位置检测装置制造方法及图纸

技术编号:36737897 阅读:18 留言:0更新日期:2023-03-04 10:11
本发明专利技术提供一种寿命长且能够高精度、稳定地进行位置检测的位置检测装置。位置检测装置(1)具有磁铁(40),其构成为与活动体(2)一起在沿着X方向延伸的移动路径(M)上移动。磁铁(40)在Z方向上具有不同的磁极(41、42)。位置检测装置(1)具有在Z方向上从移动路径(M)离开相等的距离并且配置在距沿Z方向延伸的基准线(S)相等的距离处的一对磁传感器(21、22)。磁传感器(21、22)具有相同的传感器特性。位置检测装置(2)具有检测部(30),其构成为在磁传感器(21、22)的两者的输出变化率的绝对值大致为最大的状态下检测到磁铁(40)位于基准线(S)上。状态下检测到磁铁(40)位于基准线(S)上。状态下检测到磁铁(40)位于基准线(S)上。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】位置检测装置


[0001]本专利技术涉及一种位置检测装置,尤其涉及检测活动体的位置的位置检测装置。

技术介绍

[0002]例如,在如加工中心那样的机床中,为了实现准确的加工,需要检测工具的初始位置。作为对被这样的工具等检测对象移动的活动体的位置进行检测的位置检测装置,已知有与活动体的移动对应地使电触点机械地通断的装置(例如,参照专利文献1)。
[0003]但是,在这样的现有技术的位置检测装置中存在如下问题:由于反复实施机械地通断而导致触点劣化,因此寿命短。此外,还存在由于混入异物或形成氧化膜而产生触点之间的导通不良,或者由于反复接触造成的触点的磨损、凹陷等从而导致检测精度下降的问题。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1:日本特开2008

183699号公报。

技术实现思路

[0007]专利技术要解决的问题
[0008]本专利技术是鉴于这样的现有技术的问题而完成的,其目的在于,提供一种寿命长且能够高精度、稳定地进行位置检测的位置检测装置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种位置检测装置,其具有:磁铁,其构成为与活动体一起在沿着第一方向延伸的移动路径上移动,所述磁铁在与所述第一方向垂直的第二方向上具有不同的磁极;一对磁传感器,其具有相同的传感器特性,所述一对磁传感器在所述第二方向上从所述移动路径离开相等的距离并且配置在距沿所述第二方向延伸的基准线相等的距离处;以及检测部,其构成为在所述一对磁传感器的两者的输出变化率的绝对值大致为最大的状态下检测到所述磁铁位于所述基准线上。2.根据权利要求1所述的位置检测装置,其中,所述一对磁传感器之间的距离与所述磁铁的所述第一方向的长度大致相等。3.根据权利要求1或2所述的位置检测装置,其中,所述磁铁的所述第一方向的长度为约1.5mm以上。4.根据权利要求1至3中任一项所述的位置检测装置,其中,所述磁铁的大小为约5平方毫米以内。5.根据权利要求1至4中任一项所述的位置检测装置,其中,所述磁铁的大小为约1.5平方毫米以上。6.根据权利要求1至5中任一项所述的位置检测装置,其中,所述磁铁的所述第一方向的长度为约1.5mm~3mm,所述磁铁的所述第二方向的长度为约2mm以上且约4mm以下。7.根据权利要求1至6中任一项所述的位置检测装置,其中,所述磁铁的与所...

【专利技术属性】
技术研发人员:吉冈崇元菅野隆行
申请(专利权)人:美德龙有限公司
类型:发明
国别省市:

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