光检测装置制造方法及图纸

本公开的光检测装置能够使放热、串扰减少且高速地检测微弱光。光检测装置具备：光检测元件；复位电路，在所述光检测元件检测到光之后将所述光检测元件的一端设定为初始化电压，并且具有能够使供给至所述光检测元件的一端的电流可变的可变电流源；以及控制电路，在从所述光检测元件检测到光起至所述光检测元件的一端被设定为所述初始化电压为止的期间，使所述可变电流源向所述光检测元件的一端供给的电流阶梯式地或连续地增加。的电流阶梯式地或连续地增加。的电流阶梯式地或连续地增加。

【技术实现步骤摘要】
光检测装置


[0001]本专利技术的一个实施方式涉及光检测装置。

技术介绍

[0002]作为将接收到的光变换为电信号的光检测元件之一，有雪崩光电二极管(Avalanche Photodiode，以下写作APD)。尤其在使APD以盖革模式(Geiger mode)进行工作时，APD具有检测1个光子的微弱光的能力。然而，虽然以盖革模式进行工作的APD的灵敏度高，但在探测到光子之后工作状态发生变化，不再能高灵敏度地对光进行探测。因此，需要对APD连接猝熄电路(quench circuit)来进行APD的复位。作为猝熄电路，有无源猝熄电路和有源猝熄电路。在无源猝熄电路中，通过将电阻元件串联连接于APD而经由电阻元件使电流流过APD，由此进行复位。无源猝熄电路的电路结构简易，但存在动作迟缓的问题。与此相对，有源猝熄电路使用晶体管等强制使电流流过APD，能够高速地进行APD的复位动作。
[0003]然而，在以往的有源猝熄电路中，在正当为了将APD复位而使电流流过APD时APD检测到光的情况下，有可能无法控制流过APD的电流，APD产生过度放热而损坏本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光检测装置，具备：光检测元件；复位电路，在所述光检测元件检测到光之后将所述光检测元件的一端设定为初始化电压，并且具有能够使供给至所述光检测元件的一端的电流可变的可变电流源；以及控制电路，在从所述光检测元件检测到光起至所述光检测元件的一端被设定为所述初始化电压为止的期间，使所述可变电流源向所述光检测元件的一端供给的电流阶梯式地或连续地增加。2.根据权利要求1所述的光检测装置，其中，所述复位电路连接于第1电压节点与所述光检测元件的一端之间，在从所述光检测元件检测到光起至所述光检测元件的一端被设定为所述初始化电压为止的期间，所述控制电路使所述第1电压节点与所述光检测元件的一端之间的导通电阻变化。3.根据权利要求1或2所述的光检测装置，其中，具备保持电路，当所述光检测元件检测到光而所述光检测元件的一端变为第1电位时，该保持电路使所述光检测元件的一端在预定期间维持为低于所述第1电位的第2电位，在经过了所述预定期间之后，所述控制电路使从所述光检测元件的一端流到另一端的电流阶梯式地或连续地增加。4.根据权利要求3所述的光检测装置，其中，在经过了所述预定期间之后，所述控制电路将从所述可变电流源向所述光检测元件的一端供给的电流设定为第1电流量，当所述光检测元件的一端变为高于所述第1电位且低于所述初始化电压的第3电位时，所述控制电路将从所述可变电流源供给至所述光检测元件的一端的电流设定为多于所述第1电流量的第2电流量。5.根据权利要求4所述的光检测装置，其中，当所述光检测元件的一端变为高于所述第3电位且低于所述初始化电压的第4电位时，所述控制电路将从所...

【专利技术属性】
技术研发人员：T，
申请(专利权)人：株式会社东芝，
类型：发明
国别省市：