一种激光同轴度校准方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种激光同轴度校准方法和装置，涉及锂电池检测技术领域。该激光同轴度校准方法，包括以下步骤：X轴方向的同轴度校准以及Y轴方向的同轴度校准，该激光同轴度校准装置包括标准片和固定座，所述固定座上开设有倾斜的第一校准面、第二校准面、第三校准面和第四校准面，第一校准面、第二校准面、第三校准面和第四校准面分别用于安装校准片。该激光同轴度校准方法及装置，通过对上激光头和下激光头进行角度旋转调整，从而能够避免出现因激光头角度出现偏移导致激光同轴度不能及时有效的进行校准工作的，从而能够有效的保证相关设备的正常运行，使得对应的极片检测工作能够正常运作。常运作。常运作。

【技术实现步骤摘要】
一种激光同轴度校准方法及装置


[0001]本专利技术涉及锂电池检测
，具体为一种激光同轴度校准方法及装置。

技术介绍

[0002]在锂电池极片生产过程中需要对锂电池的厚度进行检测，目前一般采用激光测厚技术进行测量。激光测量在锂电池极片上下表面分别安装一个激光器，通过上下两个激光器分别将激光打在锂电池的上下表面，再根据极片表面反射的激光量计算出锂电池的厚度。
[0003]在现有技术中，锂电池在生产过程中会出现抖动，而激光测量对距离很敏感。为了保证厚度检测的精度，需要保证两个激光光轴中轴的同轴度。在现有技术中对激光进行同轴度校准的过程中，只能对发生偏移的激光光轴进行同轴度的检测，若激光光轴出现倾角的偏移，则不能有效的进行相应的激光同轴度调节工作，进而会影响到设备的正常运行；鉴于此，我们提出了一种激光同轴度校准方法及装置。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种激光同轴度校准方法及装置，解决了上述
技术介绍
提到的问题。
[0005]为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：一种激光同轴度校准方法，所述激光同轴度校准方法包括以下步骤：
[0006]A：X轴方向的同轴度校准；
[0007]A1：通过上激光头与下激光头位于基准面的标准片的厚度读数为X0；
[0008]A2：通过上激光头与下激光头位于第一校准面的标准片的厚度读数为X1，第一校准面为的校准片的XY平面在X轴方向上偏转α角度的面；
[0009]A3：通过上激光头与下激光头位于第二校准面的标准片的厚度读数为X2，第二校准面为的校准片的XY平面在X轴方向上偏转
‑
α角度的面；
[0010]A4：通过上激光头与下激光头位于标准片C端的厚度读数为a，C端为标准片XY面在X轴方向上偏转γ角度的起始端；
[0011]A5：通过上激光头与下激光头位于标准片D端的厚度读数为b，D端为标准片XY面在X轴方向上倾斜γ角度的结束端；
[0012]A6：比较X1,X2的大小，若X1＝X2，X1,X2均大于X0，且a＝b，则上激光头与下激光头在同一YZ平面内；若X1≠X2，上激光头与下激光头不在同一YZ平面内，则需执行下一步骤；
[0013]A7：沿X轴方向调节上下激光头微调机构，需要反复执行A1
‑
A3步骤，使上下激光头的相对位置满足A6要求，包括如下子步骤：
[0014]A71：若X1＞X2，则说明上激光头光轴在下激光头光轴左侧，需要逆时针旋转上激光头或下激光头，光轴偏移距离为：(X1
‑
X2)/2tanα；
[0015]A72：若X1＜X2，则说明上激光头光轴在下激光头光轴右侧，需要顺时针旋转上激
光头或下激光头，光轴偏移距离为：(X2
‑
X1)/2tanα；
[0016]B：Y轴方向的同轴度校准；
[0017]B1：通过上激光头与下激光头位于基准面的标准片的厚度读数为Y0；
[0018]B2：通过上激光头与下激光头位于第三校准面的标准片的厚度读数为Y1，第一校准面为的校准片的XY平面在Y轴方向上偏转α角度的面；
[0019]B3：通过上激光头与下激光头位于第四校准面的标准片的厚度读数为Y2，第二校准面为的校准片的XY平面在Y轴方向上偏转
‑
α角度的面；
[0020]B4：通过上激光头与下激光头位于标准片C端的厚度读数为e，C端为标准片XY面在Y轴方向上偏转γ角度的起始端；
[0021]B5：通过上激光头与下激光头位于标准片D端的厚度读数为f，D端为标准片XY面在Y轴方向上倾斜γ角度的结束端；
[0022]B6：比较Y1,Y2的大小；
[0023]若Y1＝Y2，Y1,Y2均大于Y0，且e＝f，则上激光头与下激光头在同一XZ平面内；
[0024]若Y1≠Y2，上激光头与下激光头不在同一XZ平面内，则需执行下一步骤；
[0025]B7：沿Y轴方向调节上下激光头微调机构，需要反复执行B1
‑
B3步骤，使上下激光头的相对位置满足B6要求。此步骤包括如下子步骤：
[0026]B71：若Y1＞Y2，则说明上激光头光轴在下激光头光轴左侧，需要逆时针旋转上激光头或下激光头，光轴偏移距离为(Y1
‑
Y2)/2tanα；
[0027]B72：若Y1＜Y2，则说明上激光头光轴在下激光头光轴右侧，需要顺时针旋转上激光头或下激光头，光轴偏移距离为(Y2
‑
Y1)/2tanα。
[0028]优选的，所述A71中上下激光头的光轴偏移距离为(X1
‑
X2)/2tanα，B71中上下激光头的光轴偏移距离为(Y1
‑
Y2)/2tanα。
[0029]优选的，所述A72中上下激光头的光轴偏移距离为(X2
‑
X1)/2tanα，B72中上下激光头的光轴偏移距离为(Y2
‑
Y1)/2tanα。
[0030]优选的，所述A71中进一步的包括：将上激光头逆时针旋转调节的角度为：tanθ＝[(X1
‑
X2)/4tanα]/旋转半径，调节位移为(X1
‑
X2)/4tanα，所述B71中进一步的包括：将上激光头顺时针旋转调节的角度为：tanθ＝[(Y1
‑
Y2)/4tanα]/旋转半径，调节位移为(Y1
‑
Y2)/4tanα。
[0031]优选的，所述A72中进一步的包括将上激光头顺时针旋转调节的角度为：tanθ＝[(X2
‑
X1)/4tanα]/旋转半径，调节位移为(X2
‑
X1)/4tanα，所述B72中进一步的包括将上激光头逆时针旋转调节的角度为：tanθ＝[(Y2
‑
Y1)/4tanα]/旋转半径，调节位移为(Y2
‑
Y1)/4tanα。
[0032]一种激光同轴度校准装置，所述校准装置包括标准片和固定座，所述固定座上开设有倾斜的第一校准面、第二校准面、第三校准面和第四校准面，第一校准面、第二校准面、第三校准面和第四校准面分别用于安装校准片，所述第一校准面、第二校准面、第三校准面和第四校准面的中部均设有避让上测量头或下测量头测量的镂空区域；所述第一校准面为相对XY平面沿X轴倾斜α度的面，所述第二校准面为相对XY平面沿X轴倾斜
‑
α度的面，所述第三校准面相对XY平面沿Y轴倾斜β度的面，所述第四校准面相对XY平面沿Y轴倾斜
‑
β度的面。
[0033]优选的，所述固定座上还设有基准面，所述基准面为平行XY平面的面。
[0034]优选的，所述固定座为一个回字形结构，回字形结构中的两个相对位置上设有所述第一校准面、第二校准面、第三校准面和第四校准面，所述回字形结构的中部形成所述镂空区域。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光同轴度校准方法，其特征在于：所述激光同轴度校准方法包括以下步骤：A：X轴方向的同轴度校准；A1：通过上激光头与下激光头位于基准面的标准片的厚度读数为X0；A2：通过上激光头与下激光头位于第一校准面的标准片的厚度读数为X1，第一校准面为的校准片的XY平面在X轴方向上偏转α角度的面；A3：通过上激光头与下激光头位于第二校准面的标准片的厚度读数为X2，第二校准面为的校准片的XY平面在X轴方向上偏转
‑
α角度的面；A4：通过上激光头与下激光头位于标准片C端的厚度读数为a，C端为标准片XY面在X轴方向上偏转γ角度的起始端；A5：通过上激光头与下激光头位于标准片D端的厚度读数为b，D端为标准片XY面在X轴方向上倾斜γ角度的结束端；A6：比较X1,X2的大小，若X1＝X2，X1,X2均大于X0，且a＝b，则上激光头与下激光头在同一YZ平面内；若X1≠X2，上激光头与下激光头不在同一YZ平面内，则需执行下一步骤；A7：沿X轴方向调节上下激光头微调机构，需要反复执行A1
‑
A3步骤，使上下激光头的相对位置满足A6要求，包括如下子步骤：A71：若X1＞X2，则说明上激光头光轴在下激光头光轴左侧，需要逆时针旋转上激光头或下激光头，光轴偏移距离为：(X1
‑
X2)/2tanα；A72：若X1＜X2，则说明上激光头光轴在下激光头光轴右侧，需要顺时针旋转上激光头或下激光头，光轴偏移距离为：(X2
‑
X1)/2tanα；B：Y轴方向的同轴度校准；B1：通过上激光头与下激光头位于基准面的标准片的厚度读数为Y0；B2：通过上激光头与下激光头位于第三校准面的标准片的厚度读数为Y1，第一校准面为的校准片的XY平面在Y轴方向上偏转α角度的面；B3：通过上激光头与下激光头位于第四校准面的标准片的厚度读数为Y2，第二校准面为的校准片的XY平面在Y轴方向上偏转
‑
α角度的面；B4：通过上激光头与下激光头位于标准片C端的厚度读数为e，C端为标准片XY面在Y轴方向上偏转γ角度的起始端；B5：通过上激光头与下激光头位于标准片D端的厚度读数为f，D端为标准片XY面在Y轴方向上倾斜γ角度的结束端；B6：比较Y1,Y2的大小；若Y1＝Y2，Y1,Y2均大于Y0，且e＝f，则上激光头与下激光头在同一XZ平面内；若Y1≠Y2，上激光头与下激光头不在同一XZ平面内，则需执行下一步骤；B7：沿Y轴方向调节上下激光头微调机构，需要反复执行B1
‑
B3步骤，使上下激光头的相对位置满足B6要求，此步骤包括如下子步骤：B71：若Y1＞Y2，则说明上激光头光轴在下激光头光轴左侧，需要逆时针旋转上激光头或下激光头，光轴偏移距离为(Y1
‑
Y2)/2tanα；B72：若Y1＜Y2，则说明上激光头光轴在下激光头光轴右侧，需要顺时针旋转上激光头或下激光头，光轴偏移距离为(Y2
...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹国平，朱鹏程，陆林，陈坤，葛靖，
申请(专利权)人：常州锐奇精密测量技术有限公司，
类型：发明
国别省市：