MCU产线测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本申请公开一种MCU产线测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，其中方法包括：在引导程序启动后，通过所述引导程序读取存储模块内的启动标志位；所述引导程序确定所述启动标志位是否等于预设值，所述预设值表示已进行或已通过内存测试；若所述启动标志位等于所述预设值，则跳转至产线测试程序；若所述启动标志位不等于所述预设值，则执行内存测试及所述预设值写入操作。本申请有利于避免因为内存存在缺陷而导致的产品一致性较差，产线生产不良率大，问题定位时间耗时长，产线生产效率降低，经济损失增大等问题。经济损失增大等问题。经济损失增大等问题。

【技术实现步骤摘要】
MCU产线测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质


[0001]本申请涉及MCU产线测试
，具体涉及一种MCU产线测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]MCU是微控制单元(Microcontroller Unit)，又称单片微型计算机(Single Chip Microcomputer)或者单片机。
[0003]当前，在生产线对MCU进行测试时，通常没有内存测试流程和机制。在这种情况下，大批量的MCU从原厂出厂时有可能出现质量参差不齐，产品一致性较差，导致产线生产不良率较大，问题定位时间耗时长，会降低产线生产效率，同时造成的沟通成本、人力成本、时间成本等都会造成很大的经济损失。当没有被检查出来的问题产品流入市场后，用户操作时会在特定场景下出现死机、重启、卡顿等问题，售后流程定位时间长、效率低、人力成本消耗大。

技术实现思路

[0004]本申请的目的在于提供一种MCU产线测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，能够解决上述至少一技术问题。
[0005]为实现上述目的，本申请提供了一种MCU产线测试方法，包括：
[0006]在引导程序启动后，通过所述引导程序读取存储模块内的启动标志位；
[0007]所述引导程序确定所述启动标志位是否等于预设值，所述预设值表示已进行或已通过内存测试；
[0008]若所述启动标志位等于所述预设值，则跳转至产线测试程序；
[0009]若所述启动标志位不等于所述预设值，则执行内存测试及所述预设值写入操作。
[0010]可选地，所述执行内存测试及所述预设值写入操作包括：
[0011]执行内存测试并在所述启动标志位写入所述预设值；或者
[0012]执行内存测试，若所述内存测试通过，则在所述启动标志位写入所述预设值。
[0013]可选地，在所述内存测试通过且所述启动标志位写入所述预设值后，还包括：
[0014]控制电子设备重启；
[0015]在所述引导程序启动后，通过所述引导程序读取所述存储模块内的启动标志位；
[0016]所述引导程序确定所述启动标志位是否等于预设值；
[0017]若所述启动标志位等于所述预设值，则跳转至产线测试程序。
[0018]可选地，若所述内存测试未通过，控制屏幕显示错误码并停止测试。
[0019]可选地，所述存储模块为Flash。
[0020]可选地，所述Flash包括第一区域、第二区域和第三区域，所述第一区域用于存储系统参数和所述启动标志位，所述第二区域用于存储所述引导程序，所述第三区域用于存储所述产线测试程序。
[0021]可选地，所述内存测试的程序设置在所述引导程序。
[0022]为实现上述目的，本申请还提供了一种MCU产线测试装置，包括：
[0023]读取模块，用于在引导程序启动后，通过所述引导程序读取存储模块内的启动标志位；
[0024]确定模块，用于所述引导程序确定所述启动标志位是否等于预设值，所述预设值表示已进行或已通过内存测试；
[0025]跳转模块，用于若所述启动标志位等于所述预设值，则跳转至产线测试程序；
[0026]执行模块，用于若所述启动标志位不等于所述预设值，则执行内存测试及所述预设值写入操作。
[0027]为实现上述目的，本申请还提供了一种电子设备，包括：
[0028]处理器；
[0029]存储器，其中存储有所述处理器的可执行指令；
[0030]其中，所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行如前所述的MCU产线测试方法。
[0031]为实现上述目的，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有程序，所述程序被处理器执行时实现如前所述的MCU产线测试方法。
[0032]本申请还提供了一种计算机程序产品或计算机程序，该计算机程序产品或计算机程序包括计算机指令，该计算机指令存储在计算机可读存储介质中。电子设备的处理器从计算机可读存储介质读取该计算机指令，处理器执行该计算机指令，使得该电子设备执行如上所述的MCU产线测试方法。
[0033]本申请中，在引导程序在启动后，引导程序读取到存储模块内的启动标志位时会确定启动标志位是否等于预设值，预设值表示MCU已进行或已通过内存测试，在启动标志位等于预设值时才会跳转产线测试程序，而在启动标志位不等于预设值时，说明当前待测试的MCU没有进行过内存测试，则会执行内存测试及预设值写入操作，进而有利于保证在对MCU进行产线测试之前已经完成了内存测试。因此，本申请有利于避免因为内存存在缺陷而导致的产品一致性较差，产线生产不良率大，问题定位时间耗时长，产线生产效率降低，经济损失增大等问题。
附图说明
[0034]图1是本申请实施例MCU产线测试方法的流程图。
[0035]图2是本申请实施例Flash区分划分的示意图。
[0036]图3是本申请另一实施例MCU产线测试方法的流程图。
[0037]图4是本申请又一实施例MCU产线测试方法的流程图。
[0038]图5是本申请实施例MCU产线测试装置的示意框图。
[0039]图6是本申请实施例电子设备的示意框图。
具体实施方式
[0040]为了详细说明本申请的
技术实现思路
、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。
[0041]实施例一
[0042]请参阅图1，本申请公开了一种MCU产线测试方法，包括：
[0043]101、在引导程序启动后，通过引导程序读取存储模块内的启动标志位。
[0044]引导程序为对MCU进行测试的电子设备在系统启动前的引导程序。
[0045]具体地，引导程序为BootLoader。
[0046]具体地，存储模块为Flash。Flash为存储芯片的一种，通过特定的程序可以修改里面的数据，中文通常称为闪存。
[0047]在一示例中，MCU首次被执行本申请MCU产线测试方法时，启动标志位默认为0xFFFFFFFF。但不局限于此。
[0048]102、引导程序确定启动标志位是否等于预设值，预设值表示已进行或已通过内存测试，若启动标志位等于预设值，则进入步骤103，若启动标志位不等于预设值，则进入步骤104。
[0049]在一示例中，预设值可以设置为0x5A5A5A5A。但不局限于此。
[0050]103、跳转至产线测试程序。
[0051]引导程序在确定启动标志位等于预设值时，说明当前待测试的MCU已经进行过或者已经通过内存测试，此时会跳转至产线测试程序。
[0052]具体地，在跳转至产线测试程序后，会执行产线测试程序，在产线测试程序顺利执行时，能够检测各器件功能，直至完成当前测试。
[0053]104、执行内存测试及预设值写入操作。具体地，内存测试可以包括内存位翻转测试，关于内存位翻转测试为本领域技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种MCU产线测试方法，其特征在于，包括：在引导程序启动后，通过所述引导程序读取存储模块内的启动标志位；通过所述引导程序确定所述启动标志位是否等于预设值，所述预设值表示已进行或已通过内存测试；若所述启动标志位等于所述预设值，则跳转至产线测试程序；若所述启动标志位不等于所述预设值，则执行内存测试及所述预设值写入操作。2.如权利要求1所述的MCU产线测试方法，其特征在于，所述执行内存测试及所述预设值写入操作包括：执行内存测试并在所述启动标志位写入所述预设值；或者执行内存测试，若所述内存测试通过，则在所述启动标志位写入所述预设值。3.如权利要求2所述的MCU产线测试方法，其特征在于，在所述内存测试通过且所述启动标志位写入所述预设值后，还包括：控制电子设备重启；在所述引导程序启动后，通过所述引导程序读取所述存储模块内的启动标志位；通过所述引导程序确定所述启动标志位是否等于预设值；若所述启动标志位等于所述预设值，则跳转至产线测试程序。4.如权利要求1所述的MCU产线测试方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：葛启亮，
申请(专利权)人：东莞华贝电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：