DWDM光模块APD调试方法、电子设备及计算机可读存储介质技术

技术编号:36933055 阅读:13 留言:0更新日期:2023-03-22 18:55
本申请提供一种DWDM光模块APD调试方法、电子设备及计算机可读存储介质,包括:接收用于表征光探测模块工作电压的特征参数的初始值,光探测模块处于告警状态;以第一预设更新规则更新特征参数,检测光探测模块是否处于告警状态;将光探测模块未处于告警状态时对应的特征参数作为第一特征参数;读取光探测模块的误码率;基于所述误码率和第二预设步长更新第一特征参数,得到多个第二特征参数;获取与多个第二特征参数匹配的多个采集点误码率;将多个采集点误码率中最大或最小的采集点误码率作为最佳误码率。本申请可以去除不符合标准的误码率,以保证采集到的误码率的准确性,且能精准找到最佳误码率。精准找到最佳误码率。精准找到最佳误码率。

【技术实现步骤摘要】
DWDM光模块APD调试方法、电子设备及计算机可读存储介质


[0001]本申请涉及光纤通信
,尤其涉及一种DWDM光模块APD调试方法、电子设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]目前,在光纤通信
,雪崩光电探测器(APD, AvalancePhotodiodeDetector)是广泛使用的一种光接收模块,具有较好的接收灵敏度。而确定雪崩光电探测器的最佳误码率是保持良好接收灵敏度的基础。
[0003]现有技术中,一般是研发人员大批量的对雪崩光电探测器进行逐一检测,检测过程存在繁琐、耗时长、精准度低等问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此,有必要提供一种DWDM光模块APD调试方法、电子设备及计算机可读存储介质,以解决检测流程繁琐、耗时长、精准度低等问题。
[0005]本申请一实施方式提供一种DWDM光模块APD调试方法,所述方法包括:接收用于表征光探测模块工作电压的特征参数的初始值,其中,所述特征参数被设定为所述初始值后,所述光探测模块处于告警状态;以第一预设更新规则更新所述特征参数,检测所述光探测模块是否处于所述告警状态;若检测到所述光探测模块未处于所述告警状态,将所述光探测模块未处于所述告警状态时对应的特征参数作为第一特征参数;读取所述光探测模块的误码率;基于所述误码率和第二预设步长更新所述第一特征参数,得到多个第二特征参数和与多个所述第二特征参数匹配的多个采集点误码率,其中,一个所述第二特征参数对应一个所述采集点误码率;将多个所述采集点误码率中最小的采集点误码率作为最佳误码率。
[0006]通过设定特征参数为初始值后,光探测模块处于告警状态,使得后续获得的特征参数和对应的采集点误码率更加精确;基于告警状态,以第一预设更新规则和第二预设步长更新特征参数,然后获取与特征参数匹配的多个采集误码率,能够减少获取采集点误码率的时长;最后从多个采集点误码率中提取合适的误码点为最佳误码率,使得获取的误码点精确度高。
[0007]在一些实施例中,所述以第一预设更新规则更新所述特征参数,检测所述光探测模块是否处于所述告警状态,包括:检测第一预设步长的增加次数是否等于第一预设次数,在检测到所述第一预设步长的增加次数小于或等于所述第一预设次数时,以第一预设步长增加所述特征参数,并在所述特征参数每次增加所述第一预设步长后,均检测所述光探测模块是否处于所述告警状
态;若在第一预设步长的增加次数大于第一预设次数时,检测所述光探测模块仍处于所述告警状态,输出所述光探测模块不良的调试结果;所述若检测到所述光探测模块未处于所述告警状态,将所述光探测模块未处于所述告警状态时对应的特征参数作为第一特征参数,包括:若在第一预设步长的增加次数小于或等于第一预设次数时,检测到所述光探测模块未处于所述告警状态,将最后一次以第一预设步长增加后的所述特征参数,作为所述第一特征参数。
[0008]在一些实施例中,所述基于所述误码率和第二预设步长更新所述第一特征参数,得到多个第二特征参数,包括:以所述第二预设步长增加或减小所述第一特征参数,得到多个所述第二特征参数。
[0009]在一些实施例中,所述获取与多个所述第二特征参数匹配的多个采集点误码率,包括:根据首次以所述第二预设步长增加后的所述第一特征参数,得到初始第二特征参数;获取与所述初始第二特征参数匹配的第一采集点误码率;以所述第二预设步长增加所述初始第二特征参数,得到中间第二特征参数;获取与所述中间第二特征参数匹配的第二采集点误码率;比较所述第一采集点误码率和所述第二采集点误码率的大小,根据比较的结果以所述第二预设步长增大或减小所述中间第二特征参数,直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率。
[0010]在一些实施例中,所述根据比较的结果以所述第二预设步长增大或减小所述中间第二特征参数,直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率,包括:若所述第二采集点误码率大于所述第一采集点误码率,以所述第二预设步长减小所述中间第二特征参数,得到减小第二特征参数;获取与所述减小第二特征参数匹配的第三采集点误码率;若所述第三采集点误码率小于所述第二采集点误码率,继续以所述第二预设步长减小所述减小第二特征参数,直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率;若所述第三采集点误码率大于所述第二采集点误码率,停止以所述第二预设步长减小所述减小第二特征参数。
[0011]在一些实施例中,所述根据比较的结果以所述第二预设步长增大或减小所述中间第二特征参数,直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率,包括:若所述第二采集点误码率小于所述第一采集点误码率,以所述第二预设步长增加所述中间第二特征参数,得到增加第二特征参数;获取与所述增加第二特征参数匹配的第三采集点误码率;若所述第三采集点误码率小于所述第二采集点误码率,继续以所述第二预设步长增加所述增加第二特征参数,直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点
误码率;若所述第三采集点误码率大于所述第二采集点误码率,停止以所述第二预设步长增加所述增加第二特征参数。
[0012]在一些实施例中,所述读取所述光探测模块的误码率,包括:以第三预设更新规则更新所述光探测模块的光功率,获取与所述光功率匹配的误码率;当检测到与所述光功率匹配的误码率等于预设误码率时,生成调试失败信息。
[0013]在一些实施例中,所述以第三预设更新规则更新所述光探测模块的光功率,获取与所述光功率匹配的误码率,包括:以第三预设步长增加所述光功率,及检测所述第三预设步长的增加次数是否等于第三预设次数;在检测到所述第三预设步长的增加次数等于所述第三预设次数时,获取与所述光探测模块匹配的误码率。
[0014]本申请一实施方式还提供一种电子设备,所述电子设备包括处理器及存储器,所述存储器用于存储指令,所述处理器用于调用所述存储器中的指令,使得所述电子设备执行上述的DWDM光模块APD调试方法。
[0015]本申请一实施方式还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储计算机指令,当所述计算机指令在电子设备上运行时,使得所述电子设备执行上述的DWDM光模块APD调试方法。
[0016]与现有技术相比,上述DWDM光模块APD调试方法、电子设备及计算机可读存储介质,首先,设定光探测模块在调试状态下的特征参数的初始值,使得光探测模块进入告警状态。然后,多次更新特征参数的初始值,得到第一特征参数,且基于第一特征参数检测此时的光探测模块是否仍处于告警状态,若光探测模块未处于告警状态,则获取光探测模块的误码率。接着,为了提高调试的效率,设定第二预设步长多次更新第一特征参数,获取多个第二特征参数。最后,基于多个第二特征参数,获取与多个第二特征参数匹配的多个采集点误码率,并从多个采集点误码率中提取最佳误码率。该DWDM光模块APD调试方法的调试效率和准确性高,且无需研发人员大量调试检测,减少调试成本,同时,该方法获取的最佳误码率,能够使得光探本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种DWDM光模块APD调试方法,其特征在于,所述方法包括:接收用于表征光探测模块工作电压的特征参数的初始值,其中,所述特征参数被设定为所述初始值后,所述光探测模块处于告警状态;以第一预设更新规则更新所述特征参数,检测所述光探测模块是否处于所述告警状态;若检测到所述光探测模块未处于所述告警状态,将所述光探测模块未处于所述告警状态时对应的特征参数作为第一特征参数;读取所述光探测模块的误码率;基于所述误码率和第二预设步长更新所述第一特征参数,得到多个第二特征参数和与多个所述第二特征参数匹配的多个采集点误码率,其中,一个所述第二特征参数对应一个所述采集点误码率;将多个所述采集点误码率中最小的采集点误码率作为最佳误码率。2.如权利要求1所述的DWDM光模块APD调试方法,其特征在于,所述以第一预设更新规则更新所述特征参数,检测所述光探测模块是否处于所述告警状态,包括:检测第一预设步长的增加次数是否等于第一预设次数,在检测到所述第一预设步长的增加次数小于或等于所述第一预设次数时,以第一预设步长增加所述特征参数,并在所述特征参数每次增加所述第一预设步长后,均检测所述光探测模块是否处于所述告警状态;若在第一预设步长的增加次数大于第一预设次数时,检测所述光探测模块仍处于所述告警状态,输出所述光探测模块不良的调试结果;所述若检测到所述光探测模块未处于所述告警状态,将所述光探测模块未处于所述告警状态时对应的特征参数作为第一特征参数,包括:若在第一预设步长的增加次数小于或等于第一预设次数时,检测到所述光探测模块未处于所述告警状态,将最后一次以第一预设步长增加后的所述特征参数,作为所述第一特征参数。3.如权利要求1或2所述的DWDM光模块APD调试方法,其特征在于,所述基于第二预设步长更新所述第一特征参数,得到多个第二特征参数,包括:以所述第二预设步长增加或减小所述第一特征参数,得到多个所述第二特征参数。4.如权利要求3所述的DWDM光模块APD调试方法,其特征在于,所述获取与多个所述第二特征参数匹配的多个采集点误码率,包括:根据首次以所述第二预设步长增加后的所述第一特征参数,得到初始第二特征参数;获取与所述初始第二特征参数匹配的第一采集点误码率;以所述第二预设步长增加所述初始第二特征参数,得到中间第二特征参数;获取与所述中间第二特征参数匹配的第二采集点误码率;比较所述第一采集点误码率和所述第二采集点误码率的大小,根据比较的结果以所述第二预设步长增大或减小所述中间第二特征参数,直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率。5.如权利要求4所述的DWDM光模块APD调试...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐文波贺昌亮董凯李焕功杨徐飞郑启飞谭祖炜沈一春符小东蓝燕锐
申请(专利权)人:中天宽带技术有限公司江苏中天科技股份有限公司
类型:发明
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