一种用于电路板故障检测的测试探针头制造技术

本实用新型专利技术公开了涉及测试设备技术领域的一种用于电路板故障检测的测试探针头，包括壳体和接线机构，壳体左右两端部通过螺纹对称连接有端盖，相邻端盖之间设有第一探针头和第二探针头，第一探针头设于第二探针头内部，第一探针头上与第二探针头呈环形设有限位块，第二探针头上与第一探针头相对端部呈环形设有用于限位块卡接的限位槽，限位槽靠近第一探针头的端部设有第二接触片，第二接触片外侧设有第二磁铁，限位块上设有与第二接触片位置相对，且电性连接的第一接触片，第一接触片外侧设有第一磁铁。本申请不仅可以进一步减少探针头的占用面积，更加易于携带；可以保障探针头携带和使用过程中的稳定性，提高了探针头的使用寿命。用寿命。用寿命。

【技术实现步骤摘要】
一种用于电路板故障检测的测试探针头


[0001]本技术涉及测试设备
，具体为一种用于电路板故障检测的测试探针头。

技术介绍

[0002]不论是汽车、电脑、家电还是手机，只要是电器类的，那都不可缺少一个元件——电路板。而电路板从开始设计到完成成品，都需要经过很多工序。从元器件的选型、线路设计、调试测试、性能测试到温升测试等等，想要得到一个性能可靠的电路板，这其中的测试环节都是不可忽视的。倘若电路板在出厂前忽略了某一个测试的环节，使不良品流出，造成退货问题，自然也会导致相应的损失,因此电路板的测试环节变得格外重要。而测试探针，则是用于电路板一种测试连接电子元件。
[0003]测试探针由于尖头设计，其在放置和运输的时候，不是很方便，携带的时候，容易使得探针的测试端部被触碰，而造成探针损坏的情况发生。在现有专利：CN201821346771.6一种双头测试探针中公开了设置第一弹簧、第二弹簧，在其中一个探针使用的时候，通过将保护盖通过螺纹旋下，通过设置保护盖便于装置在运输过程中保护和不适用时的保护，通过将针头外侧的橡胶保护套取下，保护针头在部使用的时候或者在运输的过程中发生损坏，通过滑块在滑杆上滑动带动测试探针进行伸长或者缩短针。然而，其虽然能够实现探针的双头操作，但是，其长度仍然较长，占用面积较大，仍不利于携带，且弹簧的使用，对探针的稳定性难以持续保障。针对此，我们提出一种用于电路板故障检测的测试探针头。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种用于电路板故障检测的测试探针头，以解决上述背景技术中提出的现有技术中的双头探针，长度较长，占用面积较大，不利于携带，且对探针的稳定性难以持续的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于电路板故障检测的测试探针头，包括壳体和接线机构，所述壳体左右两端部通过螺纹对称连接有端盖，相邻所述端盖之间设有第一探针头和第二探针头，所述第一探针头设于第二探针头内部，所述第一探针头和第二探针头外端部均设有凸台，所述端盖内部设有与凸台接触的限位板，所述第一探针头上与第二探针头呈环形设有限位块，所述限位块设于第一探针头内部，所述第二探针头上与第一探针头相对端部呈环形设有用于限位块卡接的限位槽，所述限位槽开设于第二探针头外侧面，所述限位槽靠近第一探针头的端部设有第二接触片，所述第二接触片外侧设有第二磁铁，所述限位块上设有与第二接触片位置相对，且电性连接的第一接触片，所述第一接触片外侧设有第一磁铁。
[0006]优选的，所述第一磁铁和第二磁铁左右位置相对应，且第一磁铁和第二磁铁相对面磁性相反。
[0007]优选的，所述第一探针头和第二探针头中心共线，且第一探针头、第二探针头的外
径均小于壳体内径。
[0008]优选的，所述限位板外径等于壳体外径，且所述壳体设于相邻限位板之间。
[0009]优选的，所述接线机构固定安装于壳体上，且接线机构与第一探针头、第二探针头均电性连接。
[0010]优选的，所述限位槽为条形槽，且所述限位槽与限位块数量相等。
[0011]优选的，所述限位板截面为圆环形，且限位板外径小于凸台外径。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0013]该用于电路板故障检测的测试探针头，通过将第一探针头和第二探针头设于壳体内部，并在壳体的两端部螺纹连接端盖，通过端盖对壳体封堵，进一步起到对探针头的防护效果；而第一探针头和第二探针头的相互插接方式，可以减少第一探针和第二探针头的占用面积，更加易于携带；而第一磁铁、第二磁铁、限位板和凸台的设计，可以保障探针头携带和使用过程中的稳定性，提高了探针头的使用寿命，值得推广使用。
附图说明
[0014]图1为本技术的结构示意图；
[0015]图2为本技术的半剖结构示意图；
[0016]图3为本技术的主剖示意图；
[0017]图4为本技术的A
‑
A剖视示意图。
[0018]图中：1、壳体；2、端盖；3、第一接触片；4、限位板；5、第一探针头；6、第二探针头；7、限位块；8、限位槽；9、凸台；10、第一磁铁；11、第二磁铁；12、第二接触片；13、接线机构。
具体实施方式
[0019]下面结合附图和实施方式对本技术作进一步说明。
[0020]第一实施例
[0021]请结合参阅图1、图2、图3和图4，其中，图1为本技术的结构示意图；图2为本技术的半剖结构示意图；图3为本技术的主剖示意图；
[0022]图4为本技术的A
‑
A剖视示意图。
[0023]本技术提供一种技术方案：一种用于电路板故障检测的测试探针头，本申请主要针对现有技术中的双头探针，长度较长，占用面积较大，不利于携带，且对探针的稳定性难以持续的问题加以改进。具体方案如下：包括壳体1和接线机构13，其中，壳体1为防触电金属壳体，在壳体1左右两端部通过螺纹对称连接有端盖2，其中，端盖2可以为硬质塑料材质，将其通过螺纹的方式与壳体1连接，能够有效保护探针头，且可以对壳体1两端部进行封堵操作，在未进行探针测试的过程中，能够避免灰尘或者水进入壳体1内部，对探针头起到一定的保护作用。
[0024]进一步的，在相邻端盖2之间设有第一探针头5和第二探针头6，其中，第一探针头5和第二探针头6均为独立的个体，其通过相应的导线与接线机构13连接，在其中一个探针头出现损坏时，另一个探针头仍可以继续使用。
[0025]其中，第一探针头6设于第二探针头5内部，第一探针头5和第二探针头6中心共线，且第一探针头5、第二探针头6的外径均小于壳体1内径。在第一探针头5和第二探针头6外端
部均设有凸台9，凸台9能够起到对第一探针头5和第二探针头6向壳体1内部缩回的长度限制，避免过度的缩回，而使其不易从壳体1取出。
[0026]进一步的，在端盖2内部设有与凸台9接触的限位板4，限位板4外径等于壳体1外径，且壳体1设于相邻限位板4之间。限位板4截面为圆环形，且限位板4外径小于凸台9外径。如图1
‑
2所示，在携带过程中，第一探针头5和第二探针头6均设于壳体1内部，此时，通过端盖2旋入壳体1上，通过限位板4抵住凸台9，便可以限制第一探针头5和第二探针头6从壳体1内部向外运动，将第一探针头5和第二探针头6设于壳体1内部携带，在起到对第一探针头5和第二探针头6防护的同时，还可以避免探针头在携带过程中，给携带者造成的伤害，提高了携带的安全性。
[0027]在本实施例中，第一探针头5上与第二探针头6呈环形设有限位块7，其中，限位块7设于第一探针头5内部，第二探针头6上与第一探针头5相对端部呈环形设有用于限位块7卡接的限位槽8，限位槽8为条形槽，且限位槽8与限位块7数量相等。限位槽8开设于第二探针头6外侧面。通过使得限位块7卡入限位槽8内部，能够保障第一探针头5和第二探针头6的相对位置，且通过其本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电路板故障检测的测试探针头，包括壳体和接线机构，其特征在于：所述壳体左右两端部通过螺纹对称连接有端盖，相邻所述端盖之间设有第一探针头和第二探针头，所述第一探针头设于第二探针头内部，所述第一探针头和第二探针头外端部均设有凸台，所述端盖内部设有与凸台接触的限位板，所述第一探针头上与第二探针头呈环形设有限位块，所述限位块设于第一探针头内部，所述第二探针头上与第一探针头相对端部呈环形设有用于限位块卡接的限位槽，所述限位槽开设于第二探针头外侧面，所述限位槽靠近第一探针头的端部设有第二接触片，所述第二接触片外侧设有第二磁铁，所述限位块上设有与第二接触片位置相对，且电性连接的第一接触片，所述第一接触片外侧设有第一磁铁。2.根据权利要求1所述的一种用于电路板故障检测的测试探针头，其特征在于：所述第一磁铁和第二磁铁左右位置相对...

【专利技术属性】
技术研发人员：方经军，
申请(专利权)人：苏州斯丹德电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：