用于扫描成像装置的相控阵探头制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于扫描成像装置的相控阵探头。该探头包括由换能器单元组成的阵列；换能器单元呈长方体，由压电块和非压电块组成；所述压电块和非压电块在换能器单元的宽度方向上交错放置；各换能器单元的上下表面分别覆盖有上电极和下电极。本发明专利技术提供的用于扫描成像装置的相控阵探头可以直接产生纯横波，避免了波型转换带来的能量损失或其它干扰，避免了固体中声波波型转换带来的影响；使用该探头，不仅可以利用电子相控技术实现对固体材料的垂直纯横波声束电子扫描，还可对粘接界面的液体夹层及零间隙脱粘进行检测。本发明专利技术提供的用于扫描成像装置的相控阵探头，可用于固体材料的超声无损检测，其中包括粘接界面的质量评价。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于扫描成像装置的探头，具体地说，涉及一种用于扫描成像装置的相控阵探头。
技术介绍
传统的相控阵成像技术利用超声纵波探头组成探头阵列对检测对象进行电子扫描成像。由于在固体中存在波型转换，传统的纵波相控阵技术在用于固体介质的检测时会遇到额外的干扰。另外，在粘接界面的液体夹层及零间隙脱粘的检测中，采用超声纵波无法检测。相对于纵波，横波探测有其独特的优势。从传播理论可知，对于各向异性等复杂介质材料纯横波的散射、反射特性比较单纯，采用横波检测有纵波无法达到的效果。在相同的频率条件下，横波波长比纵波波长几乎要小一倍，因此对同样大小的缺陷，横波的反射能量相对也要大的多。同时，在对粘接界面缺陷中液体夹层的检测中，横波的灵敏度也远比纵波高。虽然在焊缝的超声检测中，有时使用横波阵列探头(.Roy，O.，Mahaut，S.，Casula，O.，Development of a smart flexible transducer to inspect component ofcomplex geometrymodeling and experiment，AIP Conference 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于扫描成像装置的相控阵探头，该探头包括由换能器单元（２）组成的阵列；其特征在于，所述换能器单元（２）呈长方体，由压电块（３）和非压电块（４）组成；所述压电块（３）和非压电块（４）在换能器单元（２）的宽度方向上交错放置；各换能器单元（２）的上下表面分别覆盖有上电极（５）和下电极（６）。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：李明轩，廉国选，毛捷，王小民，杨玉瑞，李顺，叶青，
申请(专利权)人：中国科学院声学研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]