一种校准方法和校准装置制造方法及图纸

本申请实施例公开了一种校准方法和校准装置，所述校准方法包括：以结构固定且尺寸已知的标准块作为校准治具，标准块主体一侧面上设有标记结构；利用测量器具采集标准块的结构轮廓；以设有标记结构的标准块主体的侧面沿第一方向和第二方向的轮廓水平校准测量器具；以及将测量得到的标记结构的轮廓尺寸与该标记结构已知实际轮廓尺寸建立关联关系，得到对应的关联系数，根据关联系数调节测量器具以校准测量精度。测量精度。测量精度。

【技术实现步骤摘要】
一种校准方法和校准装置


[0001]本申请涉及校准测量机构的精度
，尤其涉及一种校准方法和校准装置。

技术介绍

[0002]随着工业自动化的发展，3D相机被广泛用于辅助自动加工中的产品尺寸识别，具体的后续加工会根据3D相机反馈的产品尺寸数据来执行。
[0003]为了提高3D相机识别准确性，通常在用于生产前对3D相机进行校准，相关技术公开了一种校准方法，是使用真实产品，先利用量测仪器对该真实产品的数据进行扫描，得到固定点位的数据A，此数据A可看作为该真实产品的真实尺寸；然后将该真实产品再利用3D相机进行扫描，得到固定点位的数据B，此数据B可看作为该真实产品的测量尺寸；数据A与数据B形成一个
△
值，用
△
值来修正3D相机，使3D相机测得的数据B更接近数据A，如此反复几次直至测得结果与真实尺寸差值在允许范围内即可认为3D相机校准完成。在实际操作中，利用真实产品还可能在移动中产生变形以及测量时放置不到位等，导致花费较多精力得到的测量结果不准确，既浪费精力又拖累生产进度。
[0004]因此，如何快速且精准提升3D相机的校准精度，以提升后续测量效率和加快生产进度，有待解决。

技术实现思路

[0005]本申请实施例是一种校准方法和校准装置，以实现快速、精准完成测量器具的测量精度校准，从而为后续加工提供精准的测量数据，提升加工质量和进度。
[0006]本申请实施例公开了一种用于校准测量器具的校准方法，所述校准方法包括：
[0007]以结构固定且尺寸已知的标准块作为校准治具，标准块主体一侧面上设有标记结构；
[0008]利用测量器具采集标准块的结构轮廓；
[0009]以设有标记结构的标准块主体的侧面沿第一方向和第二方向的轮廓水平校准测量器具；以及
[0010]将测量得到的标记结构的轮廓尺寸与该标记结构已知实际轮廓尺寸建立关联关系，得到对应的关联系数，根据关联系数调节测量器具以校准测量精度。
[0011]本申请实施例还公开了一种可执行如上任意所述的校准方法的校准装置，用于校准测量器具，所述测量器具包括图像采集部、支撑部以及驱动部，所述支撑部设置于所述驱动部的驱动端，所述图像采集部可调节设置于所述支撑部上，所述校准装置包括标准块和载物治具，所述标准块的尺寸固定且已知，所述标准块的主体一侧面上设有标记结构，所述标准块放置于所述载物治具的载台上并固定。
[0012]本申请实施例采用结构形状固定且尺寸已知的标准块样件作为校准测量器具精度的被测体，即校准治具，以该标准块作为水平校准以及精度校准测量器具的基础，先利用设有标记结构的标准块主体的侧面作为水平基准，具体是先利用采集得到的该侧面沿第一
方向和第二方向的轮廓结合对测量器具进行水平校准。在水平校准后的基础上，然后利用采集得到的标记机构的轮廓尺寸，将测量标记机构的轮廓尺寸结果与标记结构的对应实际尺寸进行比对并关联，得到对应的关联系数，可以利用关联系数对测量器具进行测量精度校准。如此，仅利用一个标准块，对该标准块完成一次完整测量所采集的数据便能够实现对测量器具完成水平校准和测量精准校准，进而克服了相关技术采用真实产品进行多次测量导致花费较多精力反而得到的测量结果不准确，以及浪费精力又拖累生产进度的问题，达到了提高校准精度、节省校准时间，从提升后续测量效率和加快生产进度的效果。
附图说明
[0013]所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本申请的实施方式，并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：
[0014]图1是本申请实施例公开的一种校准方法的流程图；
[0015]图2是本申请实施例公开的一种详细校准方法的流程图；
[0016]图3是本申请实施例公开的一种标准块、测量器具以及载物治具配合校准测量器具的结构示意图。
[0017]其中，10、校准装置；11、测量器具；12、图像采集部；13、支撑部；14、标准块；15、载物治具；16、主体；17、标记结构。
具体实施方式
[0018]需要理解的是，这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节，仅仅是为了描述具体实施例，是代表性的，但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现，不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。
[0019]在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示相对重要性，或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，除非另有说明，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形，意为不排他的包含，可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。
[0020]另外，“竖直”、“水平”等指示的方位或位置关系的术语，是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的，仅是为了便于描述本申请的简化描述，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
[0021]此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
[0022]下面参考附图和可选的实施例对本申请作详细说明。
[0023]如图1所示，本申请实施例公开了一种用于校准测量器具的校准方法，所述校准方法包括步骤：
[0024]S1、以结构固定且尺寸已知的标准块作为校准治具，标准块主体一侧面上设有标记结构；
[0025]S2、利用测量器具采集标准块的结构轮廓；
[0026]S3、以设有标记结构的标准块主体的侧面沿第一方向和第二方向的轮廓水平校准测量器具；以及
[0027]S4、将测量得到的标记结构的轮廓尺寸与该标记结构已知实际轮廓尺寸建立关联关系，得到对应的关联系数，根据关联系数调节测量器具以校准测量精度。
[0028]本申请实施例中的第一方向可记为X，第二方向可记为Y，第一方向和第二方向具有夹角。采用结构形状固定且尺寸已知的标准块样件作为校准测量器具精度的被测体，即校准治具，以该标准块作为水平校准以及精度校准测量器具的基础，先利用设有标记结构的标准块主体的侧面作为水平基准，具体是先利用采集得到的该侧面沿第一方向和第二方向的轮廓结合对测量器具进行水平校准。在水平校准完成的基础上，然后利用采集得到的标记机构的轮廓尺寸，将测量标记机构的轮廓尺寸结果与标记结构的对应实际尺寸进行比对并关联，得到对应的关联系数，可以利用关联系数对测量器具进行测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种校准方法，用于校准测量器具，其特征在于，包括：以结构固定且尺寸已知的标准块作为校准治具，标准块主体一侧面上设有标记结构；利用测量器具采集标准块的结构轮廓；以设有标记结构的标准块主体的侧面沿第一方向和第二方向的轮廓水平校准测量器具；以及将测量得到的标记结构的轮廓尺寸与该标记结构已知实际轮廓尺寸建立关联关系，得到对应的关联系数，根据关联系数调节测量器具以校准测量精度。2.如权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述校准方法还包括：水平校准载物治具和测量器具；以及将标准块设置于载物治具上。3.如权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述校准方法还包括：调节提升测量器具对标准块的分辨率。4.如权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述“利用测量器具采集标准块的结构轮廓”包括：利用测量器具采集标准块主体的轮廓；以及利用测量器具采集标准块上标记结构的轮廓。5.如权利要求3所述的校准方法，其特征在于，所述“调节提升测量器具对标准块的分辨率”包括：调节测量器具的图像采集端距标准块的距离提升测量器具的分辨率。6.如权利要求4所述的校准方法，其特征在于，所述“利用测量器具采集标准块主体的轮廓”包括：利用测量器具采集设有标记结构的标准块主体的侧面沿第一方向的轮廓；以及利用测量器具采集设有标记结构的标准块主体的侧面沿第二方向的轮廓。7.如权利要求6所述的校准方法，其特征在于，所述“以设有标记结构的标准块主体的侧面沿第一方向和第二方向的轮廓水平校准测量器具”包括：以设有标记结构的标准块主体的侧面沿第一方向的轮廓水平校准测量器具的第二方向；以及以设有标记结构的标准块主体的侧面沿第二方向的轮廓水平校准测量器具的第一方向。8.如权利要求7所述的校准方法，其特征在于，所述“以设有标记结构的标准块主体的侧面沿第一方向的轮廓水平校准测量器具的第二方向”包括：以设有标记结构的标准块主体的侧面沿第一方向的轮廓为第二方向基准，识别测量器具的沿第二方向标识相对第二方向基准的两端距离差是否超过0.05毫米；以及若超过，则调整测量器具相对第二方向的夹角。9.如权利要求7所述的校准方法，其特征在于，所述“以设有标记结构的标准块主体的侧面沿第二方向的轮廓水平校准测量器具的第一方向”包括：以设有标记结构的标准块主体的侧面沿第二方向的轮廓为第一方向基准，识别测量器具的沿第一方向标识相对第一方向基准的两端距离差是否超过0.05毫米；以及若超过，则调整测量器具相对第一方向的夹角。
10.如权利要求7所述的校准方法，其特征在于，所述“利用测量器具采集标准块上标记结构的轮廓”包括：利用测量器具采集标记结构沿第一方向的尺寸；利用测量器具采集标记结构沿第二方向的尺寸；以及利用测量器具采集标记结构沿第三方向的尺寸。11.如权利要求10所述的校准方法，其特征在于，所述“将测量得到的标记结构的轮廓尺寸与该标记结构已知实际轮廓尺寸建立关联关系，得到对应的关联系数，根据关联系数调节测量器具以校准测量精度”包括：将测量得到的标记结构沿第一方向的尺寸与该标...

【专利技术属性】
技术研发人员：王力，吴红峤，盛磊，常亮，高云峰，
申请(专利权)人：大族激光科技产业集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：