光谱仪、便携式设备和用于检测电磁辐射的方法技术

一种光谱仪(10)，包括被配置为发射电磁辐射的发射器(11)；布置在所述光谱仪(10)的外表面(13)处的样品区域(12)；包括电致变色材料的调制单元(14)；滤光器(15)；光学检测器(16)；具有主延伸平面的集成电路(17)以及用于由发射器(11)发射的、经由所述样品区域(12)、所述调制单元(14)和所述滤光器(15)朝向光学检测器(16)的电磁辐射的光路，其中所述电致变色材料与所述集成电路(17)电连接，且所述调制单元(14)被配置为对电磁辐射进行时间调制。此外，提供了一种用于检测电磁辐射的方法。提供了一种用于检测电磁辐射的方法。提供了一种用于检测电磁辐射的方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光谱仪、便携式设备和用于检测电磁辐射的方法
[0001]本申请涉及光谱仪、便携式设备和用于检测电磁辐射的方法。
[0002]红外光谱仪广泛应用于气体检测、医疗传感、环境监测和工业过程控制等领域。为了在诸如移动电话的便携式设备中使用红外光谱仪，需要将光谱仪小型化。此外，对于消费类应用，需要降低成本。
[0003]为了检测红外范围内的电磁辐射，通常需要对检测器进行冷却，以增加信噪比。然而，冷却消耗空间，这与光谱仪的小型化相矛盾。不需要冷却的热检测器往往具有显著较低的探测率。此外，光谱仪的发射器的性能会随温度发生显著变化。除其他因素外，这些因素可能导致光谱仪的精度降低。
[0004]目的是提供一种精度更高的光谱仪。进一步的目标是提供一种具有更高精度的用于检测电磁辐射的方法。
[0005]这些目的通过独立权利要求的主题实现。在从属权利要求中描述了进一步的发展和实施例。
[0006]根据光谱仪的至少一个实施例，该光谱仪包括被配置为发射电磁辐射的发射器。例如，发射器是发光二极管。发射器可以被配置为发射可见光和红外范围内的电磁辐射。特别是，发射器被配置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种光谱仪(10)，包括：
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被配置为发射电磁辐射的发射器(11)；
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布置在光谱仪(10)的外表面(13)处的样品区域(12)；
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包括电致变色材料的调制单元(14)；
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滤光器(15)；
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光学检测器(16)；
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具有主延伸平面的集成电路(17)；和
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用于由所述发射器(11)发射的、经由所述样品区域(12)、所述调制单元(14)和所述滤光器(15)朝向所述光学检测器(16)的电磁辐射的光路，其中
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所述电致变色材料与所述集成电路(17)电连接，以及
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所述调制单元(14)被配置为在时间上调制电磁辐射。2.如权利要求1所述的光谱仪(10)，其中，所述滤光器(15)被配置为传输由所述调制单元(14)调制的电磁辐射。3.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，所述集成电路(17)包括锁定检测功能。4.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，所述光学检测器(16)被配置为检测可见光和红外范围内的电磁辐射。5.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，所述光学检测器(16)是光子检测器或热检测器。6.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，另外的光学检测器(18)邻近所述发射器(11)布置。7.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，所述发射器(11)、调制单元(14)、滤光器(15)、光学检测器(16)和集成电路(17)布置在所述样品区域(12)的同一侧。8.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，在垂直于所述集成电路(17)的主延伸平面的垂直方向(z)上，所述调制单元(14)布置在所述发射器(11)和所述样品区域(12)之间。9.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，在垂直于所述集成电路(17)的主延伸平面的垂直方向(z)上，透射区域(21)布置在所述样品区域(12)和所述发射器(11)之间，其中所述透射区域(21)对于由所述发射器(11)发射的电磁辐射具有至少0.7的透射...

【专利技术属性】
技术研发人员：黛博拉，
申请(专利权)人：AMS欧司朗有限公司，
类型：发明
国别省市：