用于集成电路的测试板制造技术

本实用新型专利技术公开了用于集成电路的测试板，属于集成电路领域，用于集成电路的测试板，包括底座和检测触头，所述底座上固定连接有固定座，所述固定座两侧设置有固定架，所述固定架上设置有变距组件，所述检测触头设置在变距组件上，通过变距电机带动变距螺杆转动，变距螺杆带动多组滑块滑动，滑块带动移动板在限位杆上变距移动，调节多组移动板上检测触头之间的间距，方便对不同间距的针脚进行检测，提高对不同集成电路检测的适用性。不同集成电路检测的适用性。不同集成电路检测的适用性。

【技术实现步骤摘要】
用于集成电路的测试板


[0001]本技术涉及集成电路
，具体涉及用于集成电路的测试板。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体。
[0003]因此在现有技术中，一些优质的集成电路板为了简化其上各个集成电路的测试流程，通常对集成电路板的工作状态进行测试，进而实现对集成电路的工作状态进行测试，若出现工作状态异常的集成电路板，那么其上的各个集成电路进行排查，可极大的增强测试效率。
[0004]但是现有技术中的集成电路板测试绝大多数是人工通过探针对集成电路板上的测试点(引脚)进行接触测试，但人工对集成电路测试的效率低下，在现有技术中也存在一些集成电路测试装置，但是目前的装置大多数都是针对同一型号的集成电路板进行测试，若出现不同型号则需要更换不同的夹具才能进行测试，操作麻烦，通用性低，且由于不同型号集成电路板上测试点之间的距离不同，现有测试装置中的探针的设置方式只能针对同一型号集成电路板的测试点进行测量，不便于对不同型号集成电路板进行测试。

技术实现思路

[0005]为了克服上述的技术问题，本技术的目的在于提供用于集成电路的测试板，通过变距电机带动变距螺杆转动，变距螺杆上的多组凸轮槽带动多组滑块在凸轮槽内部滑动，滑块带动移动板在限位杆上变距移动，调节多组移动板上检测触头之间的间距，方便对不同间距的针脚进行检测，提高对不同集成电路检测的适用性。
[0006]本技术的目的可以通过以下技术方案实现：
[0007]用于集成电路的测试板，包括底座和检测触头，所述底座上固定连接有固定座，所述固定座两侧设置有固定架，所述固定架上设置有变距组件，所述变距组件包括转动连接在固定架内壁上的变距螺杆，所述变距螺杆两侧均设置有限位杆，且限位杆的两端与固定架内壁两侧固定相连，所述限位杆上滑动连接有多组移动板，所述移动板中间底部开设有凹槽，所述凹槽顶部固定连接有滑块，所述滑块滑动连接在变距螺杆内部，所述固定架一侧外壁固定连接有变距电机，所述变距电机输出端贯穿固定架并与变距螺杆相连接，所述移动板远离限位杆的一端上侧安装座，所述检测触头固定连接安装座。
[0008]作为本技术进一步的方案：所述移动板顶部的一侧滑动连接有滑杆，所述安装座固定连接在滑杆顶部，所述滑杆外壁套设有调节弹簧，所述调节弹簧的两端分别与移动板和安装座底部相抵。
[0009]作为本技术进一步的方案：所述底座顶部固定连接有固定块，所述固定块上
滑动连接有压紧杆，所述固定座固定连接在压紧杆顶部，所述压紧杆外壁套设有压紧弹簧，所述压紧弹簧的两端分别与固定座和固定块相抵。
[0010]作为本技术进一步的方案：所述底座顶部固定连接有支撑架，所述支撑架顶部外壁固定连接有气缸，所述气缸输出端贯穿支撑架并固定连接有橡胶块。
[0011]作为本技术进一步的方案：所述底座内部转动连接有双向丝杆，所述双向丝杆上螺纹连接有两组调节块，两组所述调节块上均固定连接有连接板，两组所述固定架分别固定连接在两组连接板侧壁上，所述底座内部一侧固定连接有调节电机，所述调节电机输出端与双向丝杆固定相连。
[0012]作为本技术进一步的方案：所述底座顶部开设有限位槽，两组所述连接板均滑动连接在限位槽内。
[0013]作为本技术进一步的方案：所述检测触头顶部开设有卡槽，所述卡槽用于对竖直针脚进行限位。
[0014]本技术的有益效果：
[0015]1、本技术中，通过变距电机带动变距螺杆转动，变距螺杆上的多组凸轮槽带动多组滑块在凸轮槽内部滑动，滑块带动移动板在限位杆上变距移动，调节多组移动板上检测触头之间的间距，方便对不同间距的针脚进行检测，提高对不同集成电路检测的适用性。
[0016]2、本技术中，通过复位电机带动双向丝杆转动，双向丝杆上的两组调节块通过两组连接板带动两组固定架上变距组件移动，方便对不同长度尺寸型号的集成电路进行检测。
附图说明
[0017]下面结合附图对本技术作进一步的说明。
[0018]图1是本技术主视结构示意图；
[0019]图2是本技术变距组件结构示意图；
[0020]图3是本技术变距组件部分结构示意图；
[0021]图4是本技术中移动板结构示意图；
[0022]图5是本技术中移动板立体结构示意图；
[0023]图6是本技术中固定座和压紧杆连接的结构示意图。
[0024]图中：1、底座；101、支撑架；102、限位槽；2、固定座；201、压紧杆；2011、固定块；202、压紧弹簧；3、固定架；4、变距组件；401、变距螺杆；402、变距电机；403、限位杆；404、移动板；4041、凹槽；4042、滑块；405、安装座；4051、滑杆；4052、调节弹簧；5、检测触头；501、卡槽；6、气缸；601、橡胶块；7、双向丝杆；701、调节电机；702、调节块；703、连接板。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]如图1
‑
图6所示，用于集成电路的测试板，包括底座1和检测触头5，检测触头5用于对集成电路的针脚进行通电检测，底座1上固定连接有固定座2，固定座2两侧设置有固定架3，固定架3上设置有变距组件4，变距组件4包括转动连接在固定架3内壁上的变距螺杆401，变距螺杆401两侧均设置有限位杆403，且限位杆403的两端固定连接在固定架3两侧内壁上，限位杆403上滑动连接有多组移动板404，移动板404中间底部开设有凹槽4041，凹槽4041顶部固定连接有滑块4042，滑块4042滑动连接在变距螺杆401内部，固定架3一侧外壁固定连接有变距电机402，变距电机402输出端贯穿固定架3并与变距螺杆401相连接，移动板404远离限位杆403的一端上侧安装座405，检测触头5固定连接在安装座405顶端，检测触头5跟随移动板404移动，用于对多组检测触头5之间的距离进行调节，方便对不同型号间距针脚的集成电路进行检测，检测触头5顶部开设有卡槽501，卡槽501用于对竖直针脚的集成电路进行限位，提高通电检测的稳定性。
[0027]如图1所示，底座1顶部固定连接有支撑架101，支撑架101顶部外壁固定连接有气缸6，气缸6输出端贯穿支撑架101并固定连接有橡胶块601，气缸6带动橡胶块601向下移动对集成电路进行压紧固定，提高检测的稳本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.用于集成电路的测试板，包括底座(1)和检测触头(5)，其特征在于，所述底座(1)上固定连接有固定座(2)，所述固定座(2)两侧设置有固定架(3)，所述固定架(3)上设置有变距组件(4)，所述变距组件(4)包括转动连接在固定架(3)内壁上的变距螺杆(401)，所述变距螺杆(401)两侧均设置有限位杆(403)，且限位杆(403)的两端与固定架(3)内壁两侧固定相连，所述限位杆(403)上滑动连接有多组移动板(404)，所述移动板(404)中间底部开设有凹槽(4041)，所述凹槽(4041)顶部固定连接有滑块(4042)，所述滑块(4042)滑动连接在变距螺杆(401)内部，所述固定架(3)一侧外壁固定连接有变距电机(402)，所述变距电机(402)输出端贯穿固定架(3)并与变距螺杆(401)相连接，所述移动板(404)远离限位杆(403)的一端上侧安装座(405)，所述检测触头(5)固定连接安装座(405)。2.根据权利要求1所述的用于集成电路的测试板，其特征在于，所述移动板(404)顶部的一侧滑动连接有滑杆(4051)，所述安装座(405)固定连接在滑杆(4051)顶部，所述滑杆(4051)外壁套设有调节弹簧(4052)，所述调节弹簧(4052)的两端分别与移动板(404)和安装座(405)底部相抵。3.根据权利要求1所述的用于集成电路的测试板，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：周蔚，
申请(专利权)人：安徽芯鑫半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：