一种基于超景深显微镜的点蚀评价方法技术

本发明专利技术公开了一种基于超景深显微镜的点蚀评价方法，包括：采用vhx7000超景深显微镜的3D拼接功能进行矩形范围拼接，采集材料试样在多视场中的点蚀坑的深度特征；在3D显示中选择标尺，通过长宽数值计算矩形测量总面积；根据单一视场的最大点蚀深度的标准偏差，确定单一视场的最大点蚀深度，对比后筛选出材料试样中的最大的最大点蚀深度；采集不同深度的基准面下点蚀坑的截面面积和数量；引入点蚀深度权重参量，提出点蚀倾向和点蚀程度的表达式，评价点蚀情况。本发明专利技术使用vhx7000超景深显微镜多视场采集不同深度基准面下的点蚀坑数据，进而使用点蚀倾向和点蚀程度的表达式计算，更好地反映试样的点蚀情况，实现点蚀评价的量化表述。述。述。

【技术实现步骤摘要】
一种基于超景深显微镜的点蚀评价方法


[0001]本专利技术涉及材料点蚀评价
，特别是涉及一种基于超景深显微镜的点蚀评价方法。

技术介绍

[0002]点蚀是金属点蚀中常见的一种类型，从金属表面很小的范围发生并拓展到内部。点蚀导致金属的失重非常小，但在自催化作用下，点蚀迅速，往往会导致设备发生穿孔，导致突发事故，具有较大的危害性和破坏性。
[0003]目前对点蚀性能的评价方法主要以电化学为主，包括极化曲线测量法、电化学阻抗谱等。在传统方法的基础上发展起来评价点蚀行为的新方法主要为微区探测技术、丝束电极法等。但是，点蚀过程具有偶然性和随机性，以上方法仅对点蚀表面微区进行研究，存在很大的局限性。采用图像处理的方式可准确表征材料表面点蚀坑的数量和面积，但缺少深度方向的测量。
[0004]目前点蚀程度的表征尚无统一的标准，通常通过点蚀的面积、数量、深度等特征进行程度判定，各特征表征之间联系较弱，且若想获取多种数据，往往需要使用多种仪器，不能在同一仪器中获取，花费时间较长。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于超景深显微镜的点蚀评价方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，采用vhx7000超景深显微镜的3D拼接功能进行矩形范围拼接，采集材料试样在多视场中的点蚀坑的深度特征；S2，在3D显示中选择标尺，通过长宽数值计算矩形测量总面积；S3，基于多视场中的点蚀坑的深度特征，获取单一视场的最大点蚀深度的标准偏差，确定单一视场的最大点蚀深度，对比后筛选出材料试样中的最大的最大点蚀深度；S4，随机选取多个视场进行不同基准面下的测量，采集不同深度的基准面下点蚀坑的截面面积和数量；S5，运用k值和ρ值公式，基于步骤S1至步骤S4得到的数据，进行点蚀评价：k＝∑S
n
*H
n
/S式中，k值反映材料试样的点蚀倾向，n代表不同深度的基准面，S
n
为该基准面下点蚀坑的截面面积，H
n
表示权重系数，为该基准面的深度与材料试样中最大的最大点蚀深度的比值，S为步骤S2中的矩形测量总面积；ρ＝∑d
...

【专利技术属性】
技术研发人员：董彩常，吴凯进，高荣杰，杨万国，孙丹丹，亓云飞，
申请(专利权)人：中国海洋大学，
类型：发明
国别省市：