磁传感器(7)能够对在光学反射元件旋转时进行相对移动的位置检测用磁体(6)所施加的磁场进行检测。位置检测用磁体(6)能够由于光学反射元件的旋转而通过基准位置(B)，该基准位置(B)为从旋转轴(C)的轴向观察时旋转轴(C)、磁传感器(7)的中心(7c)、位置检测用磁体(6)的中心(6c)排列于一直线上时的位置。磁传感器(7)配置于包含穿过位于基准位置(B)的位置检测用磁体(6)的中心(6c)的磁化方向(M)、以及旋转轴(C)的轴向的XZ平面内。转轴(C)的轴向的XZ平面内。转轴(C)的轴向的XZ平面内。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】位置检测装置
[0001]本专利技术涉及位置检测装置。
技术介绍
[0002]作为公开了位置检测装置的构成的现有文献，存在美国专利申请公开第2018/0188476号说明书(专利文献1)。专利文献1所记载的位置检测装置具备：固定部、可动部、光学元件、位置检测用磁体、以及磁传感器。可动部可移动地与固定部连接。光学元件配置于可动部上。位置检测用磁体与光学元件对应，具有磁化方向。磁传感器与位置检测用磁体对应，检测位置检测用磁体绕与固定部相关的轴的旋转。上述轴与位置检测用磁体的磁化方向正交。
[0003]专利文献1：美国专利申请公开第2018/0188476号说明书
技术实现思路
专利技术所要解决的课题
[0004]在专利文献1所记载的位置检测装置中，存在能够以简单的构成优化位置检测范围及位置检测精度的余地。
[0005]本专利技术就是鉴于上述问题点而提出的，其目的在于提供一种能够以简单的构成优化位置检测范围及位置检测精度的位置检测装置。解决课题的技术手段
[0006]基于本专利技术的位置检测装置具备光学反射元件、位置检测用磁体和磁传感器。光学反射元件设置为能够以旋转轴为中心旋转。位置检测用磁体设置在光学反射元件上。位置检测用磁体的磁化方向与上述旋转轴的轴向正交。磁传感器被固定配置。磁传感器能够对在光学反射元件旋转时进行相对移动的位置检测用磁体所施加的磁场进行检测。位置检测用磁体能够因光学反射元件的旋转而通过基准位置，该基准位置为从上述轴向观察下上述旋转轴、磁传感器的中心、位置检测用磁体的中心排列于一直线上时的位置。磁传感器配置于包含穿过位于上述基准位置的位置检测用磁体的中心的上述磁化方向、以及上述轴向的平面内。专利技术的效果
[0007]根据本专利技术，能够以简单的构成优化位置检测范围及位置检测精度。
附图说明
[0008]图1是表示包含本专利技术的实施方式1所涉及的位置检测装置的紧凑型相机模块的构成的侧视图。图2是表示图1的紧凑型相机模块中光学反射元件以旋转轴为中心向一个方向旋转后的状态的图。图3是表示图1的紧凑型相机模块中光学反射元件以旋转轴为中心向另一方向旋
转后的状态的图。图4是将图1的紧凑型相机模块中的位置检测装置的构成放大表示的侧视图。图5是从旋转轴的轴向观察本专利技术的实施方式1所涉及的位置检测装置中的、位置检测用磁体与磁传感器之间的位置关系而示出的图。图6是表示本专利技术的实施方式1所涉及的位置检测装置具备的磁传感器的构成的图。图7是表示本专利技术的实施方式1所涉及的位置检测装置具备的磁传感器的电路结构的图。图8是放大表示图6的VIII部的立体图。图9是从图8的IX
‑
IX线箭头方向观察的截面图。图10是表示实验例1的结果的曲线图。图11是用于说明磁传感器的输出的误差率的曲线图。图12是表示在实验例1所涉及的磁传感器的检测角的测量预定范围内、与磁传感器的输出的所需的线性误差率对应而旋转角和L1/L2可取的范围的曲线图。图13是从旋转轴的轴向观察本专利技术的实施方式2所涉及的位置检测装置中的、位置检测用磁体与磁传感器之间的位置关系而示出的图。图14是表示实验例2的结果的曲线图。图15是表示在实验例2所涉及的磁传感器的检测角的测量预定范围内、与磁传感器的输出的所需的线性误差率对应而旋转角和L1/L2可取范围的曲线图。
具体实施方式
[0009]以下，参照附图说明本专利技术的各实施方式所涉及的位置检测装置。在以下的实施方式的说明中，对图中相同或相当的部分标注相同标号，相关说明不再重复。
[0010](实施方式1)图1是表示包含本专利技术的实施方式1所涉及的位置检测装置的紧凑型相机模块的构成的侧视图。在图1中，未图示位置检测装置具备的位置检测用磁体及磁传感器。
[0011]如图1所示，包含本专利技术的实施方式1所涉及的位置检测装置的紧凑型相机模块1具备光学反射元件2、包含透镜组的致动器部3、图像传感器4和固定部5。光学反射元件2、包含透镜组的致动器部3及图像传感器4分别沿固定部5的主面配置。紧凑型相机模块1为潜望式相机模块。如后述所示，紧凑型相机模块1通过使光学反射元件2旋转，从而实现所谓的手抖动补偿功能。
[0012]光学反射元件2设置为能够以旋转轴C为中心旋转。具体而言，光学反射元件2为棱镜反射镜。光学反射元件2通过被未图示的驱动机构驱动而以旋转轴C为中心旋转。旋转轴C与固定部5的主面正交。由此，光学反射元件2沿固定部5的主面旋转。
[0013]从紧凑型相机模块1的外部进入的光La向光学反射元件2入射。光La经由光学反射元件2反射而产生的光Lb射向包含透镜组的致动器部3，穿过透镜组。穿过透镜组后的光Lc向图像传感器4入射。
[0014]图2是表示图1的紧凑型相机模块中光学反射元件以旋转轴为中心向一个方向旋转后的状态的图。图3是表示图1的紧凑型相机模块中光学反射元件以旋转轴为中心向另一
方向旋转后的状态的图。
[0015]如图2所示，在光学反射元件2以旋转轴C为中心向一个方向X旋转后的状态下，射向包含透镜组的致动器部3的光Lb的入射角与光学反射元件2的旋转角对应地发生变化。其结果，光Lc向图像传感器4入射的位置沿箭头D所示的方向位移。
[0016]如图3所示，在光学反射元件2以旋转轴C为中心向另一方向Y旋转后的状态下，射向包含透镜组的致动器部3的光Lb的入射角与光学反射元件2的旋转角对应地发生变化。其结果，光Lc向图像传感器4入射的位置沿箭头U所示的方向位移。
[0017]图4是将图1的紧凑型相机模块中的位置检测装置的构成放大表示的侧视图。图5是从旋转轴的轴向观察本专利技术的实施方式1所涉及的位置检测装置中的、位置检测用磁体与磁传感器之间的位置关系而示出的图。在图5中，将与旋转轴C的轴向平行的方向记载为Z轴方向，将位置检测用磁体6位于后述的基准位置B时的旋转轴C与位置检测用磁体6的中心6c连结的方向记载为X轴方向，并且将与X轴方向及Z轴方向均正交的方向记载为Y轴方向。
[0018]如图4及图5所示，本专利技术的实施方式1所涉及的位置检测装置具备光学反射元件2、位置检测用磁体6和磁传感器7。位置检测用磁体6设置于光学反射元件2上。位置检测用磁体6固定于光学反射元件2的Z轴方向的一个侧面上。磁传感器7被固定配置。磁传感器7固定于与光学反射元件2的Z轴方向的另一侧面相对的、固定部5的主面上。
[0019]具体而言，如图5所示，从旋转轴C的轴向观察下，磁传感器7的中心7c与旋转轴C之间的最短距离为L1。从旋转轴C的轴向观察下，位置检测用磁体6的中心6c与旋转轴C之间的最短距离为L2。在本实施方式中，满足L1≦L2的关系。此外，Z轴方向中的磁传感器7与位置检测用磁体6之间的位置关系并不特别限定。
[0020]位置检测用磁体6与光学反射元件2一起以旋转轴C为中心旋转。如图5所示，从旋转轴C的轴向观察下，位置检测用磁体6的中心6c在虚线所示的旋转轨迹上移动。位置检测用磁体6能够因光学反射元件2的旋转而通过基准位置B本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种位置检测装置，其具备：光学反射元件，其设置为能够以旋转轴为中心旋转；位置检测用磁体，其设置在所述光学反射元件上，磁化方向与所述旋转轴的轴向正交；以及磁传感器，其被固定配置，能够对在所述光学反射元件旋转时进行相对移动的所述位置检测用磁体所施加的磁场进行检测，所述位置检测用磁体能够由于所述光学反射元件的旋转而通过基准位置，该基准位置为从所述轴向观察下所述旋转轴、所述磁传感器的中心、所述位置检测用磁体的中心排列于一直线上时的位置，所述磁传感器配置于包含穿过位于所述基准位置的所述位置检测用磁体的中心的所述磁化方向、以及所述轴向的平面内。2.根据权利要求1所述的位置检测装置，其中，所述磁传感器具有构成电桥电路的多个磁阻效应元件。3.根据权利要求1或2所述的位置检测装置，其中，在从所述轴向观察下，将所述磁传感器的中心与所述旋转轴之间的最短距离设为L1，将所述位置检测用磁体的中心与所述旋转轴之间的最短距离设为L2，将所述位置检测用磁体的从所述基准位置起绕所述旋转轴的旋转角设为θ的情况下，满足－0.026
×
θ+0.76≦L1/L2≦－0.016
×
θ+0.8的关系。4.根据权利要求1或2所述的位置检测装置，其中，在从所述轴向观察下，将所述磁传感器的中心与所述旋转轴之间的最短距离设为L1，将所述位置检测用磁体的中心与所述旋转轴之间的最短距离设为L2，将所述位置检测用磁体的从所述基准位置起绕所述旋转轴的旋转角设为θ的情况下，满足－0.037
×
θ+0.72≦L1/L2≦－0.026
×
θ+0.76的关系。5.根据权利要求1或2所述的位...
【专利技术属性】
技术研发人员：中村大佐，杉本拓也，伊藤吉博，
申请(专利权)人：株式会社村田制作所，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。