本实用新型专利技术公开了一种金属材料检测用晶粒度测试装置，属于金属材料检测技术领域，针对了手动调节金属材料容易导致金属材料出现位移过度的情况发生，使得金属材料表面的局部位置遗漏观测以及金属材料表面容易依附有一定量的灰尘影响使用者的正常观测的问题，包括工作台，工作台顶部的一侧设置有金相显微镜本体，金相显微镜本体的底部固定有连接板，工作台顶部位于金相显微镜本体底部的位置处开设有杆槽，杆槽的内部转动连接有第一螺纹杆；本实用新型专利技术由于第一螺纹杆以及第二螺纹杆驱动固定机构以及金相显微镜本体的运动具备一定的精度，从而能够避免出现观测时金属材料表面局部位置出现遗漏观测的情况发生。局部位置出现遗漏观测的情况发生。局部位置出现遗漏观测的情况发生。
【技术实现步骤摘要】
一种金属材料检测用晶粒度测试装置
[0001]本技术属于金属材料检测
，具体涉及一种金属材料检测用晶粒度测试装置。
技术介绍
[0002]晶粒度是表示晶粒大小的尺度，常用的表示方法有单位体积的晶粒数目，单位面积内的晶粒数目或晶粒的平均线长度，金属结晶时，每个晶粒都是由一个晶核长大而成的，因此晶粒的大小取决于晶核的数目和晶粒长大速度的相对大小，晶粒度数值的大小会影响金属冷却后所获得的产物的组织和性能，对于金属材料的晶粒度需要通过相应的检测装置对其进行检测。
[0003]现有技术中的金属材料检测用晶粒度测试装置往往通过将金属材料置于装载板上，并通过使用相应的金相显微镜对金属材料进行观查检测，在实际使用的过程中，存在以下不足之处：
[0004]①
现有技术中的金属材料检测用晶粒度测试装置在逐步对金属材料进行晶粒度检测时，需要通过手动微移金属材料移动，从而改变金相显微镜能够观测金属材料的位置，由于手动调节金属材料容易出现误差，导致金属材料出现位移过度的情况发生，使得金属材料表面的局部位置遗漏观测，不利于使用。
[0005]②
现有技术中的金属材料检测用晶粒度测试装置在检测时，由于金属材料表面容易依附有一定量的灰尘，从而在使用金相显微镜观测时，能够影响使用者的正常观测，不利于使用。
[0006]因此，需要一种金属材料检测用晶粒度测试装置，解决现有技术中存在的手动调节金属材料容易导致金属材料出现位移过度的情况发生，使得金属材料表面的局部位置遗漏观测以及金属材料表面容易依附有一定量的灰尘影响使用者的正常观测的问题。
技术实现思路
[0007]本技术的目的在于提供一种金属材料检测用晶粒度测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0008]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种金属材料检测用晶粒度测试装置，包括工作台，所述工作台顶部的一侧设置有金相显微镜本体，所述金相显微镜本体的底部固定有连接板，所述工作台顶部位于金相显微镜本体底部的位置处开设有杆槽，所述杆槽的内部转动连接有第一螺纹杆，所述第一螺纹杆的一端穿过杆槽并延伸出工作台的外部，所述第一螺纹杆位于杆槽内部部分的外周面螺纹连接有第一螺套，所述第一螺套的顶部与连接板的表面相固定，所述第一螺纹杆位于工作台外部部分的外周面固定套设有第一圆齿轮，所述工作台一端位于第一圆齿轮一侧的位置处转动连接有第一活动杆，所述第一活动杆的外周面固定套设有第二圆齿轮，所述第二圆齿轮与第一圆齿轮之间啮合连接，所述金相显微镜本体的一端设置有固定机构，所述工作台顶部位于固定机构底部的位置处
开设有通槽，所述通槽的内部转动连接有第二螺纹杆，所述第二螺纹杆外周面的中间位置处螺纹连接有两个呈对称分布的第二螺套，所述第二螺套的顶部与固定机构的表面相固定。
[0009]方案中需要说明的是，所述第二螺纹杆的底部设置有转动轴，所述转动轴的两侧与工作台的内表面转动连接，所述第二螺纹杆与转动轴外周面的一侧固定套设有第三圆齿轮，两个所述第三圆齿轮之间啮合连接，所述工作台内壁位于转动轴一端的位置处转动连接有连接轴，所述连接轴的一端延伸出工作台的外部，所述连接轴延伸出工作台外部部分的表面固定套设有第四圆齿轮，所述工作台一端位于第四圆齿轮一侧的位置处转动连接有第二活动杆，所述第二活动杆的外周面固定套设有第五圆齿轮，所述第五圆齿轮与第四圆齿轮之间啮合连接，所述连接轴与转动轴相互靠近的位置处固定套设有第一锥形齿轮，两个所述第一锥形齿轮之间啮合连接。
[0010]进一步值得说明的是，所述工作台的一侧固定有电机，所述电机的输出端固定有连接杆，所述固定机构的后端设置有三个扇叶，所述扇叶的中间位置处贯穿固定有活动轴，所述活动轴的一端穿过工作台延伸至靠近连接杆的位置处并与工作台的内壁转动连接。
[0011]更进一步需要说明的是，所述连接杆与活动轴相互靠近的位置处固定套设有第二锥形齿轮，两个相邻位置所述第二锥形齿轮之间啮合连接
[0012]作为一种优选的实施方式，所述固定机构包括固定板，所述固定板的顶部设置有两个呈对称分布的U形板，所述固定板顶部位于相邻位置U形板底部的位置处开设有两个内槽，所述内槽的内部固定有内嵌轴，所述内嵌轴的外周面滑动套设有滑套，所述滑套的顶部与相邻位置U形板的表面相固定，所述内嵌轴外周面靠近相邻位置滑套的位置处套设有弹簧。
[0013]作为一种优选的实施方式，所述弹簧的一侧与相邻位置滑套的表面相固定，所述弹簧的另一侧与相邻位置内槽的内腔面一侧相固定。
[0014]与现有技术相比，本技术提供的一种金属材料检测用晶粒度测试装置，至少包括如下有益效果：
[0015](1)通过将金属材料置于固定机构位置进行固定，并通过转动第二活动杆，从而使得第二螺套能够带动固定机构沿左右方向做水平运动并带动金属材料运动，通过转动第一活动杆，从而在第一螺套的带动下使得金相显微镜本体能够沿前后方向做水平方向运动，从而使得使用者能够逐步对具备一定长度以及宽度的金属材料表面进行检测，并且由于第一螺纹杆以及第二螺纹杆驱动固定机构以及金相显微镜本体的运动具备一定的精度，从而能够避免出现观测时金属材料表面局部位置出现遗漏观测的情况发生，从而提高了该装置的实用性。
[0016](2)通过启动电机，从而使得连接杆做圆周运动，进而在两个第二锥形齿轮之间的啮合作用下，从而使得活动轴做圆周运动带动扇叶做圆周运动，从而在扇叶产生的气流作用下能够将金属材料表面依附的灰尘吹落，从而能够避免出现金属材料表面的灰尘出现阻碍观测的情况发生，从而进一步提高了该装置的实用性。
附图说明
[0017]图1为本技术的整体结构的立体结构示意图；
[0018]图2为本技术中图1中A处的结构放大示意图；
[0019]图3为本技术中图1中B处的结构放大示意图；
[0020]图4为本技术的侧视方向的立体结构剖面示意图；
[0021]图5为本技术的正视方向的立体结构剖面示意图；
[0022]图6为本技术中图5中C处的结构放大示意图；
[0023]图7为本技术中固定机构的立体结构示意图。
[0024]图中：1、工作台；2、金相显微镜本体；3、连接板；4、杆槽；5、第一螺纹杆；6、第一螺套；7、固定机构；71、固定板；72、内槽；73、内嵌轴；74、滑套；75、弹簧；76、U形板；8、第一活动杆；9、第一圆齿轮；10、第二圆齿轮；11、通槽；12、第二螺纹杆；13、转动轴；14、第二螺套；15、第三圆齿轮；16、连接轴；17、第一锥形齿轮；18、第四圆齿轮；19、第二活动杆；20、第五圆齿轮；21、电机；22、连接杆；23、扇叶；24、活动轴；25、第二锥形齿轮。
具体实施方式
[0025]下面结合实施例对本技术做进一步的描述。
[0026]为了使得本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例的附图，对本实用新本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种金属材料检测用晶粒度测试装置，包括工作台(1)，其特征在于，所述工作台(1)顶部的一侧设置有金相显微镜本体(2)，所述金相显微镜本体(2)的底部固定有连接板(3)，所述工作台(1)顶部位于金相显微镜本体(2)底部的位置处开设有杆槽(4)，所述杆槽(4)的内部转动连接有第一螺纹杆(5)，所述第一螺纹杆(5)的一端穿过杆槽(4)并延伸出工作台(1)的外部，所述第一螺纹杆(5)位于杆槽(4)内部部分的外周面螺纹连接有第一螺套(6)，所述第一螺套(6)的顶部与连接板(3)的表面相固定，所述第一螺纹杆(5)位于工作台(1)外部部分的外周面固定套设有第一圆齿轮(9)，所述工作台(1)一端位于第一圆齿轮(9)一侧的位置处转动连接有第一活动杆(8)，所述第一活动杆(8)的外周面固定套设有第二圆齿轮(10)，所述第二圆齿轮(10)与第一圆齿轮(9)之间啮合连接，所述金相显微镜本体(2)的一端设置有固定机构(7)，所述工作台(1)顶部位于固定机构(7)底部的位置处开设有通槽(11)，所述通槽(11)的内部转动连接有第二螺纹杆(12)，所述第二螺纹杆(12)外周面的中间位置处螺纹连接有两个呈对称分布的第二螺套(14)，所述第二螺套(14)的顶部与固定机构(7)的表面相固定。2.根据权利要求1所述的一种金属材料检测用晶粒度测试装置，其特征在于：所述第二螺纹杆(12)的底部设置有转动轴(13)，所述转动轴(13)的两侧与工作台(1)的内表面转动连接，所述第二螺纹杆(12)与转动轴(13)外周面的一侧固定套设有第三圆齿轮(15)，两个所述第三圆齿轮(15)之间啮合连接，所述工作台(1)内壁位于转动轴(13)一端的位置处转动连接有连接轴(16)，所述连接轴(16)的一端延伸出工作台(1)的外部，所述连接轴(16)延伸出工作台(1)外部部分的表面固定套设有第四圆齿轮(18)，所述工作...
【专利技术属性】
技术研发人员：梅永，郝敏，朱艳，
申请(专利权)人：科泰检测技术服务无锡有限公司，
类型：新型
国别省市：
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