一种清洁度颗粒分析系统滤膜夹具工装技术方案

本实用新型专利技术属于滤膜夹具技术领域，尤其为一种清洁度颗粒分析系统滤膜夹具工装，包括：滤膜夹具及滤膜夹具托架，滤膜夹具由上盖、下托组成，下托的中间设置有O型橡胶圈，滤膜夹具托架的中心设置有椭圆型凹槽，滤膜夹具托架的外部设置有方形槽，椭圆型凹槽的四角设置有O型圈，椭圆型凹槽的内侧设置有弹簧顶丝。该一种清洁度颗粒分析系统滤膜夹具工装，通过设置滤膜夹具、滤膜夹具托架、上盖、下托、O型橡胶圈、椭圆型凹槽、方形槽、O型圈、弹簧顶丝，可使得滤膜夹持平整并且方便快速取出滤膜，同时保证了扫描不同样品时，中心能保持一致，并且使得滤膜夹具与颗粒校准块中心一致。得滤膜夹具与颗粒校准块中心一致。得滤膜夹具与颗粒校准块中心一致。

【技术实现步骤摘要】
一种清洁度颗粒分析系统滤膜夹具工装


[0001]本技术涉及滤膜夹具
，具体为一种清洁度颗粒分析系统滤膜夹具工装。

技术介绍

[0002]传统的滤膜夹具采用螺纹式，夹持滤膜无法保证平整，取滤膜不方便，分析系统扫描时一般采用定位圆心扫描一个圆型区域，传统滤膜夹具无定位固定托架，每次扫描中心无法保证重复，分析系统一般需要配置颗粒校准块，传统夹具工装无法保证滤膜夹具中心和颗粒校准块中心保持一致。

技术实现思路

[0003]针对现有技术的不足，本技术提供了一种清洁度颗粒分析系统滤膜夹具工装，解决了传统的滤膜夹具采用螺纹式，夹持滤膜无法保证平整，取滤膜不方便，分析系统扫描时一般采用定位圆心扫描一个圆型区域，传统滤膜夹具无定位固定托架，每次扫描中心无法保证重复，分析系统一般需要配置颗粒校准块，传统夹具工装无法保证滤膜夹具中心和颗粒校准块中心保持一致的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种清洁度颗粒分析系统滤膜夹具工装，包括：滤膜夹具及滤膜夹具托架，滤膜夹具由上盖、下托组成，下托的中间设置有O型橡胶圈，滤膜夹具托架的中心设置有椭圆型凹槽，滤膜夹具托架的外部设置有方形槽，椭圆型凹槽的四角设置有O型圈，椭圆型凹槽的内侧设置有弹簧顶丝。
[0005]作为本技术的一种优选技术方案，上盖的规格与下托相匹配，下托采用卡口设计，上盖边缘做滚花处理。
[0006]作为本技术的一种优选技术方案，方形槽中心与椭圆型凹槽右侧中心保持一致。
[0007]作为本技术的一种优选技术方案，滤膜夹具可兼容47mm,50mm滤膜扫描分析。
[0008]作为本技术的一种优选技术方案，本系统滤膜夹具工装可兼容材料显微镜和体式显微镜清洁度分析系统应用。
[0009]与现有技术相比，本技术提供了一种清洁度颗粒分析系统滤膜夹具工装，具备以下有益效果：
[0010]该一种清洁度颗粒分析系统滤膜夹具工装，通过设置滤膜夹具、滤膜夹具托架、上盖、下托、O型橡胶圈、椭圆型凹槽、方形槽、O型圈、弹簧顶丝，可使得滤膜夹持平整并且方便快速取出滤膜，同时保证了扫描不同样品时，中心能保持一致，并且使得滤膜夹具与颗粒校准块中心一致。
附图说明
[0011]图1为本技术整体示意图；
[0012]图2为本技术整体示意图；
[0013]图3为本技术上盖俯视示意图；
[0014]图4为本技术下托示意图；
[0015]图5为本技术上盖正视示意图。
[0016]图中：2、滤膜夹具托架；11、上盖；12、下托；121、O型橡胶圈；21、椭圆型凹槽；22、方形槽；212、O型圈；213、弹簧顶丝。
具体实施方式
[0017]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0018]请参阅图1
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5，本实施方案中：一种清洁度颗粒分析系统滤膜夹具工装，包括：滤膜夹具及滤膜夹具托架2，滤膜夹具由上盖11、下托12组成，下托12的中间设置有O型橡胶圈121，滤膜夹具托架2的中心设置有椭圆型凹槽21，使得方便滤膜夹具放入及取出，系统运行前滤膜夹具一般由左侧放入椭圆型凹槽21，推至最右侧，滤膜夹具托架2的外部设置有方形槽22，椭圆型凹槽21的四角设置有O型圈212，使得上盖11压紧滤膜O型圈212一圈滤膜表面会产生张力，使放在滤膜夹具上的滤膜保持平整，同时可增加摩擦力，防止系统运动时颗粒校准块位置偏移，保证中心位固定，椭圆型凹槽21的内侧设置有弹簧顶丝213，使得滤膜夹具推入后保证滤膜夹具位置固定，系统运动时保持滤膜夹具不晃动，保持中心固定，上盖11的规格与下托12相匹配，使得可通过上盖11快速旋紧，避免采用螺纹式加紧后会松动的缺陷，下托12采用卡口设计，上盖11边缘做滚花处理，方形槽22中心与椭圆型凹槽21右侧中心保持一致。
[0019]本技术的工作原理及使用流程：通过设置滤膜夹具、滤膜夹具托架2、上盖11、下托12、O型橡胶圈121、椭圆型凹槽21、方形槽22、O型圈212、弹簧顶丝213，可使得滤膜夹持平整并且方便快速取出滤膜，同时保证了扫描不同样品时，中心能保持一致，并且使得滤膜夹具与颗粒校准块中心一致。
[0020]最后应说明的是：以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种清洁度颗粒分析系统滤膜夹具工装，包括：滤膜夹具及滤膜夹具托架（2），其特征在于：所述滤膜夹具由上盖（11）、下托（12）组成，所述下托（12）的中间设置有O型橡胶圈（121），所述滤膜夹具托架（2）的中心设置有椭圆型凹槽（21），所述滤膜夹具托架（2）的外部设置有方形槽（22），所述椭圆型凹槽（21）的四角设置有O型圈（212），所述椭圆型凹槽（2...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡高洋，闵信国，
申请(专利权)人：英菲洛精密科技苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：