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本申请提供一种芯片测试覆盖率问题的处理方法及装置，其中，电子设备根据芯片的测试覆盖率问题对芯片的测试方案进行调整，能够提高由电子设备对芯片的测试覆盖率问题进行处理时的智能化程度，进而提高对芯片测试覆盖率问题进行处理时的效率。问题进行处理时的...
该专利属于西安紫光展锐科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安紫光展锐科技有限公司授权不得商用。

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