激光跟踪仪姿态测量校准装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种激光跟踪仪姿态测量校准装置。该装置包括姿态测量靶标和二维精密转台；所述二维精密转台包括转台主体、俯仰轴和横滚轴，所述俯仰轴转动连接于所述转台主体的上方，所述横滚轴的一端转动连接于所述俯仰轴，所述姿态测量靶标连接于所述横滚轴的另一端；所述横滚轴和所述俯仰轴沿轴向相互垂直。本实用新型专利技术有效地降低了精密转台的设计要求，降低了制造成本，减少了转台的误差传递链，并提高了二维精密转台的测量精度和稳定性。并提高了二维精密转台的测量精度和稳定性。并提高了二维精密转台的测量精度和稳定性。

【技术实现步骤摘要】
激光跟踪仪姿态测量校准装置


[0001]本技术涉及几何测量测试
，尤其涉及一种激光跟踪仪姿态测量校准装置。

技术介绍

[0002]激光跟踪仪是一种高端通用的超大尺寸空间几何精密测量仪器，其测量精度是大型零部件空间位姿测量的前提，而如何准确校准仪器的测量精度是保证大型高端装备制造质量的关键。
[0003]对此，在相关技术例如专利号为CN213874338U的专利中，利用三维转台构建了姿态校准装置，然而三维转台的缺陷包括加工成本高、制造周期长、体积大、误差源多，再加上多轴之间的正交性很难实现高精度装配。此外，复杂的转台三轴联动的伺服控制会产生多轴运动机构的振动传递，进而导致转台的稳定性下降。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本技术的目的在于提出一种激光跟踪仪姿态测量校准装置。
[0005]基于上述目的，本技术提供了一种激光跟踪仪姿态测量校准装置，包括：
[0006]姿态测量靶标和二维精密转台；所述二维精密转台包括转台主体、俯仰轴和横滚轴，所述俯仰轴转动连接于所述转台主体的上方，所述横滚轴的一端转动连接于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光跟踪仪姿态测量校准装置，其特征在于，包括姿态测量靶标和二维精密转台；所述二维精密转台包括转台主体、俯仰轴和横滚轴，所述俯仰轴转动连接于所述转台主体的上方，所述横滚轴的一端转动连接于所述俯仰轴，所述姿态测量靶标连接于所述横滚轴的另一端；所述横滚轴和所述俯仰轴沿轴向相互垂直。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述姿态测量靶标包括连接平面、第一部分和第二部分以及设置在所述第一部分和第二部分之间的中间部位；所述中间部位的高度大于所述第一部分和所述第二部分的高度；所述连接平面通过螺栓固定连接于所述第一部分和所述第二部分。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述第一部分、所述第二部分和所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张刘港，高豆豆，董登峰，崔成君，周培松，蒋海涛，敖俊姣，甘晓旺，王国名，王博，朱志忠，程智，李洋，高超，
申请(专利权)人：海宁中科宏微科技有限公司，
类型：新型
国别省市：