一种半导体器件检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种半导体器件检测装置，本实用新型专利技术涉及半导体技术领域，半导体器件检测装置，包括底座、固定台和检测台，固定台设于底座上端，检测台固定于底座上表面；本实用新型专利技术的有益效果在于：通过让电动伸缩杆以检测端头和滑座连接处为轴心向左拉动检测端头，或向右推动检测端头，能让检测端头对半导体器件的拍摄角度会发生变化，能让使用者根据需要对半导体器件进行拍摄检测，通过让电机通电并带动螺纹杆转动，并让滑座会在通槽内左右移动，便于使用者对检测端头和检测摄像头的位置进行调整，从而让使用者通过检测摄像头对半导体器件进行检测，通过与电动伸缩杆的结合，有利于提高对半导体器件检测装置的实用性。利于提高对半导体器件检测装置的实用性。利于提高对半导体器件检测装置的实用性。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体器件检测装置


[0001]本技术涉及半导体
，主要是涉及一种半导体器件检测装置。

技术介绍

[0002]半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，半导体器件可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换，半导体器件在生产后为了能确保半导体器件的后续使用性，需要对半导体器件进行检测，能防止半导体器件表面出现磨损或缺陷而影响后续的使用，在对半导体器件表面进行检测时需要对其表进行拍摄检测，现有半导体器件检测装置在对半导体器件进行拍摄检测时，由于拍摄端位置通常是固定的，因此导致难以有效的对拍摄角度进行调整，使得对半导体器件的拍摄检测受到限制。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是针对上述存在的问题和不足，提供一种半导体器件检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为达到上述目的，所采取的技术方案是：
[0005]一种半导体器件检测装置，包括底座、固定台和检测台，所述固定台设于底座上端，所述检测台固定于底座上表面；
[0006]所述底座和固定台之间设置有检测板，所述检测板上设置有调节组件，所述调节组件包括螺纹杆、滑座和检测端头，所述检测板内部设置有贯穿其下表面的通槽，所述螺纹杆转动连接于通槽内，所述滑座螺纹滑动嵌套于螺纹杆表面，所述检测端头转动设置于滑座下端，所述滑座后端设置有电动伸缩杆。
[0007]优选项包括，所述固定台上设置有驱动端头，所述驱动端头输出端与检测板上表面固定。
[0008]优选项包括，所述底座上表面左右两侧均固定有支撑杆，所述支撑杆上端贯穿检测板并与所述固定台连接，且所述检测板与支撑杆滑动连接。
[0009]优选项包括，所述通槽内壁前后侧均开设有侧槽，所述滑座前后两侧表面均固定有限位块，所述限位块滑动嵌入侧槽内，所述电动伸缩杆输出端与检测端头后侧连接，所述检测端头下端贯穿出通槽并设置有检测摄像头。
[0010]优选项包括，所述检测台左右两侧均设置有夹持板，所述夹持板下表面固定有防护垫，所述检测台左右两侧表面均固定有与所述夹持板转动连接的固定杆。
[0011]优选项包括，所述检测台左右两侧表面均固定有调节杆，所述调节杆位于固定杆下端，所述调节杆外表面内端嵌套有弹簧，所述夹持板下端滑动嵌套于调节杆表面并与所述弹簧外端接触，所述调节杆外端螺纹嵌套有紧固套，所述紧固套右端与夹持板下端右侧接触。
[0012]采用上述技术方案，所取得的有益效果是：
[0013]通过让电动伸缩杆以检测端头和滑座连接处为轴心向左拉动检测端头，或向右推动检测端头，能让检测端头对半导体器件的拍摄角度会发生变化，能让使用者根据需要对半导体器件进行拍摄检测，通过让电机通电并带动螺纹杆转动，并让滑座会在通槽内左右移动，便于使用者对检测端头和检测摄像头的位置进行调整，从而让使用者通过检测摄像头对半导体器件进行检测，通过与电动伸缩杆的结合，有利于提高对半导体器件检测装置的实用性。
[0014]通过让紧固套推动下夹持板以固定杆为轴心沿着调节杆滑动，便于夹持板对半导体器件进行夹持，且夹持板上的防护垫会抵住半导体器件，能对半导体器件起到较好的夹持保护作用，以此，便于使用者对半导体器件进行夹持固定，夹持调节方式简便。
附图说明
[0015]图1为本技术的整体主视剖面结构示意图；
[0016]图2为本技术图1的A剖面结构示意图；
[0017]图3为本技术的检测板的左视剖面结构示意图。
[0018]图中标记：底座1、固定台2、支撑杆3、检测板4、检测台5、夹持板6、电机7、螺纹杆8、滑座9、检测端头10、检测摄像头11、电动伸缩杆12、驱动端头13、防护垫14、固定杆15、调节杆16、紧固套17、弹簧18、限位块19。
具体实施方式
[0019]为了使得本技术的技术方案的目的、技术特征和技术效果更加清楚，下文中将结合本技术具体实施例的附图，对本技术实施例的示例方案进行清楚、完整地描述。
[0020]参见图1至图3，本申请是一种半导体器件检测装置，包括底座1、固定台2和检测台5，所述固定台2设于底座1上端，所述检测台5固定于底座1上表面；
[0021]所述检测台5左右两侧均设置有夹持板6，所述夹持板6下表面固定有防护垫14，所述检测台5左右两侧表面均固定有与所述夹持板6转动连接的固定杆15，所述检测台5左右两侧表面均固定有调节杆16，所述调节杆16位于固定杆15下端，所述调节杆16外表面内端嵌套有弹簧18，所述夹持板6下端滑动嵌套于调节杆16表面并与所述弹簧18外端接触，所述调节杆16外端螺纹嵌套有紧固套17，所述紧固套17右端与夹持板6下端右侧接触；
[0022]如图1和图2所示，在进行使用的时候，通过转动紧固套17并使其推动夹持板6下端，由于夹持板6与固定杆15为转动连接，因此，在紧固套17的推动下夹持板6会以固定杆15为轴心沿着调节杆16滑动，同时，夹持板6下端会对弹簧18施加压力并使其收缩，之后夹持板6上端会向外翘起，接着，使用者通过将需要进行检测的半导体器件放置到检测台5上，随后，通过重新转动紧固套17并使其沿着调节杆16向外移动，且夹持板6会在弹簧18的弹力推动下以固定杆15为轴心恢复初始位置，之后，夹持板6便会对检测台5上的半导体器件进行夹持，且夹持板6上的防护垫14会抵住半导体器件，能对半导体器件起到较好的夹持保护作用，以此，便于使用者对半导体器件进行夹持固定，夹持调节方式简便，便于使用者操作；
[0023]所述底座1和固定台2之间设置有检测板4，所述固定台2上设置有驱动端头13，所述驱动端头13输出端与检测板4上表面固定，所述底座1上表面左右两侧均固定有支撑杆3，
所述支撑杆3上端贯穿检测板4并与所述固定台2连接，且所述检测板4与支撑杆3滑动连接；
[0024]所述检测板4上设置有调节组件，所述调节组件包括螺纹杆8、滑座9和检测端头10，所述检测板4内部设置有贯穿其下表面的通槽，所述螺纹杆8转动连接于通槽内，所述滑座9螺纹滑动嵌套于螺纹杆8表面，所述检测端头10转动设置于滑座9下端，所述滑座9后端设置有电动伸缩杆12，所述通槽内壁前后侧均开设有侧槽，所述滑座9前后两侧表面均固定有限位块19，所述限位块19滑动嵌入侧槽内，所述电动伸缩杆12输出端与检测端头10后侧连接，所述检测端头10下端贯穿出通槽并设置有检测摄像头11；
[0025]在完成上述操作后，通过图1和图3可知，通过让驱动端头13与外部电源连接并通电，之后，驱动端头13会向下推动检测板4，随后，检测板4会沿着支撑杆3向下移动，之后，当检测端头10向下移动且检测摄像头11靠近半导体器件后，通过检测摄像头11便可对半导体器件进行拍照检测，通过让检测摄像头11靠近或远离半导体器件，便于使用者根据需要调整拍摄检测半导体器件的清晰度，便于使用者对半导体器件进行检测，在这个拍摄检测过程中，通过让本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体器件检测装置，包括底座（1）、固定台（2）和检测台（5），所述固定台（2）设于底座（1）上端，所述检测台（5）固定于底座（1）上表面，其特征在于：所述底座（1）和固定台（2）之间设置有检测板（4），所述检测板（4）上设置有调节组件，所述调节组件包括螺纹杆（8）、滑座（9）和检测端头（10），所述检测板（4）内部设置有贯穿其下表面的通槽，所述螺纹杆（8）转动连接于通槽内，所述滑座（9）螺纹滑动嵌套于螺纹杆（8）表面，所述检测端头（10）转动设置于滑座（9）下端，所述滑座（9）后端设置有电动伸缩杆（12）。2.根据权利要求1所述的一种半导体器件检测装置，其特征在于：所述固定台（2）上设置有驱动端头（13），所述驱动端头（13）输出端与检测板（4）上表面固定。3.根据权利要求1所述的一种半导体器件检测装置，其特征在于：所述底座（1）上表面左右两侧均固定有支撑杆（3），所述支撑杆（3）上端贯穿检测板（4）并与所述固定台（2）连接，且所述检测板（4）与支撑杆（3）滑动连接。4.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑双明，
申请(专利权)人：上海澈芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：