一种改进的双目相位偏折测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及双目相位偏折测量领域，尤其涉及一种改进的双目相位偏折测量方法及装置，包括：S1、调整第一相机、第二相机、第一屏幕与第二屏幕至测量位置；S2、利用所述第一相机采集待测物体与第一屏幕对应的第一相移正弦相位图像，利用所述第二相机采集待测物体与第二屏幕对应的第二相移正弦相位图像；S3、利用所述第一相移正弦相位图像获取待测物体的第一表面法向量；S4、利用所述第二相移正弦相位图像获取待测物体的第二表面法向量；S5、利用所述第一表面法向量与第二表面法向量得到待测物体表面搜索点；S6、利用所述待测物体表面搜索点得到待测物体的测量结果，提高传统双目相位偏折测量技术的鲁棒性，并在一定程度上减轻重量，简化结构。简化结构。简化结构。

【技术实现步骤摘要】
一种改进的双目相位偏折测量方法及装置


[0001]本专利技术涉及双目相位偏折测量领域，具体涉及一种改进的双目相位偏折测量方法及装置。

技术介绍

[0002]随着工业制造技术的发展，对工业自动化检测也提出了更高的要求，高反表面是一类特殊器件，常被应用于光学领域作为反射器件，其中典型代表包括HUD，短焦投影反射镜等。由于这类表面光学特征相对复杂，同时对检测精度要求很高，因此这类器件检测相对困难。传统检测手段有轮廓仪，三坐标测量仪等，但是这类检测手段耗时严重，不满足工业级批量检测需求。
[0003]相位偏折测量技术是一种可用于高反表面高精度测量的视觉测量技术，其测量精度可与干涉仪对标，是此类高反器件高精度检测的一类有效手段。其中双目相位偏折测量技术是一类结构简单，可适用于复杂表面的测量技术，得到的广泛的研究[1]。然而，传统双目相位偏折测量技术存在一些缺陷，一方面，双目相机需要有一定的夹角以保证双目重构的精度，因此要求屏幕尺寸需要相对比较大，而大尺寸屏幕一方面会增加系统重量，另一方面会由于表面折射等因素影响检测精度，同时大尺寸屏幕也更容易受到本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种改进的双目相位偏折测量方法，其特征在于，包括：S1、调整第一相机、第二相机、第一屏幕与第二屏幕至测量位置；S2、利用所述第一相机采集待测物体与第一屏幕对应的第一相移正弦相位图像，利用所述第二相机采集待测物体与第二屏幕对应的第二相移正弦相位图像；S3、利用所述第一相移正弦相位图像获取待测物体的第一表面法向量；S4、利用所述第二相移正弦相位图像获取待测物体的第二表面法向量；S5、利用所述第一表面法向量与第二表面法向量得到待测物体表面搜索点；S6、利用所述待测物体表面搜索点得到待测物体的测量结果。2.如权利要求1所述的一种改进的双目相位偏折测量方法，其特征在于，所述调整第一相机、第二相机、第一屏幕与第二屏幕至测量位置包括：调整所述第一相机与第二相机的间距均大于待测物体与第一相机、第二相机的距离的三分之一；调整第一屏幕在待测物体中对应的虚像正对第一相机；调整第二屏幕在待测物体中对应的虚像正对第二相机。3.如权利要求1所述的一种改进的双目相位偏折测量方法，其特征在于，利用所述第一相移正弦相位图像获取待测物体的第一表面法向量包括：利用所述第一相移正弦相位图像基于解相位处理得到第一图像相机像素点；获取所述第一图像相机像素点对应的第一图像屏幕像素点；利用所述第一图像相机像素点获取第一图像像素空间直线；利用所述第一图像像素空间直线获取待测物体的第一表面法向量。4.如权利要求3所述的一种改进的双目相位偏折测量方法，其特征在于，利用所述第一图像像素空间直线获取待测物体的第一表面法向量包括：利用所述第一图像像素空间直线获取第一图像初始搜索点；利用第一图像相机像素点与第一图像初始搜索点的连线作为第一图像入射光线；利用第一图像屏幕像素点与第一图像初始搜索点的连线作为第一图像反射光线；利用所述第一图像入射光线与第一图像反射光线得到待测物体的第一表面法向量。5.如权利要求1所述的一种改进的双目相位偏折测量方法，其特征在于，利用所述第二相移正弦相位图像获取待测物体的第二表面法向量包括：利用所述第二相移正弦相位图像基于解相位处理得到第二图像相机像素点；获取所述第二图像相机像素点对应的第...

【专利技术属性】
技术研发人员：张效栋，闫宁，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：