光谱成像恢复方法及装置制造方法及图纸

本申请涉及一种光谱成像恢复方法。该光谱成像恢复方法包括：由光谱成像芯片的光调制层接收入射光，所述光调制层包括以周期性布置的多个调制单元，且每个调制单元包括多个结构单元；获取由所述光谱成像芯片的图像传感器对所述光调制层调制的入射光的响应信号，每个结构单元对应于所述图像传感器的一个或多个物理像素；基于与每个调制单元对应的光谱像素恢复所述入射光的光谱信息，其中，每个光谱像素对应的调制单元彼此间隔不小于一个结构单元。这样，通过以彼此间隔的包含结构单元阵列的调制单元为单位进行光谱恢复的计算，提高了光谱恢复的计算效率。复的计算效率。复的计算效率。

【技术实现步骤摘要】
光谱成像恢复方法及装置
[0001]本申请是申请号为202211022771.1，申请日为2022年8月25日，专利技术名称为“光谱成像恢复方法及装置”的中国专利技术申请的分案申请。


[0002]本申请涉及光谱
，更为具体地说，涉及一种光谱成像恢复方法及装置。

技术介绍

[0003]光谱成像技术是一种将光谱探测和成像有机结合的技术，能够对某一物体进行不同光谱下的成像，同时获得被探测物体的几何形状信息和光谱特征。光谱成像技术已经成为对地观测和深空探测的重要手段，被广泛应用于农牧林生产、矿产资源勘查、文物检测、海洋遥感、环境监测、防灾减灾、军事侦察等领域。
[0004]采用光谱成像技术的光谱仪已经成为科研和工业中最常用的测量工具之一。目前，传统的成像芯片及成像设备，例如相机包含有图像传感器，用以获取物体RGB三种颜色的图像信息。而光谱成像技术主要是基于光谱仪加上机械扫描结构实现的，该方案需要的机械扫描的精度控制以及扫描步长之间的权衡会带来成本的上升和时间维度分辨率的降低。
[0005]除此之外，利用滤光片和光探测阵列实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光谱成像恢复方法，其特征在于，包括：由光谱成像芯片的光调制层接收入射光，所述光调制层包括以周期性布置的多个调制单元，且每个调制单元包括多个结构单元；获取由所述光谱成像芯片的图像传感器对所述光调制层调制的入射光的响应信号，每个结构单元对应于所述图像传感器的一个或多个物理像素；以及，基于与每个调制单元对应的光谱像素恢复所述入射光的光谱信息，其中，每个光谱像素对应的调制单元彼此间隔不小于一个结构单元。2.根据权利要求1所述的光谱成像恢复方法，其中，所述调制单元间隔的结构单元的数目等于所述调制单元包括的结构单元的数目的平方根。3.根据权利要求1所述的光谱成像恢复方法，其中，所述调制单元间隔的物理像素的数目不小于设定调制结构单元的数目。4.根据权利要求1所述的光谱成像恢复方法，其中，所述每个光谱像素对应于第一数目的结构单元，每个调制单元包括第二数目的结构单元，且所述第二数目不小于所述第一数目。5.根据权利要求1所述的光谱成像恢复方法，其中，所述光调制层包括具有滤光结构的所述调制单元和不具有滤光结构的非调制单元。6.根据权利要求1所述的光谱成像恢复方法，其中，基于与每个调制单元对应的光谱像素恢复所述入射光的光谱信息包括：获取所述光谱像素的每个结构单元对应的光强信息，以得到响应向量；获取所述光调制层的调制矩阵和噪声向量；以及，基于所述响应向量、所述调制矩阵和所述噪声向量确定所述输入光的光谱向量，以获得所述输入光的光谱信息。7.根据权利要求6所述的光谱成像恢复方法，其中，所述基于与每个调制单元对应的光谱像素恢复所述入射光的光谱信息进一步包括：获取所述光谱像素单元中物理像素和结构单元的数目及位置坐标；当判断物理像素的数目大于结构单元中结构的数量时，基于所述响应向量、所述调制矩阵和所述噪声向量确定所述输入光的光谱向量，以获得所述输入光的光谱信息。8.根据权利要求1所述的光谱成像恢复方法，进一步包括：获取所述每个结构单元中每个结构调制后的透射谱；根据获取的所述透射谱判断透射谱的相关性；确定所述结构单元下不相关的透射谱的位置坐标；以及根据所述位置坐标确定空洞卷积率。9.根据权利要求6所述的光谱成像恢复方法，其中，所述输入光的光谱向量为X＝[λ1...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓博誉，王宇，黄志雷，
申请(专利权)人：上海与光彩芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：