一种读写测试方法及装置、计算机存储介质和电子设备制造方法及图纸

本申请实施例提供了一种读写测试方法及装置、计算机存储介质和电子设备，该方法包括：接收内存控制器发送的数据指令，确定数据指令对应的物理存储地址；在数据指令指示读操作时，对内存模块中的目标存储对象进行读操作，并接收内存模块发送的目标读取值；获取内存模块中的目标存储对象在最近一次写操作中的目标写入值；对目标读取值与目标写入值进行比较，根据比较结果确定内存模块中的目标存储对象的测试结果。这样，通过内存控制器发送的数据指令能够直接确定存储对象的物理存储地址，进而利用物理存储地址进行后续测试，无需针对不同的系统控制平台重新建立地址映射关系，能够提高读写测试的灵活性和通用性。够提高读写测试的灵活性和通用性。够提高读写测试的灵活性和通用性。

【技术实现步骤摘要】
一种读写测试方法及装置、计算机存储介质和电子设备


[0001]本申请涉及内存测试
，尤其涉及一种读写测试方法及装置、计算机存储介质和电子设备。

技术介绍

[0002]在服务器、个人电脑和各种消费类电子产品中，一般以动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)作为内存部件，以便提供临时数据存储功能。根据DRAM的数据存储原理，需要在使用过程中对DRAM进行不断刷新，从而保持数据稳定。
[0003]目前，一般通过测试应用程序(如Stress APP工具)对DRAM进行读写测试，保证内存的稳定性和可靠性。由于Stress APP工具需要利用逻辑存储地址进行读写测试，如果出现一个或者多个数据错误时候，Stress APP工具需要通过解析才能确定发生错误的物理存储地址。换句话说，针对不同的系统平台，Stress APP工具需要重新设计地址映射关系以及相应的测试参数，开发周期很长；另外，Stress APP工具还有可能存在兼容性问题，从而导致Stress APP工具的灵活性和通用性较差。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种读写测试方法，其特征在于，应用于读写测试装置，所述方法包括：接收内存控制器发送的数据指令，确定所述数据指令对应的物理存储地址；在所述数据指令指示读操作时，对内存模块中的目标存储对象进行读操作，并接收所述内存模块发送的目标读取值；其中，所述内存模块中的目标存储对象是根据所述物理存储地址确定的；获取所述内存模块中的目标存储对象在最近一次写操作中的目标写入值；对所述目标读取值与所述目标写入值进行比较，根据比较结果确定所述内存模块中的目标存储对象的测试结果。2.根据权利要求1所述的读写测试方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述数据指令指示写操作时，根据所述数据指令确定所述目标写入值；对所述内存模块中的目标存储对象进行写操作，以将所述目标写入值写入所述内存模块中的目标存储对象。3.根据权利要求2所述的读写测试方法，其特征在于，所述读写测试装置包括第一存储单元和第二存储单元；所述方法还包括：在确定所述目标写入值之后，将所述物理存储地址和所述目标写入值对应存储到所述第一存储单元中；在确定所述目标读取值之后，将所述物理存储地址和所述目标读取值对应存储到所述第二存储单元中。4.根据权利要求3所述的读写测试方法，其特征在于，所述对所述目标读取值与所述目标写入值进行比较，根据比较结果确定所述内存模块中的目标存储对象的测试结果，包括：从所述第一存储单元中，获取所述物理存储地址对应的目标写入值；从所述第二存储单元中，获取所述物理存储地址对应的目标读取值；在所述目标写入值和所述目标读取值相同的情况下，确定所述内存模块中的目标存储对象处于正常状态；或者，在所述目标写入值和所述目标读取值不同的情况下，确定所述内存模块中的目标存储对象处于异常状态。5.根据权利要求4所述的读写测试方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述目标写入值和所述目标读取值相同，或者在所述目标写入值和所述目标读取值不同且未接收到系统恢复指令的情况下，向所述内存控制器返回所述目标读取值；或者，在所述目标写入值和所述目标读取值不同且接收到所述系统恢复指令的情况下，对所述内存模块中的目标存储对象进行数据恢复处理。6.根据权利要求5所述的读写测试方法，其特征在于，所述对所述内存模块中的目标存储对象进行数据恢复处理，包括：对所述内存模块中的目标存储对象进行重写操作，以将所述目标写入值写入所述内存模块中的目标存储对象；对所述内存模块中的目标存储对象进行重读操作，并接收所述内存模块发送的修正后读取值；在所述修正后读取值与所述目标写入值相同的情况下，向所述内存控制器返回所述修正后读取值。
7.根据权利要求3所述的读写测试方法，其特征在于，所述方法还包括：根据所述第一存储单元和所述第二存储单元，统计所述内存模块中每一存储对象的读写次数；在控制所述内存控制器处于空闲状态后，根据所述内存模块中每一存储对象的读写次数，确定待处理存储对象；基于预设测试模式对所述待处理存储对象进行读写测试处理，以使得所述内存模块中每一存储对象的读写次数满足预设要求。8.根据权利要求7所述的读写测试方法，其特征在于，在所述基于预设测试模式对所述待处理存储对象进行读写测试处理之后，所述方法还包括：从所述第一存储单元中获取所述待处理存储对象对应的有效写入值；其中，所述有效写入值是指所述待处理存储对象在所述内存控制器处于空闲状态前的最近一次写操作中的目标写入值；对所述待处理存储对象进行写入处理，以将所述有效写入值写入所述待处理存储对象；控制所述内存控制器退出所述空闲状态。9.一种读写测试装置，其特征在于，包括：解析控制单元，用于接收内存控制器发送的数据指令，确定所述数据指令对应的物理存储地址；以及在所述数据指令指示读操作时，对内存模块中的目标存储对象进行读操作，并接收所述内存模块发送的目标读取值；其中，所述内存模块中的目标存储对象是根据所述物理存储地址确定的；比较单元，用于获取所述内存模块中的目标存储对象在最近一次写操作中的目标写入值；以及对所述目标读取值与所述目标写入值进行比较，根据比较结果确定所述内存模块中的目标存储对象的测试结果。10.根据权利要求9所述的读写测试装置，其特征在于，所述解析控制单元，还用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄国维，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：