本申请实施例提供一种冲击测试装置及冲击测试系统，该冲击测试装置用于对电子设备的抗冲击性能进行测试，冲击测试装置至少包括：冲击件以及水平位移机构；水平位移机构至少包括：水平导轨以及与水平导轨滑动连接的滑动平台；滑动平台沿着第一方向相对于水平导轨滑动；滑动平台包括：主体部以及位于主体部外周的凹槽，主体部用于固定电子设备；冲击件击打电子设备后，冲击件沿着主体部进入凹槽。这样，能够减少测试人员的手动操作流程，缩短测试时间，从而能够提升测试效率。从而能够提升测试效率。从而能够提升测试效率。
【技术实现步骤摘要】
冲击测试装置及冲击测试系统
[0001]本申请实施例涉及终端
，特别涉及一种冲击测试装置及冲击测试系统。
技术介绍
[0002]目前，手机、电脑等电子设备已经和我们的生活密不可分，生活中随处可见，且极大地提高了人们的生活水平。
[0003]在生产过程中，为了抽样检测电子设备样机的良品率，一般会对电子设备样机的可靠性例如抗冲击性能进行测试。以手机为例，相关技术中，一般会使用钢球冲击装置对手机样机的抗冲击性能进行测试，具体地，钢球冲击装置包括有底座、XY轴电动平台，升降结构，钢球吸附释放机构以及防止钢球二次冲击装置，在实际操作时，将手机样机固定在XY轴电动平台的中央，然后设置冲击位置坐标，将钢球放置在钢球吸附释放机构处，点击释放，钢球落下弹起后被夹住，以此完成一轮测试。
[0004]然而，上述方案中，整个测试过程需要测试人员全程手动操作，测试时间较长，且测试效率较低。
技术实现思路
[0005]本申请实施例提供一种冲击测试装置及冲击测试系统，能够减少测试人员的手动操作流程，缩短测试时间，从而能够提升测试效率。
[0006]本申请实施例第一方面提供一种冲击测试装置，该冲击测试装置用于对电子设备的抗冲击性能进行测试，该冲击测试装置至少包括：冲击件以及水平位移机构；所述水平位移机构至少包括：水平导轨以及与所述水平导轨滑动连接的滑动平台；所述滑动平台沿着第一方向相对于所述水平导轨滑动；所述滑动平台包括：主体部以及位于所述主体部外周的凹槽，所述主体部用于固定所述电子设备；所述冲击件击打所述电子设备后，所述冲击件沿着所述主体部进入所述凹槽。
[0007]本申请实施例提供的冲击测试装置中，滑动平台与水平导轨滑动连接，滑动平台能够沿着第一方向相对于水平导轨滑动，以实现滑动平台在水平方向上的位移。通过将滑动平台设计为包括主体部以及位于主体部外周的凹槽，主体部用于固定电子设备，冲击件击打电子设备后，冲击件可以沿着主体部进入凹槽，这样，能够实现对击打电子设备后掉落的冲击件的自动收纳，避免测试人员对击打电子设备后掉落的冲击件手动捡起收纳，因而，本申请实施例能够减少测试人员的手动操作流程，缩短测试时间，从而能够提升测试效率。
[0008]在一种可能的实现方式中，所述凹槽具有至少一个开口，以使所述冲击件通过所述开口离开所述凹槽。通过在凹槽上设置至少一个开口，能够便于击打电子设备后掉落的冲击件沿着滑动平台的主体部进入凹槽后，再通过开口离开凹槽。
[0009]在一种可能的实现方式中，所述凹槽包括第一凹槽以及第二凹槽；从所述第一凹槽的第一端至所述第一凹槽的第二端，所述第一凹槽的槽深逐渐变深；从所述第二凹槽的第一端至所述第二凹槽的第二端，所述第二凹槽的槽深逐渐变深；所述第一凹槽的第一端
与所述第二凹槽的第一端相连，所述第一凹槽的第二端与所述第二凹槽的第二端相连；所述开口位于所述第一凹槽的第二端与所述第二凹槽的第二端的连接位置处。
[0010]由于第一凹槽的第一端与第二凹槽的第一端相连，第一凹槽的第二端与第二凹槽的第二端相连，凹槽为一个闭合的槽形。从第一凹槽的第一端至第一凹槽的第二端，第一凹槽的槽深逐渐变深，从第二凹槽的第一端至第二凹槽的第二端，第二凹槽的槽深逐渐变深，这样，第一凹槽的第二端和第二凹槽的第二端的连接位置处的槽深最深，击打电子设备后掉落的冲击件沿着滑动平台的主体部进入凹槽的任意位置后，均会依靠重力作用自动移动至第一凹槽的第二端和第二凹槽的第二端的连接位置处，便于对冲击件的统一收纳。
[0011]另外，开口位于第一凹槽的第二端与第二凹槽的第二端的连接位置处，能够便于冲击件从凹槽的槽深最深位置处依靠重力作用离开凹槽，无需借助外力，在一定程度上节省了人力成本。
[0012]在一种可能的实现方式中，所述水平位移机构还包括：水平固定台、第一驱动组件以及第一传动组件；所述水平导轨位于所述水平固定台的一面上且与所述水平固定台固定连接；所述第一驱动组件用于驱动所述第一传动组件，以使所述第一传动组件带动所述滑动平台沿着所述第一方向相对于所述水平导轨发生滑动。
[0013]水平导轨固定连接在水平固定台的一面上，第一驱动组件驱动第一传动组件，以此使得第一传动组件带动滑动平台沿着第一方向相对于水平导轨发生滑动，即能够实现滑动平台沿着第一方向相对于水平固定台发生滑动。
[0014]在一种可能的实现方式中，所述冲击测试装置还包括：垂直位移机构；所述垂直位移机构包括：第二驱动组件以及同步组件；所述第二驱动组件用于驱动所述同步组件沿着垂直方向运动；所述同步组件包括：同步带以及固定在所述同步带上的至少一个第一吸附件；所述第一吸附件用于吸附所述冲击件，以使所述同步带带动所述冲击件在垂直方向上运动。
[0015]通过设计垂直位移机构，能够实现对冲击件在垂直方向上的运送，以此达到冲击件在不同高度上对电子设备的冲击效果。另外，通过将垂直位移机构设计为包括第二驱动组件和同步组件，第二驱动组件驱动同步组件沿着垂直方向运动，冲击件位于同步组件上时，即可实现冲击件沿着垂直方向运动至不同高度。
[0016]进一步地，通过将同步组件设计为包括同步带和至少一个第一吸附件，第一吸附件固定在同步带上，第一吸附件吸附冲击件，这样，冲击件即可随着同步带在垂直方向上运动。
[0017]在一种可能的实现方式中，所述同步带上具有至少一个容纳槽，所述第一吸附件固定在所述容纳槽内。通过在同步带上设计有至少一个容纳槽，第一吸附件固定在容纳槽内，容纳槽能够对第一吸附件进行一定容纳，避免当第一吸附件的吸力较小时，出现冲击件脱离第一吸附件的问题。
[0018]在一种可能的实现方式中，所述容纳槽的形状与所述冲击件的形状相适配。这样，能够使得冲击件在容纳槽内的收纳更加稳固和贴合，避免冲击件容易从容纳槽内脱离。
[0019]在一种可能的实现方式中，所述容纳槽的半径为所述冲击件的半径的四分之一至三分之一。
[0020][0021]在一种可能的实现方式中，所述垂直位移机构还包括：垂直固定结构；所述垂直固定结构包括：垂直架以及与所述垂直架固定连接的转轴；所述同步组件绕着所述转轴沿着所述垂直方向运动。
[0022]通过设计垂直固定结构，能够便于对同步组件的相对固定，从而能够便于同步组件绕着垂直固定结构的转轴沿着垂直方向运动。
[0023]在一种可能的实现方式中，所述冲击测试装置还包括：第一滑槽；所述第一滑槽的第一端与所述开口相连，所述第一滑槽的第二端与所述同步带相连。
[0024]通过设置第一滑槽，能够便于冲击件从滑动平台的凹槽通过开口运动至同步带，实现冲击件的顺利运送。
[0025]在一种可能的实现方式中，所述第一滑槽的第一端的高度高于所述第一滑槽的第二端的高度。这样，冲击件从滑动平台的凹槽通过开口进入第一滑槽后，利用自身重力即可从第一滑槽的第一端运动至第一滑槽的第二端，从而运动至同步带，无需借助外力，在一定程度上节省了人力成本。
[0026]在一种可能的实现方式中本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种冲击测试装置，用于对电子设备的抗冲击性能进行测试，其特征在于，所述冲击测试装置至少包括：冲击件以及水平位移机构；所述水平位移机构至少包括：水平导轨以及与所述水平导轨滑动连接的滑动平台；所述滑动平台沿着第一方向相对于所述水平导轨滑动；所述滑动平台包括：主体部以及位于所述主体部外周的凹槽，所述主体部用于固定所述电子设备；所述冲击件击打所述电子设备后，所述冲击件沿着所述主体部进入所述凹槽。2.根据权利要求1所述的冲击测试装置，其特征在于，所述凹槽具有至少一个开口，以使所述冲击件通过所述开口离开所述凹槽。3.根据权利要求2所述的冲击测试装置，其特征在于，所述凹槽包括第一凹槽以及第二凹槽；从所述第一凹槽的第一端至所述第一凹槽的第二端，所述第一凹槽的槽深逐渐变深；从所述第二凹槽的第一端至所述第二凹槽的第二端，所述第二凹槽的槽深逐渐变深；所述第一凹槽的第一端与所述第二凹槽的第一端相连，所述第一凹槽的第二端与所述第二凹槽的第二端相连；所述开口位于所述第一凹槽的第二端与所述第二凹槽的第二端的连接位置处。4.根据权利要求2或3所述的冲击测试装置，其特征在于，所述水平位移机构还包括：水平固定台、第一驱动组件以及第一传动组件；所述水平导轨位于所述水平固定台的一面上且与所述水平固定台固定连接；所述第一驱动组件用于驱动所述第一传动组件，以使所述第一传动组件带动所述滑动平台沿着所述第一方向相对于所述水平导轨发生滑动。5.根据权利要求2
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4任一所述的冲击测试装置，其特征在于，所述冲击测试装置还包括：垂直位移机构；所述垂直位移机构包括：第二驱动组件以及同步组件；所述第二驱动组件用于驱动所述同步组件沿着垂直方向运动；所述同步组件包括：同步带以及固定在所述同步带上的至少一个第一吸附件；所述第一吸附件用于吸附所述冲击件，以使所述同步带带动所述冲击件在垂直方向上运动。6.根据权利要求5所述的冲击测试装置，其特征在于，所述同步带上具有至少一个容纳槽，所述第一吸附件固定在所述容纳槽内。7.根据权利要求6所述的冲击测试装置，其特征在于，所述容纳槽的形状与所述冲击件的形状相适配。8.根据权利要求7所述的冲击测试装置，其特征在于，所述容纳槽的半径为所述冲击件的半径的四分之一至三分之一。9.根据权利要求5
‑
8任一所述的冲击测试装置，其特征在于，所述垂直位移机构还包括：垂直固定结构；所述垂直固定结构包括：垂直架以及与所述垂直架固定连接的转轴；所述同步组件绕着所述转轴沿着所述垂直方向运动。10.根据权利要求9所述的冲击测试装置，其特征在于，所述冲击测试装置还包括：第一滑槽；所述第一滑槽的第一端与所述开口相连，所述第一滑槽的第二端与所述同步带相...
【专利技术属性】
技术研发人员：李克武，
申请(专利权)人：荣耀终端有限公司，
类型：发明
国别省市：
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