一种红外镜头制冷型探测器冷光阑测试装调装置及方法制造方法及图纸

一种红外镜头制冷型探测器冷光阑测试装调装置及方法，装置包括高温黑体、黑体遮拦片、二维直线导轨、冷光阑二维调整机构；所述高温黑体用于模拟红外目标，红外目标经光学系统，能量传输到红外探测器上；该探测器中已内置冷光阑，用于不断获取冷光阑测试结果；所述黑体遮拦片用于对黑体出光口径进行遮拦；所述二维直线导轨用于带动黑体目标在镜头前方进行二维扫描，直线导轨运动行程覆盖镜头全口径；冷光阑二维调整机构用于根据冷光阑测试结果，对冷光阑进行二维精密装调，调整精度优于0.05mm。采用上述装置的装调方法，操作简单，冷光阑匹配效率判据明确，兼容手动操作或全自动化操作，可用于红外镜头的批量研制生产线，应用范围广。用范围广。用范围广。

【技术实现步骤摘要】
一种红外镜头制冷型探测器冷光阑测试装调装置及方法


[0001]本专利技术涉及红外光学成像
，具体涉及一种红外镜头制冷型探测器冷光阑测试装调装置及方法。

技术介绍

[0002]随着光学技术的发展，红外成像光学系统在先进光学仪器、航天、军事、医学等方面获得了越来越多的应用。在红外制冷探测器中，杂散辐射会导致系统的像对比度降低、丢失目标高频信号以及色彩失真等，从而影响探测器的空间探测距离及分辨能力。因此，对于高精度红外制冷探测器而言，杂散辐射的抑制就显得尤为关键。
[0003]在红外制冷探测器中，由于探测的是红外辐射，探测器在接收辐射时，目标以外的区域都会辐射能量，尤其是冷光阑外部未被制冷的金属件，因而会对探测器造成干扰。为了避免这类问题，通常会在探测器芯片前放置冷光阑，以此来限制杂散辐射能量的传输。冷光阑，即传统意义上的冷屏，是杜瓦中的一个重要组件，主要起限制视场作用，减少背景光通量，降低背景噪声，从而提高探测器芯片的信噪比。
[0004]在对红外光学系统进行光学设计时，通常会将系统出瞳设计为实出瞳，位于探测器前方，与冷光阑完本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种红外镜头制冷型探测器冷光阑测试装调装置，其特征在于，包括高温黑体、黑体遮拦片、二维直线导轨、冷光阑二维调整机构；所述高温黑体用于模拟红外目标，红外目标经光学系统，能量传输到红外探测器上；该探测器中已内置冷光阑，用于不断获取冷光阑测试结果；所述黑体遮拦片为一金属板，用于对黑体出光口径进行遮拦，以缩小黑体输出目标的口径；所述二维直线导轨用于带动黑体目标在镜头前方进行二维扫描，直线导轨运动行程覆盖镜头全口径；冷光阑二维调整机构用于根据冷光阑测试结果，对冷光阑进行二维精密装调，调整精度优于0.05mm。2.根据权利要求1所述的测试装调装置，其特征在于，所述黑体遮拦板与高温黑体稳固连接，高温黑体与黑体遮拦板整体由二维直线导轨带动，在探测器镜头主镜前方全口径区域进行二维全覆盖扫描。3.根据权利要求1所述的测试装调装置，其特征在于，所述黑体遮拦中心开方形或圆形孔径，两侧保留为金属色，不发黑。4.根据权利要求1所述的测试装调装置，其特征在于，通过二维导轨驱动高温黑体组件实现两维平移，采用蛇形扫描方式对光学系统全口径区域实现遍历扫描。5.根据权利要求1所述的测试装调装置，其特征在于，当高温黑体组件位于光学系统口径内时，记录其坐标位置(x,y)和此时图像Image(x,y)，计算全视场平均灰度值DN(x,y)；通过二维导轨驱动使高温黑体组件两维平移，遍历光学系统口径全部位置，计算DN(x,y)极大值为DN1，若某坐标位置的平均灰度值相比DN1下降20％以上，判定该位置对应出瞳位置已经被冷光阑切光。6.根据权利要求1所述的测试装调装置，其特征在于，在黑体未开启状态，储存图像Image0，计算全视场平均DN值DN0，作为暗目标修正值。7.根据权利要求1所述的测试装调装置，其特征在于，以边缘口径区域的DN值是否对称，作为冷光阑高精度测试调整的判据。8.根据权利要求7所述的测试装调装置，其特征在于，以边缘口径区域的DN值是否对称，作为冷光阑高精度测试调整的判据，包括定义(x,y)位置与红外镜头孔径中心距离当某点(x1,y1)满足时，说明该测试点(x1,y1)位于红外镜头口径...

【专利技术属性】
技术研发人员：冀翼，刘辉，白绍竣，张超，伏瑞敏，张志飞，傅祥博，董欣，岳丽清，赵希婷，
申请(专利权)人：北京空间机电研究所，
类型：发明
国别省市：