一种植物叶片形态特征定量化测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种植物叶片形态特征定量化测量方法及装置。该方法包括：获得植物叶片的二维数字图像；对所述二维数字图像进行预处理，得到相应的二值化图像；对所述二值化图像中的植物叶片位置进行旋转校正，获得校正后的二值化图像，并基于所述校正后的二值化图像构建目标直角坐标系；基于所述校正后的二值化图像和所述直角坐标系，对所述植物叶片的形态进行定量化测量，获得相应的形态参数。本发明专利技术提供的植物叶片形态特征定量化测量方法，更加简单、便捷，应用场景更加宽泛，适用性更强，能够有效提高了植物叶片形态特征定量化测量的精度和可靠性。度和可靠性。度和可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种植物叶片形态特征定量化测量方法及装置


[0001]本专利技术涉及计算机应用
，涉及一种植物叶片形态特征定量化测量方法及装置。另外，还涉及一种电子设备及处理器可读存储介质。

技术介绍

[0002]植物叶片形态是植物生长过程中一项重要的形态特征属性，其大小影响着光合性能，是作物品种改良和选育过程的重要观测指标，同时植物叶片形态也是识别植物的重要性状特征之一，依据其长、宽、周长、面积等形状参数可识别出特定的植物种类。近年来，关于植物叶片面积的测定技术发展迅速，测定的方法越来越多，主要分为直接测量法和间接测量法，直接测量法包括网格法、纸样称重法、打孔称重法、鲜重法、叶面积仪法等；间接测量法需要借助参照物及各种标记，经过换算后方可得到形状描述参数，目前主要是通过智能手机、数码相机等获得叶片原始图像，后使用Photoshop、AutoCAD、Matlab等软件处理图片，最终获得各项形状参数数据。
[0003]然而，直接测量法要么无法完全临摹真实叶片的大小，尤其对于边缘叶裂较深、较多或呈锯齿状的叶片，其轮廓无法被完整细致地勾勒出来，精度较低本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种植物叶片形态特征定量化测量方法，其特征在于，包括：获得植物叶片的二维数字图像；对所述二维数字图像进行预处理，得到相应的二值化图像；对所述二值化图像中的植物叶片位置进行旋转校正，获得校正后的二值化图像，并基于所述校正后的二值化图像构建目标直角坐标系；基于所述校正后的二值化图像和所述直角坐标系，对所述植物叶片的形态进行定量化测量，获得相应的形态参数。2.根据权利要求1所述的植物叶片形态特征定量化测量方法，其特征在于，对所述二值化图像中的植物叶片位置进行旋转校正，获得校正后的二值化图像，具体包括：对所述二值化图像中的植物叶片进行框选，确定覆盖所述植物叶片的目标矩形框；基于所述目标矩形框四个顶点的坐标，确定初始直角坐标系；基于所述初始直角坐标系和所述目标矩形框之间的位置关系，确定植物叶片偏离扫描框的角度；基于所述角度，对所述二值化图像中的植物叶片位置进行旋转校正，得到校正后的二值化图像。3.根据权利要求1所述的植物叶片形态特征定量化测量方法，其特征在于，基于所述校正后的二值化图像和所述直角坐标系，对所述植物叶片的形态进行定量化测量，获得相应的形态参数，具体包括：获取所述校正后的二值化图像的连通域，并基于所述直角坐标系获得连通域轮廓边缘点的坐标数据，根据所述连通域轮廓边缘点的坐标数据，确定所述植物叶片的周长；以及，统计所述校正后的二值化图像中黑白像素点个数，基于所述黑白像素点个数的比值及其与面积比值的关系确定植物叶片的面积；以及，基于所述直角坐标系，确定所述校正后的二值化图像对应的各个叶基部区，并分别拟合叶基部区的边缘像素点，获得相应的第一拟合曲线；根据所述第一拟合曲线，确定所述植物叶片的各个叶基部区的叶基伸展度数；以及，基于所述直角坐标系，确定所述校正后的二值化图像对应的各个叶梢部区，并分别拟合叶梢部区的边缘像素点，获得相应的第二拟合曲线；根据所述第二拟合曲线，确定所述植物叶片的各个叶梢部区的叶基伸展度数；以及，基于所述各个叶基部区的叶基伸展度数，确定所述植物叶片的叶基部不对称度；以及，基于所述各个叶梢部区的叶基伸展度数，获得所述植物叶片的叶梢部不对称度。4.根据权利要求1所述的植物叶片形态特征定量化测量方法，其特征在于，对所述二维数字图像进行预处理，得到相应的二值化图像，具体包括：对所述二维数字图像进行灰度化处理，获得相应的灰度图；对所述灰度图进行二值化处理，获得初始二值化图像；对所述初始二值化图像进行形态学滤波图像处理，获得所述二值化图像。5.根据权利要求4所述的植物叶片形态特征定量化测量方法，其特征在于，对所述灰度图进行二值化处理，获得初始二值化图像，具体包括：基于预设的...

【专利技术属性】
技术研发人员：田根林，汪紫微，代福宽，岳祥华，王汉坤，
申请(专利权)人：国际竹藤中心，
类型：发明
国别省市：