本发明专利技术公开了一种用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量装置及方法，包括杯体、第一铂金盖、第二铂金盖和热电偶，所述杯体设置为轴对称结构，所述杯体的上方设置第一铂金盖，所述杯体的下方设置第二铂金盖，所述第一铂金盖、杯体和第二铂金盖的构成密闭容器，所述第一铂金盖、杯体和第二铂金盖之间连接构成密闭空间，所述杯体的侧壁中部设置热电偶，所述热电偶的一端设置在杯体的外部，所述热电偶的另一端设置在杯体的内部。通过将测量装置至于马弗炉内利用辐射热加热的方式，保证了电阻率测量的温度范围，进一步的解决了测量装置的测量误差的问题。差的问题。差的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量装置及方法
[0001]本专利技术涉及液晶玻璃基板领域，具体为一种用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量装置及方法。
技术介绍
[0002]由于玻璃电阻率的变化对于池炉的内部流场状态影响较大，我们需要通过玻璃电阻率的多少判断玻璃质量，在现有技术中玻璃生产中使用电熔窑炉加热，电熔窑炉通过电极向玻璃液加载电流达到加热的效果。目前电熔窑炉加热熔融玻璃电阻率的测量主要是测量1000℃以下玻璃的电阻率，同时，需要通过将电极插入玻璃液中来测量，
[0003]但由于玻璃液的粘度较高，经常会导致电极发生形变，影响测量值的准确程度。现在急需一种误差小、可以测量不同温度玻璃液电阻率的方法。
技术实现思路
[0004]针对现有技术中存在测量范围小，测量误差大的问题，本专利技术提供一种用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量装置及方法；通过将测量装置至于马弗炉内利用辐射热加热的方式，保证了电阻率测量的温度范围，进一步的解决了测量装置的测量误差的问题。
[0005]本专利技术是通过以下技术方案来实现：
[0006]一种用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量装置，包括杯体、第一铂金盖、第二铂金盖和热电偶，所述杯体设置为轴对称结构，所述杯体的上方设置第一铂金盖，所述杯体的下方设置第二铂金盖，所述第一铂金盖、杯体和第二铂金盖的构成密闭容器，所述第一铂金盖、杯体和第二铂金盖之间连接构成密闭空间，所述杯体的侧壁中部设置热电偶，所述热电偶的一端设置在杯体的外部，所述热电偶的另一端设置在杯体的内部。<br/>[0007]进一步的，所述第一铂金盖的上方设置铂金盖加料口。
[0008]进一步的，所述杯体采用致密锆材质。
[0009]进一步的，所述热电偶设置在杯体内部的端部位于杯体的中心点。
[0010]进一步的，所述第一铂金盖连接设置第一接线端子，所述第二铂金盖上连接设置第二接线端子。
[0011]一种基于上述用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量装置的方法，该方法包括以下步骤：
[0012]S1：通过铂金盖加料口对容器中加入玻璃粉料，将测量装置进行加热；
[0013]S2：容器中随着加热玻璃粉料变成玻璃液，并在熔融状态下不断加入玻璃粉料进入容器中，直至玻璃液充满容器；
[0014]S3：将玻璃液加热至澄清，通过第一铂金盖和第二铂金盖对玻璃液加载电流，根据加载的电压和电流计算不同温度下的玻璃液电阻率。
[0015]进一步的，通过将测量装置设置于马弗炉中进行加热。
[0016]进一步的，通过采用少量多次的原则加入玻璃粉料，直至玻璃液充满容器。
[0017]进一步的，通过马弗炉对玻璃液加热至澄清温度，之后保持24小时以上。
[0018]进一步的，在对玻璃液的电阻率测量之前，将玻璃液内部气体排除。
[0019]与现有技术相比，本专利技术具有以下有益的技术效果：
[0020]本专利技术提供了一种用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量装置，通过将测量装置至于马弗炉内利用辐射热加热的方式，保证了电阻率测量的温度范围，进一步的解决了测量装置的测量误差的问题。
[0021]进一步的，通过铂金盖加料口的设置，能够有效方便玻璃粉料熔融后，从铂金盖加料口少量多次添加粉料。
[0022]进一步的，通过致密锆材质的设置，利用不导电、耐高温的特质，保证了装置的安全性，测量的准确性。
[0023]一种用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量方法，通过将测量装置设置于马弗炉中进行加热的方式，保证了装置的加热效果，直接保证了装置实现1000℃以上的可能性；同时通过少量多次的方式，有效的保证了装置的检测效果，方便了装置中物料的添加，并且，能够进一步的保证检测的准确性。
[0024]通过将玻璃液内部气体排除的方式，有效的减少了气体对玻璃液电阻率测量的影响
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0026]图1为本专利技术实施例提供的一种用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量装置的整体结构示意图；
[0027]图2为本专利技术实施例提供的一种用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量装置的主视示意图；
[0028]图3为本专利技术实施例提供的一种用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量装置的左视示意图；
[0029]图4为本专利技术实施例提供的一种用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量装置的俯视示意图；
[0030]图中：第一铂金盖1、第二铂金盖3、铂金盖加料口1
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1、杯体2、第一接线端子4、第二接线端子5、热电偶6。
具体实施方式
[0031]在下文中，仅简单地描述了某些示例性实施例。正如本领域技术人员可认识到的那样，在不脱离本专利技术的精神或范围的情况下，可通过各种不同方式修改所描述的实施例。因此，附图和描述被认为本质上是示例性的而非限制性的。
[0032]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时
针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0033]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多该特征。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0034]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接，还可以是通信；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0035]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量装置，其特征在于，包括杯体(2)、第一铂金盖(1)、第二铂金盖(3)和热电偶(6)，所述杯体(2)设置为轴对称结构，所述杯体(2)的上方设置第一铂金盖(1)，所述杯体(2)的下方设置第二铂金盖(3)，所述第一铂金盖(1)、杯体(2)和第二铂金盖(3)的构成密闭容器，所述第一铂金盖(1)、杯体(2)和第二铂金盖(3)之间连接构成密闭空间，所述杯体(2)的侧壁中部设置热电偶(6)，所述热电偶(6)的一端设置在杯体(2)的外部，所述热电偶(6)的另一端设置在杯体(2)的内部。2.根据权利要求1所述的一种用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量装置，其特征在于，所述第一铂金盖(1)的上方设置铂金盖加料口(1
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1)。3.根据权利要求1所述的一种用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量装置，其特征在于，所述杯体(2)采用致密锆材质。4.根据权利要求1所述的一种用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量装置，其特征在于，所述热电偶(6)设置在杯体(2)内部的端部位于杯体(2)的中心点。5.根据权利要求1所述的一种用于液晶基板玻璃高温下电阻率测量装置，其特征在于，所述第一铂金盖(1)连接设置第一接线...
【专利技术属性】
技术研发人员：李少甫，刘琎，段海波，
申请(专利权)人：虹阳显示咸阳科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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