0015]本申请第四方面提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令被执行时用于实现本申请第一方面任一项所述的芯片测试覆盖率问题的处理方法。
[0016]综上，本实施例提供的芯片测试覆盖率问题的处理方法及装置，能够通过电子设备根据芯片的测试方案存在的测试覆盖率问题自动对测试用例进行调整，从而不需要测试人员通过人工的方式对测试用例进行调整，极大地提高了电子设备处理芯片的测试覆盖率问题时的智能化程度，进而提高了对芯片测试覆盖率问题时调整测试用例的效率。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为本申请应用场景的示意图；
[0019]图2为本申请提供的芯片测试覆盖率问题的确定方法一实施例的流程示意图；
[0020]图3为本申请提供的第一映射关系的示意图；
[0021]图4为本申请提供的第二映射关系的示意图；
[0022]图5为本申请提供的一种芯片测试覆盖率问题的处理方法一实施例的流程示意图；
[0023]图6为本申请提供的芯片的测试方案的示意图；
[0024]图7为本申请提供的一种装置的示意图；
[0025]图8为本申请提供的电子设备一实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0026]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于
本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0027]本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0028]图1为本申请应用场景的示意图。如图1所示，芯片30的供应商设计并生产出芯片30后，在流程
①
中，需要测试人员10使用测试设备20对芯片30进行测试。当芯片30通过测试之后，在流程
②
中，供应商将芯片30提供给用户40使用。其中，测试设备20可以是电脑、服务器或者工作站等电子设备。
[0029]在一种实施例中，用户40可以是手机供应商，则用户40获得供应商提供的芯片30后，可以在流程
③
中，将芯片30安装在其生产的手机50上。而在手机50的运行过程中，会出现一些问题，这些问题中的一部分是由芯片的运行问题所导致的。此时，用户40就可以收集至少一个手机50内的芯片30的运行数据和/或运行问题，并在流程
④...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试覆盖率问题的处理方法，其特征在于，包括：获取芯片的测试方案存在的测试率覆盖率问题；根据所述测试覆盖率问题调整所述测试方案；调整后的所述测试方案的测试覆盖率大于调整前的所述测试方案的测试覆盖率；其中，所述调整所述测试方案包括以下至少一项：增加所述测试方案中的测试用例、修改所述测试方案中的测试用例和删除所述测试方案中的测试用例。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试覆盖率问题调整所述芯片的测试方案，包括：确定所述测试覆盖率问题对应的测试用例；从存储空间中获取所述测试用例的代码；所述存储空间中存储有多个测试覆盖率问题对应的测试用例的代码；将所述测试用例的代码加入到所述测试方案的代码中。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述从存储空间中获取所述测试覆盖率问题对应的测试用例的代码之后，还包括：根据所述芯片的特征信息，对所述测试用例的代码进行修改。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试覆盖问题调整所述芯片的测试方案，包括：确定所述测试覆盖率问题对应的测试用例；生成所述测试用例的代码；将所述测试用例的代码加入到所述测试方案的代码中。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试覆盖问题调整所述芯片的测试方案，包括：确定所述测试方案中与测试覆盖率问题对应的测试用例；根据所述测试覆盖率问题，对所...

【专利技术属性】
技术研发人员：安明明，贺延聪，钱政瑛，程龙，
申请(专利权)人：西安紫光展锐科技有限公司，
类型：发明
国别省市：