电插锁检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电插锁检测装置，由于具有放置架，且该放置架具有多个固定槽以及和固定槽对应的多个支架，固定槽用于放置待检测的电插锁的锁体，支架用于固定安装电插锁的锁钩以及带动锁钩扣入锁体实现上锁，因此多个电插锁的锁体和锁钩能够同时固定安装在放置架上以备检测，非常方便；还由于具有检测板和显示模块，检测板具有主控制模块、驱动模块以及检测模块，因此主控制模块能够通过驱动模块同时控制多个电插锁进行开锁，主控制模块能够通过电插锁检测模块同时获取多个电插锁的状态，从而能够进行对应的检测，并能够通过显示模块直观地显示检测结果。地显示检测结果。地显示检测结果。

【技术实现步骤摘要】
电插锁检测装置


[0001]本专利技术涉及售货柜
，具体涉及一种无人售货柜的电插锁的检测装置。

技术介绍

[0002]无人售货柜因为具有便利、占地小、节省人力等优势已经广为应用，无人售货柜安置在不同地方，商品的取出与付款均是由消费者自行操作。无人售货柜通常包括柜体、设置在柜体外的主控装置以及设置在柜体内的保温、照明等设备。其中，柜体中通常包含有多个副柜，每个副柜中包含有多个用于放置货物的货格，每个货格的格口处设置有对应的格门，每个格门上设置有电插锁，电插锁具有锁体和锁钩，锁体固定安装在货格上，锁钩固定安装在格门体上与锁体相对应的位置。当锁钩扣入锁体时，格门上锁，而需要打开格门时，无人售货柜的控制装置控制锁钩弹开，从而使格门打开。
[0003]对于无人售货柜来说，能够安全准确地打开指定的货格进行取货是其重要功能，而这依赖于电插锁的准确性，因此，有必要对应用于无人售货柜的电插锁进行检测。不仅如此，由于无人售货柜数量众多，且单个无人售货柜中也可能设置有多个电插锁，因此，需要一种电插锁检测装置，能够方便准确地同时对多个电插锁进行检测。

技术实现思路

[0004]为解决上述问题，提供一种电插锁检测装置，本专利技术采用了如下技术方案：
[0005]本专利技术提供了一种电插锁检测装置，用于检测无人售货柜的柜门的电插锁，电插锁具有锁体和锁钩，其特征在于，包括放置架，用于放置多个电插锁；检测板，用于对电插锁进行检测；以及显示模块，用于显示检测结果，其中，放置架具有多个固定槽以及与多个固定槽一一对应的多个支架，固定槽用于固定安装锁体，支架用于固定安装锁钩以及带动锁钩进行上锁，检测板具有主控制模块、供电模块、驱动模块以及检测模块，供电模块具有第一电源、第二电源和第三电源，驱动模块和检测模块分别与电插锁连接，主控制模块分别与驱动模块、检测模块以及显示模块连接，主控制模块通过驱动模块控制电插锁开锁，并通过检测模块检测电插锁的状态，并通过显示模块显示状态。
[0006]本专利技术提供的电插锁检测装置，还可以具有这样的技术特征，其中，主控制模块包括控制电路，控制电路包括控制芯片、晶振Y100以及晶振Y101，控制芯片具有引脚1
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48，控制芯片分别与第三电源、晶振Y100以及晶振Y101连接，控制芯片的型号为STM32F030CCT6，晶振Y100的频率为32.768KHz，晶振Y101的频率为8MHz。
[0007]本专利技术提供的电插锁检测装置，还可以具有这样的技术特征，其中，检测板还包括连接模块，连接模块分别与电插锁、驱动模块以及检测模块连接，连接模块包括多个电插锁连接电路，电插锁连接电路具有电插锁连接电路A路和电插锁连接电路B路，电插锁连接电路A路包括端子P1、电阻R3、二极管D1以及场效应管Q1A，端子P1与电插锁连接，场效应管Q1A的源极连接到控制芯片，栅极接地，漏极通过二极管D1连接到第一电源，并且二极管D1的阳极连接到漏极，电阻R3一端连接到场效应管Q1A的源极，另一端接地，电阻R3的阻值为1MΩ，
二极管D1的型号为IN4007，场效应管Q1A的型号为NCE6005A，电插锁连接电路B路包括端子P2、电阻R4、二极管D2以及场效应管Q1B，电插锁连接电路B路的电路结构及元器件参数与电插锁连接电路A路一致。
[0008]本专利技术提供的电插锁检测装置，还可以具有这样的技术特征，其中，电插锁的数量为八个，驱动模块包括驱动电路，驱动电路包括电阻R200、电阻201、定值电容C201、二级管D200以及六个级联的位移缓存器芯片，位移缓存器芯片具有引脚1
‑
15，电阻R200与二极管D200并联后一端连接到第三电源，另一端既连接到定值电容C201又连接到位移缓存器芯片的引脚10，并且二级管D200的阴极连接到第三电源，电阻R201的一端连接到第三电源，另一端连接到位移缓存器芯片的引脚13，位移缓存器芯片的引脚16连接到第三电源，位移缓存器芯片的引脚8接地，位移缓存器芯片的引脚11连接到控制芯片的引脚26，位移缓存器芯片的引脚12连接到控制芯片的引脚25，位移缓存器芯片的引脚9连接到级联的下一个位移缓存器芯片的引脚14，第一个位移缓存器芯片的引脚14连接到控制芯片的引脚28，第五个位移缓存器芯片的引脚15以及引脚1
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7依次连接到第一至第四个电插锁连接电路，并进一步连接到第一至第四个电插锁，第六个位移缓存器芯片的引脚15以及引脚1
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7依次连接到第五至第八个电插锁连接电路，并进一步连接到第五至第八个电插锁，位移缓存器芯片的型号为74HC595D，电阻R200和电阻R201的阻值均为4.7KΩ，定值电容C201的电容量为1uF，二级管D200的型号为IN4148。
[0009]本专利技术提供的电插锁检测装置，还可以具有这样的技术特征，其中，检测模块包括电插锁检测电路，电插锁检测电路包括定值电容C200、定值电容C201以及两个级联的位移寄存器芯片，定值电容C200一端连接到第三电源，另一端既连接到第一个位移寄存器芯片的引脚15又接地，定值电容C201的一端连接到第三电源，另一端既连接到第二个位移寄存器芯片的引脚15又接地，位移寄存器芯片的引脚1连接到控制芯片的引脚14，位移寄存器芯片的引脚2连接到控制芯片的引脚15，位移寄存器芯片的引脚16连接到第三电源，位移寄存器芯片的引脚8接地，第一个位移寄存器芯片的引脚9连接到级联的第二个位移寄存器芯片的引脚10，第二个位移寄存器芯片的引脚9连接到控制芯片的引脚16，位移寄存器芯片的引脚3
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6和引脚11
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14依次连接到八个电插锁连接电路，并进一步连接到八个电插锁，位移寄存器芯片的型号为74HC165D，定值电容C200和定值电容C201的电容量均为100nF。
[0010]本专利技术提供的电插锁检测装置，还可以具有这样的技术特征，其中，显示模块包括指示灯和显示终端中的至少一种。
[0011]本专利技术提供的电插锁检测装置，还可以具有这样的技术特征，其中，显示模块包括指示灯，连接模块还包括多个指示灯连接电路，指示灯连接电路包括指示灯连接电路A路和指示灯连接电路B路，指示灯连接电路A路包括端子D3、电阻R5、电阻R6、电阻R9、电阻R10、三极管Q2以及三极管Q4，端子D3具有引脚1
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3，端子D3的引脚1连接到第一电源，端子的引脚2连接到电阻R5的一端，电阻R5另一端连接到三极管Q2的集电极，三极管Q2的集电极连接到电阻R5的一端，基极连接到电阻R9的一端，发射极既连接到电阻R9的另一端又接地，端子D3的引脚3连接到电阻R6的一端，电阻R6的另一端连接到三极管Q3的集电极，三极管Q3的集电极连接到电阻R6的一端，基极连接到电阻R10的一端，发射极既连接到电阻R10的另一端又接地，电阻R5的阻值为1KΩ，电阻R6的阻值为0Ω，电阻R9和电阻R10的阻值均为1MΩ，三极管Q2和三极管Q3的型号均为SI2302，指示灯连接电路B路包括端子D4，电阻R7、电阻本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电插锁检测装置，用于检测无人售货柜的柜门的电插锁，所述电插锁具有锁体和锁钩，所述其特征在于，包括：放置架，用于放置多个所述电插锁；检测板，用于对所述电插锁进行检测；以及显示模块，用于显示检测结果，其中，所述放置架具有多个固定槽以及与多个所述固定槽一一对应的多个支架，所述固定槽用于固定安装所述锁体，所述支架用于固定安装所述锁钩以及带动所述锁钩进行上锁，所述检测板具有主控制模块、供电模块、驱动模块以及检测模块，所述供电模块具有第一电源、第二电源和第三电源，所述驱动模块和所述检测模块分别与所述电插锁连接，所述主控制模块分别与所述驱动模块、所述检测模块以及所述显示模块连接，所述主控制模块通过所述驱动模块控制所述电插锁开锁，并通过所述检测模块检测所述电插锁的状态，并通过所述显示模块显示所述状态。2.根据权利要求1所述的电插锁检测装置，其特征在于：其中，所述主控制模块包括控制电路，所述控制电路包括控制芯片、晶振Y100以及晶振Y101，所述控制芯片具有引脚1
‑
48，所述控制芯片分别与所述第三电源、所述晶振Y100以及所述晶振Y101连接，所述控制芯片的型号为STM32F030CCT6，所述晶振Y100的频率为32.768KHZ，所述晶振Y101的频率为8MHZ。3.根据权利要求2所述的电插锁检测装置，其特征在于：其中，所述检测板还包括连接模块，所述连接模块分别与所述电插锁、所述驱动模块以及所述检测模块连接，所述连接模块包括多个电插锁连接电路，所述电插锁连接电路具有电插锁连接电路A路和电插锁连接电路B路，所述电插锁连接电路A路包括端子P1、电阻R3、二极管D1以及场效应管Q1A，所述端子P1与所述电插锁连接，所述场效应管Q1A的源极连接到所述控制芯片，栅极接地，漏极通过所述二极管D1连接到所述第一电源，并且所述二极管D1的阳极连接到所述漏极，所述电阻R3一端连接到所述场效应管Q1A的源极，另一端接地，所述电阻R3的阻值为1MΩ，所述二极管D1的型号为IN4007，所述场效应管Q1A的型号为NCE6005A，所述电插锁连接电路B路包括端子P2、电阻R4、二极管D2以及场效应管Q1B，所述电插锁连接电路B路的电路结构及元器件参数与所述电插锁连接电路A路一致。4.根据权利要求3所述的电插锁检测装置，其特征在于：其中，所述电插锁的数量为八个，所述驱动模块包括驱动电路，所述驱动电路包括电阻R200、电阻201、定值电容C201、二级管D200以及六个级联的位
移缓存器芯片，所述位移缓存器芯片具有引脚1
‑
15，所述电阻R200与所述二极管D200并联后一端连接到所述第三电源，另一端既连接到所述定值电容C201又连接到所述位移缓存器芯片的引脚10，并且所述二级管D200的阴极连接到所述第三电源，所述电阻R201的一端连接到所述第三电源，另一端连接到所述位移缓存器芯片的引脚13，所述位移缓存器芯片的引脚16连接到所述第三电源，所述位移缓存器芯片的引脚8接地，所述位移缓存器芯片的引脚11连接到所述控制芯片的引脚26，所述位移缓存器芯片的引脚12连接到所述控制芯片的引脚25，所述位移缓存器芯片的引脚9连接到级联的下一个所述位移缓存器芯片的引脚14，第一个所述位移缓存器芯片的引脚14连接到所述控制芯片的引脚28，第五个所述位移缓存器芯片的引脚15以及引脚1
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7依次连接到第一至第四个所述电插锁连接电路，并进一步连接到第一至第四个所述电插锁，第六个所述位移缓存器芯片的引脚15以及引脚1
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7依次连接到第五至第八个所述电插锁连接电路，并进一步连接到第五至第八个所述电插锁，所述位移缓存器芯片的型号为74HC595D，所述电阻R200和所述电阻R201的阻值均为4.7KΩ，所述定值电容C201的电容量为1uF，所述二级管D200的型号为IN4148。5.根据权利要求4所述的电插锁检测装置，其特征在于：其中，所述检测模块包括电插锁检测电路，所述电插锁检测电路包括定值电容C200、定值电容C201以及两个级联的位移寄存器芯片，所述定值电容C200一端连接到所述第三电源，另一端既连接到第一个所述位移寄存器芯片的引脚15又接地，所述定值电容C201的一端连接到所述第三电源，另一端既连接到第二个所述位移寄存器芯片的引脚15又接地，所述位移寄存器芯片的引脚1连接到所述控制芯片的引脚14，所述位移寄存器芯片的引脚2连接到所述控制芯片的引脚15，所述位移寄存器芯片的引脚16连接到所述第三电源，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：林彬彬，徐鲁斌，
申请(专利权)人：浙江星星冷链集成股份有限公司，
类型：发明
国别省市：