一种芯片测试机的翻转机构制造技术

本实用新型专利技术涉及一种芯片测试机的翻转机构，属于芯片检测领域，包括底座、支撑架、转动架、夹板和手柄；支撑架对称设置有两个，两个支撑架均设置在底座的上端；转动架转动设置在支撑架的上端；夹板滑动设置在转动架上，转动架上设置有用于驱动夹板移动的夹紧机构；转动架上设置有用于调节夹紧机构夹紧力的调节机构；手柄设置在转动架上，手柄与支撑架转动连接；手柄上设置有卡接机构；手柄通过卡接机构与支撑架卡接。本实用新型专利技术能够无需进行多次装夹，能够将芯片翻转。能够将芯片翻转。能够将芯片翻转。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试机的翻转机构


[0001]本技术涉及芯片检测领域，特别是涉及一种芯片测试机的翻转机构。

技术介绍

[0002]芯片是半导体元件产品的统称，集成电路英语或称微电路、微芯片、晶片/芯片，在电子学中是一种把电路小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上。
[0003]芯片在生产完成后要进行各种测试，需要使用者芯片测试机，现有技术存在的问题是：现有的芯片测试机不便于使用者使用，在对芯片进行测试时，需要对芯片的正反两面进行测试，造成使用者多次对芯片进行拆装，会耗费使用者大量的时间和精力，影响使用者使用，且现有技术中芯片的拆装不方便。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是针对
技术介绍
中存在的问题，提出一种能够无需进行多次装夹，能够将芯片翻转的芯片测试机的翻转机构。
[0005]本技术的技术方案：一种芯片测试机的翻转机构，包括底座、支撑架、转动架、夹板和手柄；
[0006]支撑架对称设置有两个，两个支撑架均设置在底座的上端；转动架转动设置在支撑架的上端；夹板滑动设置在转动架上，转动架上设置有用于驱动夹板移动的夹紧机构；转动架上设置有用于调节夹紧机构夹紧力的调节机构；手柄设置在转动架上，手柄与支撑架转动连接；手柄上设置有卡接机构；手柄通过卡接机构与支撑架卡接。
[0007]优选的，夹紧机构包括导轨、第一弹性件和推板；导轨设置在转动架上，夹板滑动设置在导轨上；推板滑动设置在导轨上，调节机构的输出端与推板连接；第一弹性件设置在导轨的外周侧，第一弹性件的两端分别与推板和夹板连接。
[0008]优选的，调节机构包括转动旋钮和丝杆；转动旋钮设置在丝杆上；转动架上设置有转动槽；丝杆转动设置在转动架上，转动旋钮位于转动槽内；推板与丝杆螺纹连接；夹板与丝杆滑动连接。
[0009]优选的，卡接机构包括卡接杆、第二弹性件和阻挡板；支撑架上设置有卡接槽，卡接槽设置有两个；卡接杆滑动设置在手柄上，卡接杆的一端嵌入设置在一个卡接槽内；卡接杆与支撑架卡接；阻挡板设置在卡接杆上；第二弹性件设置在卡接杆的外周侧，第二弹性件的两端分别与阻挡板和手柄连接。
[0010]优选的，卡接杆位于卡接槽内的一端上设置有倒圆角，卡接杆的另一端上设置有把手。
[0011]优选的，转动架和夹板上均设置有支撑条；两个支撑条位于同一水平高度。
[0012]优选的，转动架上设置有定位板；定位板位于支撑条处。
[0013]与现有技术相比，本技术具有如下有益的技术效果：
[0014]本技术中，通过调节机构驱动夹紧机构移动，夹紧机构推动夹板移动，能够根
据芯片的尺寸进行调整，调整完成后，在进行安装芯片时，朝向夹紧机构的方向推动夹板，使得夹板露出装夹芯片用的空间，将芯片放入到转动架和夹板之间，松开夹板，夹紧机构推动夹板移动，将芯片抵在转动架上，对芯片进行固定和装夹，当芯片的一面测试完成后，拉动卡接杆，卡接杆从卡接槽内移出，使得手柄能够转动，通过卡接杆带动手柄转动，手柄带动转动架转动，将转动架转动半周，使得卡接杆移动到另一个卡接槽内，松开卡接杆，第二弹性件推动阻挡板移动，阻挡板带动卡接杆移动是，使得卡接杆卡入到卡接槽内，对手柄进行固定，从而对转动架进行固定，此时芯片刚好转动半周，芯片的另一面朝上，能够对芯片的另一面进行检测。
附图说明
[0015]图1为本技术中实施例的结构示意图；
[0016]图2为本技术中实施例的结构爆炸图；
[0017]图3为图2中A处的局部放大结构示意图；
[0018]图4为图2中B处的局部放大结构示意图。
[0019]附图标记：1、底座；2、支撑架；201、卡接槽；3、转动架；4、夹板；5、夹紧机构；501、导轨；502、第一弹性件；503、推板；6、调节机构；601、转动旋钮；602、丝杆；7、手柄；8、卡接机构；801、卡接杆；802、第二弹性件；803、阻挡板；9、定位板；10、支撑条。
具体实施方式
[0020]实施例一
[0021]如图1
‑
4所示，本技术提出的一种芯片测试机的翻转机构，包括底座1、支撑架2、转动架3、夹板4和手柄7；
[0022]支撑架2对称设置有两个，两个支撑架2均设置在底座1的上端；转动架3转动设置在支撑架2的上端；夹板4滑动设置在转动架3上，转动架3上设置有用于驱动夹板4移动的夹紧机构5；转动架3上设置有用于调节夹紧机构5夹紧力的调节机构6；手柄7设置在转动架3上，手柄7与支撑架2转动连接；手柄7上设置有卡接机构8；手柄7通过卡接机构8与支撑架2卡接。
[0023]卡接机构8包括卡接杆801、第二弹性件802和阻挡板803；支撑架2上设置有卡接槽201，卡接槽201设置有两个；卡接杆801滑动设置在手柄7上，卡接杆801的一端嵌入设置在一个卡接槽201内；卡接杆801与支撑架2卡接；阻挡板803设置在卡接杆801上；第二弹性件802设置在卡接杆801的外周侧，第二弹性件802的两端分别与阻挡板803和手柄7连接。
[0024]卡接杆801位于卡接槽201内的一端上设置有倒圆角，卡接杆801的另一端上设置有把手；把手能够方便拉动卡接杆801，倒圆角能够方便卡接杆801插入到卡接槽201内，对手柄7进行限位。
[0025]转动架3和夹板4上均设置有支撑条10；两个支撑条10位于同一水平高度。转动架3上设置有定位板9；定位板9位于支撑条10处；通过定位板9能够对芯片进行定位，在安装芯片时，通过支撑条10能够对芯片进行初步支撑，防止芯片从转动架3上掉落，方便安装。
[0026]本实施例中，通过调节机构6驱动夹紧机构5移动，夹紧机构5推动夹板4移动，能够根据芯片的尺寸进行调整，调整完成后，在进行安装芯片时，朝向夹紧机构5的方向推动夹
板4，使得夹板4露出装夹芯片用的空间，将芯片放入到转动架3和夹板4之间，松开夹板4，夹紧机构5推动夹板4移动，将芯片抵在转动架3上，对芯片进行固定和装夹，当芯片的一面测试完成后，拉动卡接杆801，卡接杆801从卡接槽201内移出，使得手柄7能够转动，通过卡接杆801带动手柄7转动，手柄7带动转动架3转动，将转动架3转动半周，使得卡接杆801移动到另一个卡接槽201内，松开卡接杆801，第二弹性件802推动阻挡板803移动，阻挡板803带动卡接杆801移动是，使得卡接杆801卡入到卡接槽201内，对手柄7进行固定，从而对转动架3进行固定，此时芯片刚好转动半周，芯片的另一面朝上，能够对芯片的另一面进行检测。
[0027]实施例二
[0028]如图1
‑
4所示，本技术提出的一种芯片测试机的翻转机构，相较于实施例一，本实施例中的夹紧机构5包括导轨501、第一弹性件502和推板503；导轨501设置在转动架3上，夹板4滑动设置在导轨501上；推板503滑动设置在导轨501上，调节机构6的输出端与推板503连接；第一弹性件502设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试机的翻转机构，其特征在于，包括底座(1)、支撑架(2)、转动架(3)、夹板(4)和手柄(7)；支撑架(2)对称设置有两个，两个支撑架(2)均设置在底座(1)的上端；转动架(3)转动设置在支撑架(2)的上端；夹板(4)滑动设置在转动架(3)上，转动架(3)上设置有用于驱动夹板(4)移动的夹紧机构(5)；转动架(3)上设置有用于调节夹紧机构(5)夹紧力的调节机构(6)；手柄(7)设置在转动架(3)上，手柄(7)与支撑架(2)转动连接；手柄(7)上设置有卡接机构(8)；手柄(7)通过卡接机构(8)与支撑架(2)卡接。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试机的翻转机构，其特征在于，夹紧机构(5)包括导轨(501)、第一弹性件(502)和推板(503)；导轨(501)设置在转动架(3)上，夹板(4)滑动设置在导轨(501)上；推板(503)滑动设置在导轨(501)上，调节机构(6)的输出端与推板(503)连接；第一弹性件(502)设置在导轨(501)的外周侧，第一弹性件(502)的两端分别与推板(503)和夹板(4)连接。3.根据权利要求2所述的一种芯片测试机的翻转机构，其特征在于，调节机构(6)包括转动旋钮(601)和丝杆(602)；转动旋钮(601)设置在丝杆(602)上；转动架(3)...

【专利技术属性】
技术研发人员：李勇，刘湘鹏，刘振华，
申请(专利权)人：深圳市聚芯力科技有限公司，
类型：新型
国别省市：