一种内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路制造技术

本发明专利技术公开了一种内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路，涉及电压检测控制技术领域，包括电压采样模块，用于电压采样；一级调理模块，用于信号差分和电能转换；二级调理模块，用于信号放大并稳定模块；阈值比较模块，用于欠压和复位判断；欠压迟滞控制模块，用于为MCU模块提供欠压中断信号和改变采样电阻值；复位控制模块，用于为MCU模块提供低压复位信号；欠压保护模块，用于欠压保护。本发明专利技术内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路对采样的信号进行差分处理和电能转换，以便二级调理模块进行信号放大，通过阈值检测模块配合欠压迟滞控制模块进行欠压中断控制，并调节采样电阻值，进行复位检测和控制。进行复位检测和控制。进行复位检测和控制。

【技术实现步骤摘要】
一种内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路


[0001]本专利技术涉及电压检测控制
，具体是一种内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路。

技术介绍

[0002]随着信息化时代的发展，数字控制技术得到广泛应用，现有的MCU产品使用范围较广，为确保MCU芯片稳定可靠的工作，大多会在MCU芯片内设置一电压检测电路，现有的电压检测电路大多采用比较电路的方式分别进行欠压检测和复位控制，一种类型的检测需要一种比较电路，并为了保证检测信号的准确性，还采用运算放大器组成的信号调理电路，增加了MCU芯片的制造成本，也导致MCU芯片的面积变大，同时由于元器件增多也导致MCU芯片存在较大的电能损耗，并且MCU芯片无法自动进行欠压保护控制，因此有待改进。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例提供一种内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]依据本专利技术实施例的第一方面，提供一种内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路，该内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路包括：电源模块，MCU模块，电压采样模块，偏置电流模块，一级调理模块，二级调理模块，阈值比较模块，欠压迟滞控制模块，复位控制模块
[0005]所述电源模块，用于为MCU模块提供工作电能；
[0006]所述电压采样模块，与所述电源模块连接，用于对电源模块输出的电能进行电压采样并输出采样信号；
[0007]所述偏置电流模块，用于为所述一级调理模块和二级调理模块提供偏置电流；
[0008]所述一级调理模块，与所述电压采样模块和偏置电流模块连接，用于提供平衡电位，用于通过差分输入电路将所述采样信号和平衡电位进行差分处理并将输入的电压信号转换为电流信号，用于通过电流镜电路将电流信号转换为电压信号；
[0009]所述二级调理模块，与所述一级调理模块和偏置电流模块连接，用于接收所述一级调理模块输出的信号并通过信号放大输出，用于通过RC电路调整一级调理模块的零极点位置；
[0010]所述阈值比较模块，与所述二级调理模块连接，用于通过电压比较电路将接收所述二级调理模块输出的信号与设定的电能阈值进行比较，用于判断是否欠压和是否需要复位；
[0011]所述欠压迟滞控制模块，与所述阈值比较模块、电压采样模块和MCU模块连接，用于接收所述阈值比较模块输出的信号并延迟输出欠压中断信号，用于通过第一功率开关电路改变所述电压采样模块的采样电阻值；
[0012]所述复位控制模块，与所述欠压迟滞控制模块和MCU模块连接，用于通过第二功率
开关电路接收所述欠压中断信号并延迟输出低压复位信号；
[0013]所述MCU模块，用于通过MCU电路接收所述欠压中断信号和所述低压复位信号。
[0014]依据本专利技术实施例的另一方面，所述内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路还包括欠压保护模块；
[0015]所述欠压保护模块，用于接收所述欠压中断信号并通过逻辑运算电路进行第二次欠压保护控制；
[0016]所述欠压保护模块与所述欠压迟滞控制模块和MCU模块连接。
[0017]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路采用一级调理模块通过差分输入电路对电压采样模块采样的信号进行差分处理并配合电流镜电路进行电能转换，以便二级调理模块进行信号放大输出，提高对采样信号的采样精度，通过阈值检测模块配合欠压迟滞控制模块进行欠压中断控制，并由欠压迟滞控制模块调节电压采样模块的采样电阻值，将阈值检测模块变为复位控制，实现复位控制，保证功能的情况下，提高检测精度，节省芯片的面积，降低成本，提高电路的稳定性，并在二次欠压时进行电路保护控制。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1为本专利技术实例提供的一种内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路的原理方框示意图。
[0020]图2为本专利技术实例提供的一种内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路的电路图。
[0021]图3为本专利技术实例提供的欠压保护模块的连接电路图。
具体实施方式
[0022]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0023]实施例1，请参阅图1，一种内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路包括：电源模块1，MCU模块2，电压采样模块3，偏置电流模块4，一级调理模块5，二级调理模块6，阈值比较模块7，欠压迟滞控制模块8，复位控制模块9；
[0024]具体地，所述电源模块1，用于为MCU模块2提供工作电能；
[0025]电压采样模块3，与所述电源模块1连接，用于对电源模块1输出的电能进行电压采样并输出采样信号；
[0026]偏置电流模块4，用于为所述一级调理模块5和二级调理模块6提供偏置电流；
[0027]一级调理模块5，与所述电压采样模块3和偏置电流模块4连接，用于提供平衡电
位，用于通过差分输入电路将所述采样信号和平衡电位进行差分处理并将输入的电压信号转换为电流信号，用于通过电流镜电路将电流信号转换为电压信号；
[0028]二级调理模块6，与所述一级调理模块5和偏置电流模块4连接，用于接收所述一级调理模块5输出的信号并通过信号放大输出，用于通过RC电路调整一级调理模块5的零极点位置；
[0029]阈值比较模块7，与所述二级调理模块6连接，用于通过电压比较电路将接收所述二级调理模块6输出的信号与设定的电能阈值进行比较，用于判断是否欠压和是否需要复位；
[0030]欠压迟滞控制模块8，与所述阈值比较模块7、电压采样模块3和MCU模块2连接，用于接收所述阈值比较模块7输出的信号并延迟输出欠压中断信号，用于通过第一功率开关电路改变所述电压采样模块3的采样电阻值；
[0031]复位控制模块9，与所述欠压迟滞控制模块8和MCU模块2连接，用于通过第二功率开关电路接收所述欠压中断信号并延迟输出低压复位信号；
[0032]MCU模块2，用于通过MCU电路接收所述欠压中断信号和所述低压复位信号。
[0033]进一步地，所述内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路还包括欠压保护模块10；
[0034]具体地，所述欠压保护模块10，用于接收所述欠压中断信号并通过逻辑运算电路进行第二次欠压保护控制；
[0035]该欠压保护模块10与所述欠压迟滞本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路，其特征在于，该内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路包括：电源模块，MCU模块，电压采样模块，偏置电流模块，一级调理模块，二级调理模块，阈值比较模块，欠压迟滞控制模块，复位控制模块所述电源模块，用于为MCU模块提供工作电能；所述电压采样模块，与所述电源模块连接，用于对电源模块输出的电能进行电压采样并输出采样信号；所述偏置电流模块，用于为所述一级调理模块和二级调理模块提供偏置电流；所述一级调理模块，与所述电压采样模块和偏置电流模块连接，用于提供平衡电位，用于通过差分输入电路将所述采样信号和平衡电位进行差分处理并将输入的电压信号转换为电流信号，用于通过电流镜电路将电流信号转换为电压信号；所述二级调理模块，与所述一级调理模块和偏置电流模块连接，用于接收所述一级调理模块输出的信号并通过信号放大输出，用于通过RC电路调整一级调理模块的零极点位置；所述阈值比较模块，与所述二级调理模块连接，用于通过电压比较电路将接收所述二级调理模块输出的信号与设定的电能阈值进行比较，用于判断是否欠压和是否需要复位；所述欠压迟滞控制模块，与所述阈值比较模块、电压采样模块和MCU模块连接，用于接收所述阈值比较模块输出的信号并延迟输出欠压中断信号，用于通过第一功率开关电路改变所述电压采样模块的采样电阻值；所述复位控制模块，与所述欠压迟滞控制模块和MCU模块连接，用于通过第二功率开关电路接收所述欠压中断信号并延迟输出低压复位信号；所述MCU模块，用于通过MCU电路接收所述欠压中断信号和所述低压复位信号。2.根据权利要求1所述的一种内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路，其特征在于，所述内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路还包括欠压保护模块；所述欠压保护模块，用于接收所述欠压中断信号并通过逻辑运算电路进行第二次欠压保护控制；所述欠压保护模块与所述欠压迟滞控制模块和MCU模块连接。3.根据权利要求2所述的一种内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路，其特征在于，所述电源模块包括MCU电能；所述MCU模块包括MCU芯片；所述电压采样模块包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻；所述MCU电能连接第一电阻的一端和MCU芯片的电源端，第一电阻的另一端连接第二电阻的第一端和第四电阻的第一端，第四电阻的第二端连接所述一级调理模块，第二电阻的第二端连接第三电阻的第一端和所述欠压迟滞控制模块，第三电阻的第二端连接地端。4.根据权利要求3所述的一种内置MCU可动态切换电压检测点的低电压检测电路，其特征在于，所述一级调理模块包括第二功率管、第三功率管、第四功率管、第五功率管、第一电容、第一电源、第五电阻、第六电阻；所述第二功率管的源极和第四功率管的源极与所述MCU电能连接，第二功率管的漏极连接、第三功率管的漏极、第二功率管的栅极和第四功率管的栅极，第四功率管的漏极连接所述二级调理模块和第五功率管的漏极，第三功率管的栅极连接所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：任军，唐伟童，夏菁，
申请(专利权)人：恒烁半导体合肥股份有限公司，
类型：发明
国别省市：