放射线摄像装置和放射线摄像系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种放射线摄像装置和放射线摄像系统。放射线摄像装置在与放射线检测单元的放射线入射面相对的背面侧上包括衰减部件。衰减部件被配置为减少布置在放射线摄像装置的背面侧上的零件的意外出现，其意外出现是由于放射线摄像装置的背面侧上的结构零件反射的后向散射放射线造成的。衰减部件包括放射线透射率高于零件的放射线透射率的材料，覆盖在到与放射线检测单元的入射面相对的表面上的正交投影中与放射线检测单元重叠的零件的轮廓的端部，并且衰减部件的面积小于放射线检测单元的面积。单元的面积。单元的面积。

【技术实现步骤摘要】
放射线摄像装置和放射线摄像系统


[0001]本专利技术涉及一种放射线摄像装置和放射线摄像系统。

技术介绍

[0002]摄像装置使用由半导体材料制成的平板检测器(以下简称“FPD”)作为放射线检测单元。这种类型的放射线摄像装置广泛用作医疗诊断摄像或无损检测的摄像装置。例如，在放射线摄像系统中，放射线摄像装置是能够在医疗诊断摄像中进行静止图像拍摄(例如普通X射线摄像)或运动图像拍摄(例如透视摄像)的数字摄像装置。
[0003]放射线摄像装置使用布置在壳体内部的FPD将从放射线生成装置发出的放射线转换为电信号，并且将电信号转换为可用于生成放射线图像的数字数据。在此处理中，发出的放射线可以部分通过FPD，然后被与放射线入射到FPD上的一侧相对的结构反射，散射(后向散射放射线)，然后再次进入FPD。后向散射放射线可以穿过与FPD的放射线入射的表面相对的FPD表面上的零件，进入FPD，通过这样，该零件意外地作为伪影出现在放射线图像中。
[0004]例如，日本专利申请公开号2004
‑
294114的公开讨论了使用按照区域放射本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种放射线摄像装置，其向被检体发出由放射线生成单元生成的放射线，并基于透过被检体的放射线生成放射线图像，所述放射线摄像装置包括：放射线检测单元，包括第一表面和与第一表面相对的第二表面，包括多个像素的第一表面，被配置为将放射线转换为电信号；多个零件，相对于放射线检测单元设置在第二表面侧；以及衰减部件，相对于放射线检测单元设置在第二表面侧，并被配置为衰减从第二表面侧入射到放射线检测单元上的后向散射放射线，其中，衰减部件包括放射线透射率高于多个零件中的任何零件的放射线透射率的材料，覆盖在到第二表面上的正交投影中与放射线检测单元重叠的多个零件中的至少一个零件的轮廓的端部，并且面积小于放射线检测单元的面积。2.根据权利要求1所述的放射线摄像装置，其中，衰减部件设置为远离放射线检测单元的第二表面。3.根据权利要求1所述的放射线摄像装置，其中，多个零件包括由用于形成零件的多个组成零件组成的零件，以及其中，衰减部件覆盖在到第二表面上的正交投影中与放射线检测单元重叠的多个组成零件中的各个的轮廓的端部。4.根据权利要求1所述的放射线摄像装置，其中，多个零件包括被配置为从放射线检测单元读取信号的控制板，以及其中，衰减部件覆盖在到第二表面上的正交投影中与放射线检测单元重叠的控制板的轮廓的端部。5.根据权利要求1所述的放射线摄像装置，其中，多个零件包括配置为向放射线摄像装置供电的二次电池，以及其中，衰减部件覆盖在到第二表面上的正交投影中与放射线检测单元重叠的二次电池的轮廓的端部。6.根据权利要求1所述的放射线摄像装置，其中，多个零件包括用于放射线摄像装置与外部装置通信的天线，以及其中，衰减部件覆盖在到第二表面上的正交投影中与放射线检测单元重叠的天线的轮廓的端部。7.根据权利要求1所述的放射线摄像装置，其中，多个零件包括被配置为在放射线检测单元的第二表面上支撑放射线检测单元的基座，以及其中，衰减部件覆盖在到第二表面上的正交投影中与放射线检测单元重叠的基座的凹凸的端部。8.根据权利要求1所述的放射线摄像装置，其中，多个零件包括被配置为紧固包括在放射线摄像装置中的零件的紧固部件，以及其中，衰减部件覆盖在到第二表面上的正交投影中与放射线检测单元重叠的紧固部件的轮廓的端部。9.根据权利要求1所述的放射线摄像装置，其中，多个零件包括连接到放射线摄像装置中包括的零件的电缆，以及
其中，衰减...

【专利技术属性】
技术研发人员：栗山未早希，泽田觉，多屋隆纪，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：